초음파를 이용할 실리콘 칩 주위의 결함 검출에 관한 연구 - 화상처리에 의한 threshold value의 자동 결정법 - (A Study on the Defect Detection of Silicon-Chip Surrounding by Ultrasonic Wave - Automatic Determination Method of Threshold Value by Image Processing -)
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- 한국정밀공학회:학술대회논문집
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- 한국정밀공학회 1991년도 추계학술대회 논문집
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- pp.87-94
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- 1991