• 한국컴퓨터정보학회논문지
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• 제4권1호
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• pp.28-37
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• 1999

본 논문에서는 클록 입력을 갖는 대표적인 회로인 5비트 카운터를 대상회로로 선정하여 경계면 스캔 구조를 적용하고, 대상회로에 대한 지연시험을 위한 새로운 시험 구조와 지연시험 절차를 개발하였다. 지연시험 대상회로가 클록 입력을 갖는 경우, 기존의 경계면 스캔 구조에서는 동일한 패턴의 중복 입력, 클록 입력과 데이터 입력과의 시간 간격과, 패턴 입력과 응답값 캡쳐까지의 시간 문제에 의해 적절치 않음을 보였다. 본 논문에서 제안하는 지연 시험 구조는 클록 계수 발생기를 사용하여 연속 발생시킬 클록의 개수를 입력받아 이를 대상회로의 클록 입력에 적용하여 대상회로에 대한 입력 패턴의 중복문제를 해결하였다. 또한 시스템 클록을 TCK로 사용하여 대상회로를 정상 속도에서 동작할 수 있도록 하였다. 연속적인 클록 발생에 TCK를 사용함으로써 대상회로를 정상 속도에서 검증할 수 있다. 제안된 시험 구조와 절차는 대상회로에 대한 타이밍 시뮬레이션을 통해 동작의 정확성을 확인하였다.

• 경영정보학연구
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• 제3권2호
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• pp.277-288
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• 2001

Of critical importance to the success of any e-commerce site are the two factors: rapid application development and quick response time. A three-tier architecture composed of presentation layer, business layer, and data access layer emerges to allow rapid changes in user interface, business logic, and database structures. Too often, such a logical three-tier architecture is considered as requiring a three-tier physical architecture: Web server, application server, and database server running on separate computers. Contrary to the common belief, a Web stress test reveals that the three-tier logical architecture implemented on a two-tier physical platform guarantees a quicker response time due to the reduction in cross-machine communications. This would lead business firms to economize their spending on e-commerce: increasing the number of physical servers to expedite transaction is not necessarily the best solution. Before selecting a particular hardware configuration, a Web stress test needs to be conducted to compare the relative merits of alternative physical architectures. Together with capacity planning, Web stress test emerges as a powerful tool to build robust, yet economical e-commerce sites.

• 한국군사과학기술학회지
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• 제27권2호
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• pp.203-212
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• 2024

This paper describes the establishment of defense systems test works architecture model for the efficient operation of an expanded test organization and the provision of standardized test services after the integration of proving grounds in ADD. The system engineering vee model is applied to the defense system test works to define the project management model and the unit-test management model. In order to establish the defense systems test works architecture model, the process flow of test works, artifacts by life cycle, and interrelations between regulations and test works are explained, and Integrated Test Information System for implementation of architecture model is discussed. Through the defense systems test works architecture model presented in this study, it will contribute to quickly responding to the test requirements of complex and diverse defense systems, efficiently managing projects, and providing standardized test services.

• International Journal of Naval Architecture and Ocean Engineering
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• 제13권1호
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• pp.223-235
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• 2021

The Vortex-Induced Vibration (VIV) test system on deepwater riser based on Bare Fiber Bragg Grating (BFBG) sensor technology was designed. Meanwhile, a riser VIV response numerical model was established based on the work-energy principle. The results show that the first-order vibration frequency dominates the vibration of the riser, and as the velocity increases, the dominant frequency of the riser gradually increases under the effect of different top tensions. At the same velocity, as the top tension increases step by step, the dominant frequency and fatigue damage at the same position along the axial length of the riser both gradually decreases. The model test and numerical simulation show a relatively consistent change, maintaining a high degree of agreement. The process control system based on BFBG of model test has excellent performance, and FBG sensors have great advantages in VIV test of a vertical riser in water.

• 한국컴퓨터정보학회논문지
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• 제13권4호
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• pp.87-95
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• 2008

경계면 스캔 구조는 시험대상회로의 출력 값들을 캡쳐하여 스캔경로를 이용하여 TDO로 직렬출력하여 출력 값을 관찰할 수 있는 시험구조이며, Sample/preload명령어를 이용하여 시험대상회로의 특정한 한 순간의 출력만을 캡쳐하여 직렬출력하여 분석할 수 있다. 본 논문에서는 4비트 비동기 카운터회로를 시험대상회로로 선정하고, 정상동작중인 카운터의 특정 출력을 지정하여 특정한 순간의 정적인 출력이 아닌, 연속적인 동적인 출력 값들을 다른 출력결과의 영향 없이 지속적으로 TDO로 출력하여 관찰할 수 있는 선택 가능한 관측점을 가진 시험구조와 시험절차를 개발하였다. 본 논문에서 제안하는 선택 가능한 관측점을 가진 시험구조는 표준에서 정한 시험동작을 정상적으로 수행하며, 관측점의 설정을 위한 명령어가 추가되었다. 4비트 카운터회로에 제안된 선택 가능한 관측점 시험구조를 적용 설계하고, 관측점 설정 명령어를 사용한 시험절차를 Altera의 Max 10.0을 이용한 시뮬레이션을 통해 동작의 정확성을 확인하였다.

• Nuclear Engineering and Technology
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• 제54권3호
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• pp.1071-1084
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• 2022

The present study aims to investigate the dynamic properties of a novel isolation system composed of separate rubber and wire isolators. The testing program comprised pure compressive, pure-shear, compressive-stress dependence, and shear-strain dependence tests that used full-scale test specimens according to ISO 22762-1. A total of 22 test specimens were fabricated and investigated. Among the tests, the pure compressive test was a destructive test that reached up to the failure stage, whereas the others were nondestructive tests before the failure stage. Similar to the pure-shear test, at each compressive-stress level in the compressive dependence test or at each shear-strain level in the shear-strain dependence test, the cyclic loading was conducted for three cycles. In the nondestructive tests, examination of the dynamic shear properties in the X-direction was independent of the Y-direction. The test results revealed that the increase in the shear strain increased the energy dissipation but decreased the damping ratio, whereas the increase in the compressive stress increased the damping ratio. In addition, a macro model was developed to simulate the load-displacement response of the isolation systems, and the prediction results were consistent with the experimental results.

• International Journal of Naval Architecture and Ocean Engineering
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• 제13권1호
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• pp.292-305
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• 2021

The present study concerns uncertainty assessment of powering prediction from towing tank model tests, suggested by the International Towing Tank Conference (ITTC). The systematic uncertainty of towing tank tests was estimated by allowance of test setup and measurement accuracy of ITTC. The random uncertainty was varied from 0 to 8% of the measurement. Randomly generated inputs of test conditions and measurement data sets under systematic and random uncertainty are used to statistically analyze resistance and propulsive performance parameters at the full scale. The error propagation through an extrapolation procedure is investigated in terms of the sensitivity and coefficient of determination. By the uncertainty assessment, it is found that the uncertainty of resultant powering prediction was smaller than the test uncertainty.

• ETRI Journal
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• 제36권2호
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• pp.293-300
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• 2014

As the system-on-chip (SoC) design becomes more complex, the test costs are increasing. One of the main obstacles of a test cost reduction is the limited number of test channels of the ATE while the number of pins in the design increases. To overcome this problem, a new test architecture using a channel sharing compliant with IEEE Standard 1149.1 and 1500 is proposed. It can significantly reduce the pin count for testing a SoC design. The test input data is transmitted using a test access mechanism composed of only input pins. A single test data output pin is used to measure the sink values. The experimental results show that the proposed architecture not only increases the number of sites to be tested simultaneously, but also reduces the test time. In addition, the yield loss owing to the proven contact problems can be reduced. Using the new architecture, it is possible to achieve a large test time and cost reduction for complex SoC designs with negligible design and test overheads.

• 한국컴퓨터정보학회논문지
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• 제3권2호
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• pp.105-112
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• 1998

본 논문에서는 다중 보드를 시험하기 위한 새로운 구조인 확장된 스캔 경로(ESP: Extended Scan Path) 구조를 제안한다. 보드를 시험하기 위한 기존의 구조로는 단일 스캔경로와 다중 스캔 경로가 있다. 단일 스캔경로 구조는 시험 데이타의 전송 경로인 스캔 경로가 하나로 연결되므로 스캔 경로가 단락이나 개방으로 결함이 생기면 나머지 스캔 경로에올바른 시험 데이타를 입력할 수 없다. 다중 스캔 경로 구조는 다중 보드 시험 시 보드마다별도의 신호선이 추가된다 그러므로 기존의 두 구조는 다중 보드 시험에는 부적절하다. 제안된 ESP 구조를 단일 스캔 경로 구조와 비교하면, 스캔 경로 상에 결함이 발생하더라도 그 결함은 하나의 스캔 경로에만 한정되어 다른 스캔 경로의 시험 데이타에는 영향을 주지않는다. 뿐만 아니라, 비스트 (BIST: Built In Self Test)와 IEEE 1149.1 경계면 스캔 시험을 병렬로 수행함으로써 시험에 소요되는 시간을 단축한다. 본 논문에서는 제안한 ESP 구조와 기존 시험 구조의 성능을 비교하기 위해서 수치적 비교를 한다.

• 정보처리학회논문지A
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• 제16A권2호
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• pp.79-88
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• 2009

경계면스캔 구조는 시험대상회로의 입력측 스캔경로에 직렬입력을 통하여 시험패턴을 입력하고, 병렬로 대상회로에 인가한 후, 응답값을 출력측 스캔경로를 통하여 TDO로 직렬로 출력하는 시험구조로서, 대상회로의 동작속도에 맞추어 인가되는 연속적인 시험패턴에 대한 대상회로의 동적인 변화되는 출력을 관찰하는 것이 불가능하다. 본 논문에서는 대상회로의 동작속도 환경하에서 연속적인 시험패턴을 입력하여 시험대상회로의 연속적인 동적인 출력값들을 지속적으로 TDO로 출력함으로써 대상회로에 대한 성능시험에 사용할 수 있는 패턴생성기와 CBSR(Continuous capture Boundary Scan Register)를 이용한 시험구조와 시험절차를 개발하였다. 본 논문에서 사용된 CBSR은 연속캡쳐 설정과 쉬프트경로 설정을 위해 개발되었으며, 표준의 경계면 스캔 레지스터의 기능을 정상적으로 수행하도록 설계되었다. Altera의 Max+Plus 10.0를 사용하여 패턴생성기와 CBSR을 이용한 시험구조를 설계하고, 스캔구조를 적용 설계하고, CCAP명령어를 사용한 시험절차를 시뮬레이션을 통해 제안된 시험구조의 동작의 정확성을 확인하였다.