• 대한전자공학회논문지SD
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• 제43권7호
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• pp.38-49
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• 2006

본 논문에서는 SoC를 검증 및 테스트하기 위한 새로운 개념의 칩을 제안하고 이를 SwToC(System with Test on a Chip)라 명명한다. SwToC는 SoC의 임베디드 프로세서에 재구성 가능한 로직을 추가하여 칩의 물리적인 결함을 테스트할 수 있을 뿐만 아니라 기존의 기법으로는 수행이 어려웠던 테스트 단계에서의 디자인 검증이 가능하도록 한 칩을 말한다. 제안한 개념의 칩은 고속 검증이 가능하며 테스트를 위해 많은 비용이 소모되는 ATE 가 불필요한 장점을 갖고 있다. 제안한 칩의 디자인 검증 및 테스트 기능을 평가하기 위하여 임베디드 프로세서가 내장된 상용 FPGA를 이용하여 SwToC를 구현하였으며, 구현 결과 제안한 칩의 실현 가능성을 확인하였고 적은 비용의 단말기를 통한 테스트가 가능함은 물론 기존의 검증기법에 비해 고속 검증이 가능함을 확인하였다.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제41권8호
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• pp.9-16
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• 2004

여러 개의 IP 코아로 구성된 SoC(System-on-a-Chip)를 위해, 테스트 래퍼와 스캔 체인의 다양한 연결구성이 가능한 테스트 기술이 제안되고 있다. 본 논문에서는, 테스트 래퍼와 스캔 체인을 효과적으로 재구성하며 테스트 할 수 있는 새로운 SoC 테스트 접근 기법을 소개한다. IEEE 1149.1 및 P1500 기반의 테스트 래퍼를 위해 테스트 래퍼 제어기인 WCLM(Wrapped Core Linking Module)과, WCLM과 맞물려 코아 내부의 스캔 체인에 효과적으로 접근 가능한 TAM(Test Access Mechnism) 구조를 제안한다.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제45권2호
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• pp.93-100
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• 2008

본 논문에서는 NoC 기반 SoC의 테스트 시간을 감소시키기 위하여 NoC를 TAM으로 재활용하는 구조를 바탕으로 하는 새로운 형태의 스케줄링 알고리즘을 제안한다. 제안한 방식에서는 기존 연구된 NoC 테스트 플랫폼을 사용하여 스케줄링 문제를 rectangle packing 문제로 변환하고 이를 simulated annealing(SA) 기법을 적용하여 향상된 스케줄링 결과를 유도한다. ITC'02 벤치회로를 이용한 실험 결과 제안한 방법이 기존 방법에 비해 최대 2.8%까지 테스트 시간을 줄일 수 있음을 확인하였다.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제40권1호
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• pp.52-60
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• 2003

IEEE 1149.1 경계스캔 IP 코아로 설계된 시스템 칩(SoC)을 테스트하기 위하여 각 코아 간의 다양한 연결을 가능하게 하는 설계 기술이 IBM과 TI 등에서 제안되었다. 본 논문은 기존에 제안된 방식의 문제점을 분석하고 IEEE 1149.1 경계스캔 뿐만 아니라 IEEE P1500 래퍼 코아가 포함된 시스템 칩에서 사용할 수 있는 새로운 구조를 제안한다. 본 설계 기술은 최소한의 추가영역으로 코아의 설계변경 없이 IEEE표 1149.1 표준과 호환성을 유지하면서 확장성을 갖고 계층적으로 테스트 접근을 할 수 있다는 장점이 있다.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제41권3호
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• pp.93-100
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• 2004

시스템 온 칩의 테스트 스케줄링은 제한된 전력 사용량 내에서 테스트 시간을 최소화하기 위한 방법들 가운데 하나로서 매우 중요하다. 본 논문에서는 테스트 자원들을 선택하여 그룹화하고 코어 기반 시스템 온 칩 전체 전력소비량을 고려하면서 테스트 시간과 전력소모량의 곱의 크기에 기초하여 이들을 배열하여 스케줄링 하는 휴리스틱 알고리듬을 제안한다. 전력소모량은 최대이면서 제한된 전력 소모량을 초과하지 않는 테스트 자원 그룹을 먼저 선택하고 테스트 자원 그룹 내 요소들의 테스트 시작 위치를 테스트 공간의 초기 위치에 배치하여 테스트 자원들의 낭비시간을 최소화한다. ITC02 벤치마크 회로를 사용한 실험을 통해 알고리듬의 유효성을 보인다.

• 한국정보전자통신기술학회논문지
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• 제3권3호
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• pp.3-7
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• 2010

SoC와 같은 고밀도 반도체 메모리의 신호선 사이의 간격이 급속히 좁아짐에 따라 고장 발생률 또한 증가하여 이를 위한 효과적인 테스트 기법이 요구되고 있다. 본 논문에서는 테스트의 복잡도와 시간을 줄일 수 있도록 임베디드 DRAM의 내부에 내장할수 있는 SRAM의 구조를 제안한다. 제안하는 테스트 구조를 사용하면 메모리 테스트를 싱글 포트 메모리에 대한 테스트로 처리하므로써 높은 테스트 복잡도 없이 듀얼 포트 메모리의 읽고 쓰는 동작을 동시에 수행하는 것이 가능하므로 테스트 시간을 단축시킬 수 있다.

• 대한전기학회논문지:시스템및제어부문D
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• 제52권3호
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• pp.156-162
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• 2003

For a System-on-a-Chip(SoC) comprised of multiple IP cores, various design techniques have been proposed to provide diverse test link configurations. In this paper, we introduce a new instruction based Wrapped Core Linking Module(WCLM) that enables systematic integration of IEEE 1149.1 TAP'd cotes and P1500 wrapped cores with requiring least amount of area overhead compared with other state-of-art techniques. The design preserves compatibility with standards and scalability for hierarchical access.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제43권10호
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• pp.140-150
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• 2006

본 논문은 SOC 내부의 다양한 코어들을 효율적으로 테스트하기 위한 하드웨어 구조에 초점을 두고 있다. 기존의 한 번에 한 개의 코어만을 순차적으로 테스트하는 방식은 많은 테스트 시간을 요구한다. 이를 보완하고자 본 논문에서는 병렬적으로 여러 코어를 테스트할 수 있는 S-TAM 구조 및 컨트롤러를 제안한다. S-TAM 구조는 테스트 버스 공유 방식을 이용하여 브로드캐스트 방법을 지원하며 이를 기반으로 하여 임의의 코어만을 선택적으로 테스트할 수도 있다. 이뿐 아니라 S-TAM 컨트롤러는 IEEE 1149.1 및 IEEE 1500 등과 같은 서로 상이한 테스트 기반을 통해 구현된 다양한 코어들을 동시에 제어함으로써 효과적인 SOC 테스트를 가능하게 한다.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제44권11호
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• pp.109-118
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• 2007

SoC의 집적도와 동작 속도의 증가로 인하여 지연 고장 테스트의 중요성이 더욱 커지고 있다. 본 논문은 천이 지연 고장 테스트를 지원하는 개선된 IEEE 1500 래퍼 셀 구조와 IEEE 1149.1 TAP 제어기를 이용하기 위한 인터페이스 회로를 제시하고 이를 이용한 테스트 방법을 제안 한다. 제안 하는 셀 구조는 한 번의 테스트 명령어를 이용하여 상승 지연 고장 테스트와 하강 지연 고장 테스트를 연속적으로 수행 할 수 기능을 유지하면서 기존의 셀 구조에 비하여 적은 면적 오버헤드를 가지며 테스트 시간을 줄일 수 있다. 또한 다른 클럭으로 동작하는 코어에 대한 테스트를 동시에 수행 할 수 있다.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제45권4호
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• pp.105-116
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• 2008

오늘날의 시스템-온-칩(SoC)은 짧은 제품 생산 주기를 맞추기 위하여 재사용 가능한 IP 코아들을 이용하여 설계한다. 그러나 고집적 칩을 생산하는데 있어 증가한 칩의 테스트 비용은 큰 문제가 된다. 본 논문에서는 Advanced High-performance Bus(AHB)와 Peripheral Component Interconnect(PCI) 버스를 위한 온/오프-칩 버스 브리지를 이용한 효율적인 테스트 접근 메커니즘을 제시한다. 본 기술은 독립적인 테스트 입력 경로와 출력 경로를 제공하고 버스 방향 전환을 위한 턴어라운드 지연시간을 없앰으로써 테스트 시간을 매우 줄였다. 실험 결과는 면적 오버헤드와 기능적 구조적 테스트 모두 에서의 시간이 줄어들었음을 보여준다 제안하는 기술은 다른 종류의 온/오프-칩 버스 브리지에도 적용 가능하다.