• International Journal of Reliability and Applications
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• 제5권1호
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• pp.25-36
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• 2004

Ultrasonic inspection system consist of the examination procedures, equipment, and operators. The reliability of nondestructive testing is influenced by the inspection environment, materials and types of defect. It is very difficult to estimate the reliability of NDT due to the various factors. Piping inspection round robin was conducted to quantify the capability of ultrasonic inspection during in-service. In this study, the models for predicting the ultrasonic NDE reliability by logistic model and linear regression model are discussed. The utility of the NDT reliability assessment is verified by the analysis of the data from round robin test with these models.

• 반도체디스플레이기술학회지
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• 제11권3호
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• pp.1-6
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• 2012

In this paper, inspection system based on optical scanning mechanism is designed and developed for solar cell wafer. It consists of optical scanning mechanism, NIR camera optics, machinery and control system, algorithm of defect detection and software. Optical scanning mechanism is composed of geometrical camera optics and structured hybrid illumination system. It is used to inspection of surface defects. NIR camera optics is used for inspection of defects inside solar cell wafer. It is shown that surface and internal micro defects can be detected in developed inspection system for solar cell wafer.

• 한국콘텐츠학회논문지
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• 제16권7호
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• pp.689-699
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• 2016

LCD 수요 증가에 따라 LCD 생산 효율성 개선을 위한 검사장비의 중요성이 지속적으로 부각되고 있다. 패턴 검사기는 라인 스캔 카메라와 같은 광학 장비를 통해 미세한 패턴 결함을 빠른 속도로 검출하는 장비이다. 이러한 패턴 검사기는 실시간 검사를 위해 패턴 내에서 단일 기준값을 사용하여 픽셀 단위의 결함 여부를 판단하고 있다. 하지만 패턴 내 각 영역별 특징을 반영하여 서로 다른 기준값을 적용하는 적응적 이진화를 이용하는 경우 결함 검출 성능을 크게 향상시킬 수 있다. 이러한 적응적 이진화를 적용하기 위해서는 특정 검사 대상 픽셀이 어떠한 영역에 속하는지에 대한 정보를 필요로 한다. 이를 위해 본 논문에서는 각각의 검사 대상 픽셀이 어떠한 영역에 속하는지를 판단하는 영역 매칭 알고리즘을 제안한다. 제안된 알고리즘은 머신 비전의 실시간성을 고려한 패턴 정합에 기반을 둔 알고리즘으로 실제 시스템에 적용될 수 있도록 GPGPU를 이용하여 구현된다. 모의실험을 통해 제안된 방법이 실제 시스템이 요구하는 처리 속도를 만족시킬 수 있을 뿐만 아니라 결함 검출의 성능을 개선할 수 있음을 보인다.

• 한국건설관리학회논문집
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• 제18권5호
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• pp.59-67
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• 2017

공사 완료 시점에는 다양한 마감 공정들이 집중적으로 수행된다. 이는 현장관리자의 업무 부담을 가중시켜 경험에 근거한 임기응변적 품질관리 업무수행을 강제함으로써 감독자나 작업자의 개인역량에 따라 공사품질의 편차가 발생한다. 또한 품질관리와 관련된 정보가 시방서, 도면 등 다양한 유형의 문서에 산재하여 점검사항이 누락되는 경우가 빈번하다. 하자예방과 관련된 정보들을 체계적으로 저장하고, 상호참조 가능한 상태로 연계하여 실무자에게 점검업무 전 또는 수행 중에 효과적으로 제공할 수 있는 도구가 필요하다. 본 논문은 공동주택 마감공사의 품질점검 대상 액티비티 또는 실 단위로 필요한 정보를 체계적으로 저장 검색이 가능한 품질점검 지원 모델을 제안한다. 시방서, 설계기준, 체크리스트, 법규, 하자사례, 도면을 마감공사 프로세스 및 실과 연계하여 하자예방 정보베이스와 정보연계 넥서스를 구축하였으며 이를 바탕으로 정보등록 및 검색 인터페이스를 제시하였다. 내용적으로 다양한 하자예방 정보들을 마감공사 액티비티 및 실을 중심으로 연계하여 활용 가능한 틀을 제시함으로써 일정 수준 이상의 시공품질 확보에 기여할 수 있다.

• 한국멀티미디어학회논문지
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• 제21권6호
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• pp.649-658
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• 2018

In this paper, we propose a mechanical contact inner tap inspection system that can inspect the defect of the inner tap immediately after inner tap is processed within the machining center. The inspection module has the collet chuck structure, so it can mounted on the main spindle of the machining center during inspection. It was developed with a focus on inspection for tap having 20 mm depth which is primarily fabricated in automotive parts and has a double sided PCB-type control system including sensing function based on Zigbee module, micom and IR sensor for wireless transmission of measured data with low power operation, and also a battery for supplying electric power. The current consumption is 46.8mA in the inspection operation mode and 0.0268mA in the power saving mode for 3.7V of the applied power source, so that 30,000 times or more inspection can be performed with assumed 5 seconds inspection time for one tap. Experiments in test jig system and actual machining center confirm that the proposed inner tap inspection system can be applied to the batch process of simultaneous inspection after tapping in the machining center.

• 전기전자학회논문지
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• 제25권3호
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• pp.485-492
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• 2021

본 논문에서는 다각형 용기의 결함 검사 시스템 개발을 제안한다. 임베디드 보드는 메인부, 통신부, 입·출력부 등으로 구성된다. 메인부는 주 연산장치로써 임베디드 보드를 구동하는 운영체제가 포팅되어서 외부 통신, 센서 및 제어를 위한 입출력을 제어할 수 있다. 입·출력부는 필드에 설치되어 있는 센서들의 전기적신호를 디지털로 변환하여 메인모듈로 전달하는 역할 및 외부 스텝 모터 제어의 역활을 한다. 통신부는 영상 촬영 카메라 트리거 설정 및 제어 장치의 구동 설정의 역할을 수행한다. 입·출력부는 제어 스위치 및 센서들의 전기적신호를 디지털로 변환하여 메인모듈로 전달하는 역할을 수행한다. 동작 모드 등과 관련한 펄스 입력 등을 받기 위한 입력회로에는 외부 노이즈의 간섭을 최소화하기 위하여 각 입력포트에는 포토커플러를 설계한다. 제안된 다각형 용기의 결함 검사 시스템 개발의 정확성을 객관적으로 평가하기 위하여 다른 머신비전 검사 시스템과 비교를 해야 하지만, 현재 다각형 용기의 머신비전 검사 시스템이 존재하지 않기 때문에 불가능하다. 따라서, 동작 타이밍을 오실로스코프로 측정하여서 Test Time, One Angle Pulse Value, One Pulse Time, Camera Trigger Pulse, BLU 밝기 제어 등과 같은 파형이 정확히 출력됨을 확인하였다.

• 대한기계학회논문집A
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• 제28권7호
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• pp.1047-1054
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• 2004

Internal defects in the glass, like-as micro-voids, micro-cracks, or inclusions, easily cause the failure when the glass is exposed to the shock or the thermal variation. In order to produce the highly reliable glass product, the precision inspection of the defect in the glass is required. For this purpose, this paper proposes a machine vision technique based on the auto-focusing method, which searches the defect and measures the location under the fact that the edge image of defect must be the most clear when the focal plane of CCD camera is coincided with the defect. As for the search index, the gradient indicator is presented. The basic principles are verified through the simulations for the computer-generated defect images, where the affects of defect shape, gray level of background, and the brightness of the defect image are also analyzed. Finally, experimental results for actual glass specimens are shown to confirm the applicability of this method to the actual field.

• JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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• 제17권1호
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• pp.86-93
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• 2017

In this paper, we propose a novel defect detection method using component tree representations of scanning electron microscopy (SEM) images. The component tree contains rich information about the topological structure of images such as the stiffness of intensity changes, area, and volume of the lobes. This information can be used effectively in detecting suspicious defect areas. A quasi-linear algorithm is available for constructing the component tree and computing these attributes. In this paper, we modify the original component tree algorithm to be suitable for our defect detection application. First, we exclude pixels that are near the ground level during the initial stage of component tree construction. Next, we detect significant lobes based on multiple attributes and edge information. Our experiments performed with actual SEM wafer images show promising results. For a $1000{\times}1000$ image, the proposed algorithm performed the whole process in 1.36 seconds.

• 대한용접접합학회:학술대회논문집
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• 대한용접접합학회 2006년도 춘계 학술대회 개요집
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• pp.148-150
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• 2006

In this paper, the applicability of an UET(ultrasound excited thermography) for a defect detection of the welded receptacle is described. An UET(ultrasound excited thermography) is a defect-selective and fast imaging tool for damage detection. A high power ultrasound-excited vibration energy with pulse durations of 280ms is injected into the outer surface of the welded receptacle made of Al material. An ultrasound vibration energy sent into the welded receptacle propagate inside the sample until they are converted into the heat in the vicinity of the defect. The injection of the ultrasound excited vibration energy results in heat generation so that the defect is turned into a local thermal wave transmitter. Its local heat emission is monitored by the thermal infrared camera. And they are processed by the image recording system. Measurement was performed on aluminum receptacle welded by using Nd:YAG laser. The observed thermal image revealed two area of defects along the welded seam.

• Journal of the Optical Society of Korea
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• 제19권6호
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• pp.619-628
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• 2015

In this paper, we consider a method for estimating a stripe-type defect and the reconstruction of a defect-free L/S type mask used in lithography. Comparing diffraction patterns of defected and defect-free masks, we derive equations for the estimation of the location and size of the defect. We construct an analytical model for this problem and derive closed form equations to determine the location and size using phase retrieval problem solving techniques. Consequently, we develop an algorithm that determines a defect-free mask pattern. An example shows the validity of the equations.