An, Ho-Joong;Lee, Gae-Hun;Kil, Gyu-Hyun;Song, Yun-Heup
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2010.02a
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pp.250-250
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2010
The random telegraph signal (RTS) for the NOR flash cell scaling is investigated. An innovative method to suppress the RTS, based on the device engineering, is proposed. By optimizing the channel doping profile and using the high-k tunnel dielectric, it is confirmed from three-dimensional (3-D) simulation, that the $V_{th}$ amplitude, dueto RTS, is significantly suppressed, from approximately 0.5 to 0.07 V in the middle of the channel at 45 nm NOR Flash technology. From this result, it is expected that the proposed method to suppress the RTS amplitude is essential for further cell size scaling in Flash memory.
Recently, enterprise storage systems that require large-capacity storage devices to accommodate big data have used large-capacity flash memory-based storage devices with high density compared to cost and size. This paper proposes a high-efficiency life prediction method with slope descent to maximize the life of flash memory media that directly affects the reliability and usability of large enterprise storage devices. To this end, this paper proposes the structure of a matrix for storing metadata for learning the frequency of defects and proposes a cost model using metadata. It also proposes a life expectancy prediction policy in exceptional situations when defects outside the learned range occur. Lastly, it was verified through simulation that a method proposed by this paper can maximize its life compared to a life prediction method based on the fixed number of times and the life prediction method based on the remaining ratio of spare blocks, which has been used to predict the life of flash memory.
JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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v.17
no.1
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pp.147-155
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2017
A new endurance test-pattern generation on NAND-flash memory is proposed to improve test cost. We mainly focus on the correlation between the data-pattern and the device error-rate during endurance testing. The novelty is the development of testing method using quasi-random pattern based on device architectures in order to increase the test efficiency during time-consuming endurance testing. It has been proven by the experiments using the commercial 32 nm NAND flash-memory. Using the proposed method, the error-rate increases up to 18.6% compared to that of the conventional method which uses pseudo-random pattern. Endurance testing time using the proposed quasi-random pattern is faster than that of using the conventional pseudo-random pattern since it is possible to reach the target error rate quickly using the proposed one. Accordingly, the proposed method provides more low-cost testing solutions compared to the previous pseudo-random testing patterns.
The flash point is one of the most important parameters used to characterize the ignition and explosion hazards of liquids. Flash points were measured for several binary systems containing toluene, including {methanol+toluene}, {ethanol+toluene}, and {1-propanol+toluene}. Experiments were performed according to the standard test method using a SETA closed cup flash point tester. The measured flash points were compared with the predicted values calculated using the following $G^E$ models: Wilson, NRTL, and UNIQUAC. The average absolute deviation between the predicted and measured lower flash point was less than 1.69 K.
The purpose of this study is to estimate the critical flood discharge and flash flood trigger rainfall for alarm system providing for a flash flood in mountainous area. The flash flood need non-linear approaching method, because rainfall-runoff is nonlinear and it is difficult to explain the existing linear rainfall-runoff. Hydrological characteristics would be utilized to apply such as hydrologic modelling or basin management. This study was effectively estimated a topographic characteristic factor of basin using the GIS. Especially, decided stream order using GIS at stream order decision that is important for input variable of GCIUH. A flash floods defined as a flood which follows shortly after a heavy or excessive rainfall event, with a few hours. In this study, we gave a definition that a critical flood for alarm is the flood when valley depth judging dangerous depth is over 0.5m depth from the bottom of channel. Result that calculate threshold discharge to use GCIUH, at the Mureung valley basin, flash flood trigger rainfall was 16.34mm in the first 20minutes when the threshold discharge was $14.54m^3/sec$.
Kang, Seok Hun;Kim, In Gyoo;Kim, Bit-Na;Sul, Ji Hwan;Kim, Young Sun;You, In-Kyu
ETRI Journal
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v.40
no.2
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pp.275-282
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2018
Flash reduction of graphene oxide is an efficient method for producing high quality reduced graphene oxide under room temperature ambient conditions without the use of hazardous reducing agents (such as hydrazine and hydrogen iodide). The entire process is fast, low-cost, and suitable for large-scale fabrication, which makes it an attractive process for industrial manufacturing. Herein, we present a simple fabrication method for a flexible in-plane graphene micro-supercapacitor using flash light irradiation. All carbon-based, monolithic supercapacitors with in-plane geometry can be fabricated with simple flash irradiation, which occurs in only a few milliseconds. The thinness of the fabricated device makes it highly flexible and thus useful for a variety of applications, including portable and wearable electronics. The rapid flash reduction process creates a porous graphene structure with high surface area and good electrical conductivity, which ultimately results in high specific capacitance ($36.90mF\;cm^{-2}$) and good cyclic stability up to 8,000 cycles.
As NAND flash storage is being widely used, its simulation methodologies have been studied in various aspects such as performance, reliability, and endurance. As a result, there have been advances in NAND flash storage simulation for both functional modeling and timing modeling. However, in addition to these advances, there is a need to drastically reduce the long simulation time that is required to evaluate the aging effect on flash storage. This paper proposes a so-called multi-core scalable real-time flash storage simulation method, which can control the simulation speed according to the user's preference. According to this method, it is possible to speed up the simulation in proportion to the number of CPU cores arbitrarily given while guaranteeing the correctness of the simulation result. Using our simulator implemented in the form of the Linux kernel module, we demonstrate the multi-core scalability and correctness of the proposed method.
We propose a new way of managing flash memory space for flash memory-specific file system based on log-structured file system. Flash memory has attractive features such as non-volatility, and fast I/O speed, but it also suffers from inability to update in place and limited usage cycles. These drawbacks require many changes to conventional storage (file) management techniques. Our focus is on lowering cleaning cost and evenly utilizing flash memory cells while maintaining a balance between the two often-conflicting goals. The proposed cleaning method performs well especially when storage utilization and the degree of locality are high. The cleaning efficiency is enhanced by dynamically separating cold data and non-cold data. The second goal, cycle-leveling is achieved to the degree where the maximum difference between erase cycles is below the error range of the hardware. Simulation results show that the proposed method has significant benefit over naxve methods: maximum of 35% reduction in cleaning cost with even spreading writes across segments.
Flash Memory differs from the hard disk, because it cannot be overwritten. Most of the flash memory file systems use not-in-place update mechanisms for the update. Flash memory file systems execute sometimes block cleaning process in order to make writable space while performing not-in-place update process. Block cleaning process collects the invalid pages and convert them into the free pages. Block cleaning process is a factor that affects directly on the performance of the flash memory. Thus this paper suggests the efficient page allocation method, which reduces block cleaning cost by minimizing the numbers of block that has valid and invalid pages at a time. The result of the simulation shows an increase in efficiency by reducing more block cleaning costs than the original YAFFS.
Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
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v.20
no.12
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pp.2282-2288
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2016
Security key generation method by hardware or software related techniques have been variously proposed. This study analyzed the existing security key generation techniques, and propose the design of a new NAND Bad block based security key(NBSK) using a Bad Block information in the NAND flash memory, and propose a new encryption method using the same. Bad Block present in the NAND flash memory is also generated during production and sometimes occur during operations. Initial Bad Block information generated during production is not changed, Bad Block information that may occur during operation has a characteristic that can be changed periodically. This study is designed of the new secure key using initial Bad Block information physical address generated during manufacturing a NAND flash memory, and proposed of the new encryption method. With the proposed key and method can satisfy the general security characteristics, such as the creation and distribution of the secure key authentication and confidentiality and the simplicity of the security key.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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