Measurement of a refractive index and thickness of silicon-dioxide thin film on LCD glass substrate using a variable angle ellipsometry (가변 입사각 타원 해석법을 사용한 유리기판위의 이산화규소박막의 굴절율 및 두께 측정)
-
- Korean Journal of Optics and Photonics
- /
- v.8 no.1
- /
- pp.31-36
- /
- 1997