Porous silicon materials have been shown to have bright prospects for applications in light emitting, solar cell, as well as light- and chemical-sensing devices. In this report, structures of porous silicon prepared by anodic etching in HF-based solution with various etching times were studied in detail by Atomic Force Microscopy and Small Angle X -ray Scattering technique using the high energy beam line at Pohang Light Source in Korea. The results showed the coexistence of the various pores with nanometer and submicrometer scales. For nanameter size pores, the mixed ones with two different shapes were identified: the larger ones in cylindrical shape and the smaller ones in spherical shape. Volume fractions of the cylindrical and the spherical pores were about equal and remained unchanged at all etching times investigated. On the whole uniform values of the specific surface area and of the size parameters of the pores were observed except for the larger specific surface area for the sample with the short etching time. The results implies that etching process causes the inner surfaces to become smoother while new pores are being generated. In all SAXS data at large Q vectors, Porod slope of -4 was observed, which supports the fact that the pores have smooth surfaces.
한국윤활학회 2002년도 proceedings of the second asia international conference on tribology
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pp.67-68
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2002
The properties and mechanism of silicon protuberance and groove processing by diamond tip sliding using atomic force microscope (AFM) in atmosphere were studied. To control the height of protuberance and the depth of groove, the processed height and depth depended on load and diamond tip radius were evaluated. Nanoprotuberances and grooves were fabricated on a silicon surface by approximately 100-nm-radius diamond tip sliding using an atomic force microscope in atmosphere. To clarify the mechanical and chemical properties of these parts processed, changes in the protuberance and groove profiles due to additional diamond tip sliding and potassium hydroxide (KOH) solution etching were evaluated. Processed protuberances were negligibly removed, and processed grooves were easily removed by additional diamond tip sliding. The KOH solution selectively etched the unprocessed silicon area. while the protuberances, grooves and flat surfaces processed by diamond tip sliding were negligibly etched. Three-dimensional nanofabrication is performed in this study by utilizing these mechanic-chemically processed parts as protective etching mask for KOH solution etching.
The composite of porous silicon (Si) and amorphous carbon (C) is prepared by pyrolysis of a nano-porous Si + pitch mixture. The nano-porous Si is prepared by mechanical milling of magnesium powder with silicon monoxide (SiO) followed by removal of MgO with hydrochloric acid (etching process). The Brunauer-Emmett-Teller (BET) surface area of porous Si ($64.52m^2g^{-1}$) is much higher than that before etching Si/MgO ($4.28m^2g^{-1}$) which indicates pores are formed in Si after the etching process. Cycling stability is examined for the nano-porous Si + C composite and the result is compared with the composite of nonporous Si + C. The capacity retention of the former composite is 59.6% after 50 charge/discharge cycles while the latter shows only 28.0%. The pores of Si formed after the etching process is believed to accommodate large volumetric change of Si during charging and discharging process.
In this study, fabrication of the large area silicon mirror is accomplished by anisotropic wet etching using micromachining technology for implementation of integrated slim optical pickup and the process condition is also established for improving the mirror surface roughness. Until now, few results have been reported about the production of highly stepped $9.74^{\circ}$ off-axis-cut silicon wafers using wet etching. In addition rough surface of the mirror is achieved in case of tong etching time. Hence a novel method called magnetorheolocal finishing is applied to enhance the surface quality of the mirror plane. Finally, areal peak to valley surface roughness of mirror plane is reduced about 100nm in large area of $mm^2$ and it is applicable to optical pickup using infrared wavelength.
Kim, Nam-Hoon;Shin, Sung-Wook;Bin, Shin-Seok;Yu chang-Il kim;Chang, Eui-Goo
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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제1권2호
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pp.1-6
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2000
This article presents the experiments and considerations possible about gate etching in polysilicon when oxygen gas is added in chamber, We propose the novel study with optical emission spectroscopy in polysilicon etching. It is shown that added oxygen gases play an important role in enhencement of density in chlorine gases as a scavenger of silicon from SiCl$\_$x/. And a small amount of Si-O bonds are deposited and then the deposited thin film protect silicon dioxyde against reaction chlorine with silicon in SiO$_2$. Consequently, we can improve the selectivity of polysilicon the silicon dioxide, which is clearly explained in this model.
결정질 규소를 이용한 태양전지의 제조에 필요한 texture 식각 공정에 초음파를 적용하였다. 이 결과 $60^{\circ}C$에서 초음파를 적용하여 식각된 규소 기판으로 제조된 태양전지의 광전변환효율이 기존의 방식대로 $70^{\circ}C$에서 초음파 없이 식각된 규소 기판으로 제조된 태양전지의 광전변환효율보다 높았다. 이 결과는 규소를 이용한 태양전지의 제조에 필요한 식각공정에서 초음파를 적용하면 공정 온도를 낮출 수 있고 또한 사용되는 고가의 용액을 줄일 수 있어 전체적으로 태양전지의 제조 가격을 낮출 수 있는 가능성을 보여준다.
The Anti-reflection coating(ARC) properties can be formed on silicon substrate using a simple electrochemical etching technique. This etching step can be improve solar cell efficiency for a solar cell manufacturing process. This paper is based on the removal of silicon atoms from the surface a layer of porous silicon(PSi). Porous silicon is form by anodization and can be obtained in an electrolyte with hydrofluoric. It have demonstrated the feasibility of a very efficient porous Si layer, prepared by a simple, cost effective, electrochemical etching method. We expect our research can results approaching to lower than 10% of reflectance by optimization of process parametaer.
한국전기전자재료학회 2004년도 춘계학술대회 논문집 반도체 재료 센서 박막재료 전자세라믹스
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pp.121-124
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2004
The research on the porous silicon having low wafer stress during the oxidation process in IPOS(Isolation by Porous Oxidized Silicon) were carried out. Fine pores with less than 100A of diameter were found in the porous silicon which from p-type Si by electrochemical etching. In this study, it is possible to make the porous silicon with 59% of porosity.
반도체 장비의 기능성과 신뢰성을 높이기 위하여 부품의 제조기술은 점차 마이크로 머신 기술을 요구하고 있다. 마이크로머신 기술 중 hot junction이 위치하는 멤브레인 구조는 각종 센서와 히터의 미세부품에서 가장 이용도가 큰 구조이다. 실험에서는 마이크로머신의 기본 구조인 멤브레인 형태를 만들기 위해 KOH 용액과 TMAH 용액으로 단결정 실리콘을 이방성 습식식각 하였다. 실험결과, 식각액의 온도와 농도, 마스크 패턴과 웨이퍼의 결정성의 일치 등을 고려해야 하며, 식각 속도는 KOH 농도 및 온도에 따라 크게 변함을 알 수 있었다. KOH 용액은 30 wt% 80~$90^{\circ}C$ 온도 범위에서 가장 좋은 특성을 나타냈다. 한편, TMAH용액이 실리콘을 식각하는 용액으로 관심을 끄는 것은 단결정에서 상대적으로 $SiO_2$ 박막을 마스크로 사용할 수 있을 뿐 아니라 $SiO_2$ 박막을 마스크로 사용할 수 있을 뿐 아니라 다른 식각액보다 찌꺼기가 적다는 장점 때문이다. 그러나, 다른 용액에 비해 가격이 고가이며 식각 속도가 낮다는 것이 실용적인 측면에서 큰 단점이다. 실험결과를 종합적으로 고려할 때 KOH 용액 농도 30wt%와 온도 $90^{\circ}C$가 마이크로머신 기술에 의한 멤브레인 구조 제작에서 적합한 공정조건이라고 할 수 있다.
Ion beam etching of silicon with N2 and Ar gas has been found to cause the band edge to bend downward near the surface in p-type silicon. Rectifying, rather than ohmic contacts are obtained on the structures formed by evaporation of gold and titanium onto ion-bean-etched p-type silicon. The 1/C2 versus V relationship measured at 1MHz is found to be nonlinear for small voltages indicating alteration of the effective doping colse to the silicon surface.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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