The mitogen-activated protein kinase (MAPK) pathway controls intestinal epithelial barrier permeability by regulating tight junctions (TJs) and epithelial cells damage. Heme oxygenase-1 (HO-1) and carbon monoxide (CO) protect the intestinal epithelial barrier function, but the molecular mechanism is not yet clarified. MAPK activation and barrier permeability were studied using monolayers of Caco-2 cells treated with tissue necrosis factor α (TNF-α) transfected with FUGW-HO-1 or pLKO.1-sh-HO-1 plasmid. Intestinal mucosal barrier permeability and MAPK activation were also investigated using carbon tetrachloride (CCl4) administration with CoPP (a HO-1 inducer), ZnPP (a HO-1 inhibitor), CO releasing molecule 2 (CORM-2), or inactived-CORM-2-treated wild-type mice and mice with HO-1 deficiency in intestinal epithelial cells. TNF-α increased epithelial TJ disruption and cleaved caspase-3 expression, induced ERK, p38, and JNK phosphorylation. In addition, HO-1 blocked TNF-α-induced increase in epithelial TJs disruption, cleaved caspase-3 expression, as well as ERK, p38, and JNK phosphorylation in an HO-1-dependent manner. CoPP and CORM-2 directly ameliorated intestinal mucosal injury, attenuated TJ disruption and cleaved caspase-3 expression, and inhibited epithelial ERK, p38, and JNK phosphorylation after chronic CCl4 injection. Conversely, ZnPP completely reversed these effects. Furthermore, mice with intestinal epithelial HO-1 deficient exhibited a robust increase in mucosal TJs disruption, cleaved caspase-3 expression, and MAPKs activation as compared to the control group mice. These data demonstrated that HO-1-dependent MAPK signaling inhibition preserves the intestinal mucosal barrier integrity by abrogating TJ dysregulation and epithelial cell damage. The differential targeting of gut HO-1-MAPK axis leads to improved intestinal disease therapy.
Proceedings of the Acoustical Society of Korea Conference
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autumn
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pp.411-414
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1999
Insertion loss of partially Inclined noise harrier Is studied by using multiple diffraction theory. The diffractions occurred at the top as well as partially folded point are included based on Kouyoumjian and Pathak's method (Procd. IEEE, Vol. 62, 1974). Scaled-down model of noise barrier is studied in anechoic rooom. It is shown that the theoretical results generally represents the average values of experimental results, while there are many oscillations in experimental results.
Journal of Advanced Marine Engineering and Technology
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v.28
no.5
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pp.801-810
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2004
The Primal-Dual Interior-Point (PDIP) method is currently one of the fastest emerging topics in optimization. This method has become an effective solution algorithm for large scale nonlinear optimization problems. such as the electric Optimal Power Flow (OPF) and natural gas and electricity OPF. This study describes major theoretical developments of the PDIP method as well as practical issues related to implementation of the method. A simple quadratic problem with linear equality and inequality constraints
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2011.08a
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pp.134-135
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2011
양자점은 전자와 양공을 3차원으로 속박 시키므로 기존의 bulk나 양자우물보다 양자점을 이용한 레이저 다이오드의 경우 낮은 문턱 전류, 높은 미분이득 및 온도 안전성의 장점이 있을 거라 기대되고 있다. 그러나, 양자점은 낮은 areal coverage 때문에 높은 속박효율을 얻지 못하고 있다. 이러한 양자점의 문제점을 해결하기 위해 양자점을 양자우물 안에 성장시켜 운반자들의 포획을 향상시키는 방법들이 연구되고 있다. 양자우물 안에 양자점을 넣으면 양자우물이 운반자들의 포획을 증가 시키고, 열적 방출도 억제하여 온도 안정성이 향상 되는 것으로 알려져 있다. 광통신 대역의 1.3 ${\mu}m$ 경우, GaAs계를 이용하여 InAs 양자점을 strained InGaAs 박막을 우물층으로 한 dot-in-a-well 구조의 연구는 몇몇 보고된 바 있다. 그러나 InP계를 사용하는 1.55 ${\mu}m$ 대역에서 dot-in-a-well구조의 연구는 아직 미미하다. 본 연구에서는 유기 금속 화학 증착법(metal organic chemical vapor deposition)을 이용하여 InP 기판 위에 InAs 양자점을 자발성장법으로 성장하였으며 dot-in-a-well 구조에서 우물층으로 1.35 ${\mu}m$ 파장의 $In_{0.69}Ga_{0.31}As_{0.67}P_{0.33}$ (1.35Q)를, 장벽층으로는 1.1 ${\mu}m$ 파장의 $In_{0.85}Ga_{0.15}As_{0.32}P_{0.68}$(1.1Q)를 사용하였다. 양자우물층과 장벽층은 모두 InP 기판과 격자가 일치하는 조건으로 성장하였다. III족 원료로는 trimethylindium (TMI)와 trimethylgalium (TMGa)을 사용하였으며 V족 원료 가스로는 $PH_3$ 100%, $AsH_3$ 100%를, carrier gas로는 $H_2$를 사용하였다. InP buffer층의 성장 온도는 640$^{\circ}C$이며 양자점 성장 온도는 520$^{\circ}C$이다. 양자점 형성은 원자력간 현미경(Atomic force microscopy)를 이용하여 확인하였으며, 박막의 결정성은 쌍결정 회절분석(Double crystal x-ray deffractometry)를 이용하여 확인하였다. 확인된 성장 조건을 이용하여 양자점 시료를 성장하였으며 광여기분광법(Photoluminescence)을 이용하여 광특성을 분석하였다. Fig. 1은 dot in a barrier 와 dot-in-a-well 시료의 성장구조이다. Fig. 1(a)는 일반적인 dot-in-a-barrier 구조로 InP buffer층을 성장하고 1.1Q를 100 nm 성장한 후 양자점을 성장하였다. 그 후 1.1Q 100 nm와 InP 100 nm로 capping하였다. Fig. 1(b)는 dot-in-a-well 구조로 InP buffer층을 성장하고 1.1Q를 100 nm 성장 후 1.35Q 우물층을 4 nm 성장하였다. 그 위에 InAs 양자점을 성장하였다. 그 후에 1.35Q 우물층을 4 nm 성장하고 1.1Q 100 nm와 InP 100 nm로 capping하였다. Fig. 2는 dot-in-a-barrier 시료와 dot-in-a-well 시료의 상온 PL data이다. Dot-in-a-barrier 시료의 PL 파장은 1544 nm이며 반치폭은 79.70 meV이다. Dot-in-a-well 시료의 파장은 1546 nm이며 반치폭은 70.80 meV이다. 두 시료의 PL 파장 변화는 없으며, 반치폭은 dot-in-a-well 시료가 8.9 meV 감소하였다. Dot-in-a-well 시료의 PL peak 강도는 57% 증가하였으며 적분강도(integration intensity)는 45%가 증가하였다. PL 데이터에서 높은 에너지의 반치폭 변화는 없으며 낮은 에너지의 반치폭은 8 meV 감소하였다. 적분강도 증가에서 dot-in-a-well 구조가 dot-in-a-barrier 구조보다 전자-양공의 재결합이 증가한다는 것을 알 수 있으며, 반치폭 변화로부터 특히 높은 에너지를 갖는 작은 양자점에서의 재결합이 증가 된 것을 알 수 있다. 이는 양자우물이 장벽보다 전자-양공의 구속력을 증가시키기 때문에 양자점에 전자와 양공의 공급을 증가시키기 때문이다. 따라서 낮은 에너지를 가지는 양자점을 모두 채우고 높은 에너지를 가지는 양자점까지 채우게 되므로, 높은 에너지를 가지는 양자점에서의 전자-양공 재결합이 증가되었기 때문이다. 뿐만 아니라 파장 변화 없이 PL peak 강도와 적분강도가 증가하고 낮은 에너지 쪽의 반치폭이 감소한 것으로부터 에너지가 낮은 양자점보다는 에너지가 높은 양자점에서의 전자-양공 재결합율이 급증하였음을 알 수 있다. 우리는 이와 같은 연구에서 InP계를 이용해 1.55 ${\mu}m$에서도 dot in a well구조를 성장 하여 더 좋은 특성을 낼 수 있으며 앞으로 많은 연구가 필요할 것이라 생각한다.
Transactions of the Korean Society of Mechanical Engineers B
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v.27
no.11
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pp.1542-1547
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2003
Although dielectric barrier discharge (DBD) in air has been applied to a wider range of aftertreatment processes for HAPs (Hazardous Air Pollutants), due to its high electron density and energy, its potential use as precharging dust particles is not well known. In this work, we measured size distributions of bimodal aerosol particles and estimated collection efficiency of the particles by an electrostatic precipitator (ESP) using DBD as particle charger. To examine the particle collection with DBD charger, nano size particles of NaCl(20∼100nm) and DOS (50∼500nm) were generated by a tube furnace and an atomizer, respectively. For experimental conditions of 60㎐, 11㎸ and 60 lpm, the particle collection efficiency for the hybrid system was over 85%, based on the number of particles captured.
Although Dielectric Barrier Discharge (DBD) in air has been applied to a wider range of aftertreatment processes for HAPs(Hazardous Air Pollutants), due to its high electron density and energy, its potential use as precharging dust particles is not well known. In this work, we measured size distributions of bimodal aerosol particles and estimated collection efficiency of the particles by electrostatic precipitator(ESP) using DBD as particle charger. To examine the particle collection with DBD charger, nano size particles of NaCl($20{\sim}100$ nm) and DOS($50{\sim}800$ nm) were generated by tube furnace and atomizer, respectively. For experimental conditions of 60 Hz, 11 kV, and 60 lpm, the particle collection efficiency for the hybrid system comprising DBD charger and ESP was over 85 %, based on the number of particles captured.
Journal of the Korean Society of Industry Convergence
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v.6
no.4
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pp.277-289
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2003
This study proposes a mathematical model to characterize the removal of nitrogen oxides in a dielectric barrier discharge plasma process. As well as the reactions between nitrogen oxides, water vapor, oxygen and nitrogen, the model takes into account the effect of ethylene often used as a chemical additive to reduce the power consumption of the process on the removal of nitrogen oxides. Since the concentrations of the radicals concerned in the main reactions including O, OH, H and N should be calculated to predict the removal efficiency of nitrogen oxides, they were theoretically derived. The parameters affecting the removal of nitrogen oxides, such as initial concentration, discharge power, humidity, and ethylene concentration were experimentally evaluated, which were compared with the calculated results to verify the validity of the model proposed. The predicted concentrations of several byproducts formed in this process were also presented and discussed. The effects of several parameters mentioned above on the removal of nitrogen oxides were reasonable described by the proposed model.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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v.18
no.6
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pp.323-329
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2017
This reports the electrical behavior, bonding structure and Schottky contact of gallium-zinc-oxide (GZO) thin film annealed at $100{\sim}400^{\circ}C$. The mobility of GZO with high density of PL spectra and crystal structure was also increased because of the structural matching between GZO and Si substrate of a crystal structure. However, the GZO annealed at $200^{\circ}C$ with an amorphous structure had the highest mobility as a result of a band to band tunneling effect. The mobility of GZO treated at low annealing temperatures under $200^{\circ}C$ increased at the GZO with an amorphous structure, but that at high temperatures over $200^{\circ}C$ also increased when it was the GZO of a crystal structure. The mobility of GZO with a Schottky barrier (SB) was mostly increased because of the effect of surface currents as well as the additional internal potential difference.
Journal of the Korean institute of surface engineering
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v.27
no.2
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pp.91-98
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1994
For the plasma sprayed as well as the EB-PVD thermal barrier coatings, the fracture paths within the oxidation products developed at the interface between the partially stabilized zirconia ceramic coating and NiCoCrAlY bond coat during cyclic thermal oxidation has been investigated. It was observed that the fracture in the oxidation products primarily took place within the oxide such as $Ni_{1-x}Co_3(Al_,Cr)_2O_4$ or at the interface between the oxide and $Al_2O_3$. It was found that Al2O3 developed first, followed by the Ni/Co/Cr rich oxides such as ,,$Ni_{1-x}Co_x(Al_,Cr)_2O_4$$Cr_2O_3$and NiO at the interface between the ceramic coating and the bond coat in a cyclic high temperature environment. It was therfore concluded that the formation of the oxide containing Ni, Cr and Co was a life-limiting event for thermal barrier coatings during cyclic thermal oxidation.
We propose a method to obtain various diffusion parameters of deposited atom. By comparing the results of kinetic Mote Carlo (KMC) simulation with the results of STM, HRLEED experiments, we can determine diffusion parameters including the hopping barrier of an adatom on terrace, detachment barrier at the step edge, and well known Schwoebel barrier. It is found that the branch-width, island density, and roughness were suitable atomic scale structure parameters for comparing simulation calculation with experimental results, and especially, it is found that the parameter branch-width which is not widely used in thin film growth study, plays an important role in determining diffusion barriers.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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