비휘발성 메모리를 위한 $SiO_2/Si_3N_4$ 적층 구조를 갖는 터널링 절연막의 열처리 효과
(Annealing Effects of Tunneling Dielectrics Stacked $SiO_2/Si_3N_4$ Layers for Non-volatile Memory)
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- 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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- 한국전기전자재료학회 2008년도 추계학술대회 논문집 Vol.21
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- pp.128-129
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- 2008