Water-vapor permeation through metallic barriers deposited on polymer substrates has been an important technological issue because the performance of the barrier is critical to the reliability of flexible organic devices. For the development of long-lifetime flexible organic devices, two different sets of samples were designed and demonstrated from the viewpoint of the water-vapor transmission rate (WVTR). Aluminum (Al) and polyethylene terephthalate (PET) were chosen for the barrier layer and the polymer substrate, respectively. Two stacking structures, a single-layer (Al/PET) structure and a double-layer (Al/PET/Al) structure, were used for the WVTR measurement. For the single-layer structure, the WVTR decreases as the thickness of the barrier layer increases. Compared to the single-layer sample, the double-layer sample showed superior WVTR performance (by nearly three times) when the total thickness of the Al barrier was greater than 100 nm.
To compare the water vapor transmission rate (WVTR) of PVA/Dextran blended hydrogel obtained by European Pharmacopiea (EP) and Japanese Industrial Standards 1099 (JIS) method, the hydrogels with various PVA/Dextran rates were prepared and their WVTR values were then checked. As dextran in the hydrogel was increased, the WVTR of hydrogel was increased. The WVTR of hydrogels were 660-1500 and $730-1900\;g/m^2$-day in EP and JIS method, respectively. There were no significant differences between the WVTRs of the hydrogels obtained by EP and those obtained by JIS method. Thus, JIS method was recommended as a WVTR method of hydrogel due to relatively simpler and shorter time.
Kim, Jeong-Yong;Park, Gyu-Dae;Song, Ye-Seul;Lee, Hui-Jin;Vu, Minh Canh;Kim, Seong-Ryong
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2016.02a
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pp.303.1-303.1
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2016
Polymer-like amorphous carbon films were deposited on polyethylene naphthalate (PEN) substrate by plasma-enhanced chemical vapor deposition (PECVD) and their water vapor transmission rates (WVTR) were tested. propane was used as precursors. To make a polymer-like amorphous carbon film the deposition rate, surface roughness, light transmittance, and WVTR of the films were characterized as a function of the precursor feed ratio and plasma power. The water vapor transmission rates of bare PEN film and single layer PAC on PEN substrate were 6.95 g/m2/day and 0.3 g/m2/day, respectively. The superior property the water vapor permeability of thin layers of PAC was attributed to uniform coverage and good adhesion between PAC film and PEN substrate.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2016.02a
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pp.180-180
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2016
최근 디스플레이 시장의 주요 키워드는 flexible organic light emitting diode (OLED) 이다. OLED 소자의 수명을 결정하는 가장 큰 요인 중의 하나는 공기 중의 O2와 H2O에 의한 유기물의 열화이다. 따라서 공기 중의 O2나 H2O가 유기물에 쉽게 침투하는 것을 막는 것은 소자의 수명 향상을 위하여 필수적이라 할 수 있다[1-3]. SiNx 박막은 경질로 투과성이 우수하며, 화학적 불활성인 특성으로 이러한 Barrier 역할로 연구되어 산업분야에 다양하게 응용되고 있다[4]. SiNx 박막은 일반적으로 plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD) 기술을 이용하여 증착되는데 기존의 PECVD 기술을 이용한 SiNx 박막은 낮은 water vapor transmission rate (WVTR) 등의 문제점들로 인해 한계점이 들어났다. 본 연구에서는, flexible display의 thin film encapsulation (TFE) 공정에서의 적용을 알아보기 위해 $370{\times}470$ size를 증착할 수 있는 In-line 장비를 이용하였으며, 기존의 PECVD 기술의 문제점으로 지적되고 있는 낮은 WVTR을 해결하기 위하여 저온 (<$100^{\circ}C$) 선형 PECVD 기술을 이용하여 WVTR을 개선하고자 하였다. 공정가스로는 SiH4와 NH3를 사용하였으며, SiH4 Carrier 가스로 He을 추가적으로 사용하였다. 또한 공정 압력은 100mTorr를 유지하였다. 증착된 SiNx 박막의 물리적, 화학적 특성 분석을 위해 분광엘립소메타, field emission electron microscopy (FESEM), X-ray diffraction (XRD), Rutherford backscattering spectrometry (RBS) 등을 이용하여 측정하였으며, 박막에 투습되는 수분의 양은 MOCON사의 AQUATRAN 2(W)로 측정하였다. OLED 소자를 구현하기 위해서는 기본적으로 봉지층에 투습되는 양을 $10-6g/m2{\cdot}day$ 이하로 막아줘야 한다고 알려져 있으나, 기존의 PECVD 기술을 이용하여 제작된 SiNx 박막의 WVTR은 $10-2{\sim}10-3g/m2{\cdot}day$ 레벨의 WVTR 결과를 보이고 있다. 본 연구에서 사용된 저온 선형 PECVD 기술을 이용하여 제작된 SiNx 박막의 WVTR은 $5.0{\times}10-5g/m2{\cdot}day$ 이하의 개선된 결과를 확인 할 수 있었다. 또한 flexible display에 적용하기 위해 SiNx 박막의 두께를 최소화한 100nm의 두께에서도 WVTR은 $5.0{\times}10-5g/m2{\cdot}day$ 이하의 결과가 유지됨을 알 수 있었다.
In this paper, the optical and electrical properties of ytterbium films were studied for water vapor transmission rate (WVTR) analysis of encapsulation films used in organic electronic devices. Ytterbium thin films show a wide range of light transmittance (70-10%) and resistivity ($6.0-0.16m{\Omega}{\cdot}cm$) depending on various film thicknesses (20-100 nm). The Yb thin films were oxidized with moisture and its transmittance and resistance changed in real time. As a result, the WVTR of parylene and aluminum nitride (AlN) laminated thin encapsulation film was measured to be $4.3{\times}10^{-3}g/m^2{\cdot}day$ with the 25 nm thick ytterbium thin film.
The Journal of the Korea institute of electronic communication sciences
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v.5
no.1
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pp.81-87
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2010
In this paper, we have fabricated $SiO_2$ oxidation thin films by HDP-CVD(high density plasma-chemical vapor deposition) method for passivation layer or barrier layer of OLED(organic light emitting diode). We have control and estimate the deposition rate and relative index characteristics with process parameters and get optimized conditions. They are gas flow rate($SiH_4:O_2$=30:60[sccm]), 70 [mm] distance from source to substrate and no-bias. The WVTR(water vapor transmission rate) is 2.2 [$g/m^2$_day]. Therefore fabricated thin film can not be applied as passivation layer or barrier layer of OLED.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.17
no.4
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pp.432-438
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2004
In this study, we investigated the WVTRs Properties of inorganic thin composite films(ITCFs) to be newly adopted as the passivation layer of the OLED to replace the inorganic compound material Because we thought that inorganic compound materials were limited to enhance the barrier property of thin film. So, ITCFs were fabricated by mixing the cooperated material with the base material. And then, ITCFs were deposited onto the plastic substrate using the electron beam evaporation system and the water vapor transmission rates(WVTRs) were measured using the Mocon equipment. As a result of the WVTR measurement, we could analyze the WVTR values for various ITCFs. ITCFs had a remarkably lower value than the inorganic compound film. Through the analysis of thin film, we can understand the crystal structure and mixed amount. Therefore, ITCFs can be used as the inorganic passivation layers of OLED with the inorganic compound film.
Proceedings of the Materials Research Society of Korea Conference
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2012.05a
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pp.110.1-110.1
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2012
Recently, advances in ZnO based oxide semiconductor materials have accelerated the development of thin-film transistors (TFTs), which are the building blocks for active matrix flat-panel displays including liquid crystal displays (LCD) and organic light-emitting diodes (OLED). However, the electrical performances of oxide semiconductors are significantly affected by interactions with the ambient atmosphere. Jeong et al. reported that the channel of the IGZO-TFT is very sensitive to water vapor adsorption. Thus, water vapor passivation layers are necessary for long-term current stability in the operation of the oxide-based TFTs. In the present work, $Al_2O_3$ and $TiO_2$ thin films were deposited on poly ether sulfon (PES) and $SnO_x$-based TFTs by electron cyclotron resonance atomic layer deposition (ECR-ALD). And enhancing the WVTR (water vapor transmission rate) characteristics, barrier layer structure was modified to $Al_2O_3/TiO_2$ layered structure. For example, $Al_2O_3$, $TiO_2$ single layer, $Al_2O_3/TiO_2$ double layer and $Al_2O_3/TiO_2/Al_2O_3/TiO_2$ multilayer were studied for enhancement of water vapor barrier properties. After thin film water vapor barrier deposited on PES substrate and $SnO_x$-based TFT, thin film permeation characteristics were three orders of magnitude smaller than that without water vapor barrier layer of PES substrate, stability of $SnO_x$-based TFT devices were significantly improved. Therefore, the results indicate that $Al_2O_3/TiO_2$ water vapor barrier layers are highly proper for use as a passivation layer in $SnO_x$-based TFT devices.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2012.08a
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pp.394-394
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2012
We fabricated organic-inorganic superlattice films using molecular layer deposition (MLD) and atomic layer deposition (ALD). The MLD is a gas phase process in the vacuum like to atomic layer deposition (ALD) and also relies on a self-terminating surface reaction of organic precursor which results in the formation of a monolayer in each sequence. In the MLD process, 'Alucone' is very famous organic thin film fabricated using MLD. Alucone layers were grown by repeated sequential surface reactions of trimethylaluminum and ethylene glycol at substrate temperature of $80^{\circ}C$. In addition, we developed UV-assisted $Al_2O_3$ with gas diffusion barrier property better than typical $Al_2O_3$. The UV light was very effective to obtain defect-free, high quality $Al_2O_3$ thin film which is determined by water vapor transmission rate (WVTR). Ellipsometry analysis showed a self-limiting surface reaction process and linear growth of each organic, inorganic film. Composition of the organic films was confirmed by infrared (IR) spectroscopy. Ultra-violet (UV) spectroscopy was employed to measure transparency of the organic-inorganic superlattice films. WVTR is calculated by Ca test. Organic-inorganic superlattice films using UV-assisted $Al_2O_3$ and alucone have possible use in gas diffusion barrier for OLED.
Journal of Korea Technical Association of The Pulp and Paper Industry
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v.33
no.4
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pp.15-20
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2001
The function of the moisture-proof paper is to prevent moisture from adsorbing into the packed goods. Water-vapor transmission rate of the moisture-proof paper should be less than 100g/$m^2$.24hr and the optimum rate would be less than 50g/$m^2$.24hr. In general the moisture-proof paper has been made by laminating polyethylene or polypropylene on top of the base paper. However this kind of moisture-proof paper has a problem in recycling so that it brings about environmental pollution. In general the moisture-proof paper has been made by laminating polyethylene or polypropylene on top of the base paper. However this kind of moisture-proof paper has a problem in recycling so that it brings about environmental pollution. The purpose of this paper was to make moisture-proof paper using the mixture of SB latex and wax emulsion which was recyclable and environmentally friendly. Water vapor transmission rate showed less than 50g/$m^2$.24hr in mixture ratio of 85:15, 87:13, 90:10. Especially the mixture ratio of 87:13 showed the most favorable water-vapor transmission rate. However, the moisture-proof layer was destroyed slightly by folding in packing. It has been observed that there was no close relationship between water-vapor transmission rate of the moisture-proof paper and grammage of the base paper, but the density of base paper had influenced on water vapor transmission rate. It was also observed that the moisture-proof paper could be recycled. The moisture-proof paper was similar to base paper in degree of the pulping, and there was no significant difference in dispersion between moisture-proof paper and base paper. Most of wax particles which caused the spots during drying process could be removed by flotation process. Tensile strength and tear strength of both moisture-proof paper and base paper after pulping were measured to examine the fiber bonding, and no significant difference in physical properties was observed.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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