$\textrm{I}_{DDQ}$ 테스팅을 위한 빠른 재장형 전류감지기
(Fast built-in current sensor for $\textrm{I}_{DDQ}$ testing)
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- 대한전자공학회:학술대회논문집
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- 대한전자공학회 1998년도 하계종합학술대회논문집
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- pp.811-814
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- 1998