• 한국정보디스플레이학회:학술대회논문집
• /
• 한국정보디스플레이학회 2006년도 6th International Meeting on Information Display
• /
• pp.747-751
• /
• 2006

The hydrogenated amorphous silicon thin film transistor (a-Si:H TFT) with copper as source and drain electrode has been fabricated to obtain its transfer characteristics and stressed with positive and negative bias to investigate the instability variation comparing to conventional MoW-Al based TFT device. The results show that there is no copper diffusion into active layer of a-Si:H TFT, even during the thermal process. In addition, a 15-inch XGA a Si:H TFT LCD display utilizing Cu as gate electrodes has been developed.

• 한국정보디스플레이학회:학술대회논문집
• /
• 한국정보디스플레이학회 2006년도 6th International Meeting on Information Display
• /
• pp.683-686
• /
• 2006

Accompanied by the demand of thin type TV, the application of the TFT LCD display device is more and more extensive. The key material which influences the optical performance of the TFT LCD is optical film. Due to the rapid development of the big size TFT LCD for the recent years, the supply has been unable to meet the demand for its relative material. Therefore, we bring up a alternate choice-the hybrid compensation film which could not only show well optical performance, but also lessen the quantity of usage in TAC in order to make the optical film free of shortage.

• 대한전기학회논문지:전기물성ㆍ응용부문C
• /
• 제48권6호
• /
• pp.416-428
• /
• 1999

A user-interactive pixel design tool for high-quality TFT-LCDs is realized and used to explore the sensitivity of the various array and device parameters for optimizing pixel design. In this tool, the Thompson cable equation and gradual-channel approximation were used for the gate time delay and TFT current modeling respectively. With this tool, each capacitance element, and TFT and array dimensions can be optimized under given design specifications. The electrical characteristics such ascharging ratio, gate time delay, pixel voltage level-shift, and holding ratio can be analyzed. The sensitivity analysis of those design parameters were executed and presented.

• 대한전기학회:학술대회논문집
• /
• 대한전기학회 2005년도 추계학술대회 논문집 전기물성,응용부문
• /
• pp.172-175
• /
• 2005

a-Si TFT는 TFT-LCD의 화소 스위칭(swiching) 소자로 폭넓게 이용되고 있다. 현재는 a-Si을 이용하여 gate drive IC를 기판에 집적하는 기술이 연구, 적용되고 있는데 이때 가장 큰 제약은 문턱 전압의 이동이다. 펄스(pulse)형태로 인가되는 gate 전압에 의한 문턱 전압 이동은 a-Si:H gate에 인가되는 펄스의 크기, duty cycle, drain pulse의 크기 및 동작 온도에 기인하며 실험결과를 통해 입증된다. 초기의 DC Stress 측정 Data를 이용하여 문턱전압이동을 모델링/시뮬레이션한 결과 a-Si:H gate 회로설계 및 펄스 조건에 따라 stress시간에 따른 gate의 출력 파형 예측이 가능하고 상온에서 Von=21V를 인가한 결과, 약 4년후에서 시프트레지스터 출력 파형이 열화되기 시작한다.

• 대한전기학회:학술대회논문집
• /
• 대한전기학회 2006년도 제37회 하계학술대회 논문집 D
• /
• pp.2061-2062
• /
• 2006

a-Si(amorphous silicon) TFT(thin film transistor)는 TFT-LCD(liquid crystal display)의 화소 스위칭(switching) 소자로 폭넓게 이용되고 있다. 현재는 a-Si을 이용하여 gate drive IC를 기판에 집적하는 ASG(amorphous silicon gate) 기술이 연구, 적용되고 있는데 이때 가장 큰 제약은 문턱 전압(Vth)의 이동이다. 특히 고온에서는 문턱 전압의(Vth) 이동이 가속화 되고, Ioff current가 증가 하게 되고, 저온($0^{\circ}C$)에서는 전류 구동능력이 상온($25^{\circ}C$) 상태에서 같은 게이트 전압(Vg)에 대해서 50% 수준으로 감소하게 된다. 특히 ASG 회로는 여러 개의 TFT로 구성되는데, 각각의 TFT가 고온에서 Vth shift 값이 다르게 되어 설계시 예상하지 못 한 고온에서의 화면 무너짐 현상 즉 고온 노이즈 불량이 발생 할 수 있다. 고온 노이즈 불량은 고온에서의 각 TFT의 문턱전압 및 $I_D-V_G$ 특성을 측정한 결과 고온 노이즈 불량에 영향을 주는 인자가 TFT의 width와 기생 capacitor비 hold TFT width가 영향을 주는 것으로 실험 및 시뮬레이션 결과 확인이 되었다. 발생 mechanism은 ASG 회로는 AC 구동을 하기 때문에 Voff 전위에 ripple이 발생 되는데 특히 고온에서 ripple이 크게 증가 하여 출력 signal에 영향을 주어 불량이 발생하는 것을 규명하였다.

• 한국정보디스플레이학회:학술대회논문집
• /
• 한국정보디스플레이학회 2005년도 International Meeting on Information Displayvol.II
• /
• pp.944-947
• /
• 2005

Highly stable gate driver circuit using a-Si TFT has been developed. The circuit has dual-pull down structure, in which bias stress to the TFTs is relieved by alternating applied voltage. The circuit has been successfully integrated in 4-in. QVGA and 14-in. XGA TFT-LCD with a normal a-Si process, which are stable for over 2,000 hours at $60^{\circ}C$. The enhancement of stability of the circuit is attributed to retarded degradation of pull-down TFTs by AC driving.

• 한국정보통신학회:학술대회논문집
• /
• 한국해양정보통신학회 2010년도 추계학술대회
• /
• pp.325-328
• /
• 2010

본 논문에서는 CAR AUDIO의 일반 Display인 SEG TYPE의 LCD의 대한 표현의 한계를 IPHONE(Smart Phone)의 Display를 이용하여 한계를 극복하는 방법에 대한 연구를 진행 했다. 일반 CAR AUDIO의 제한적인 Display를 많은 사람들이 이용하는 IPHONE(Smart Phone)의 LCD를 이용하여 표현할 수 있다. 일반적으로 용어를 CAR TO PHONE으로 명할 수 있다. CAR에 있는 모든 기능에 대한 Display를 IPHONE(SMART PHONE)의 DISPLAY에 phone용 APPLICATION을 사용하여 display 할 수 있다 IPHONE용 앱은 SEG LCD에서 할 수없는 특별한 UI&GUI를 가지고 있다.

• 한국산학기술학회논문지
• /
• 제11권9호
• /
• pp.3304-3310
• /
• 2010

연구는 가격 및 수요 불확실성하의 강건한 (robust) 생산 및 수송 전략을 수립함으로써 수요 및 가격 불확실성이 존재하는 TFT-LCD 제조업 공급사슬망의 의사결정 문제를 해결하고자 한다. 품질로 구분되는 제품들의 생산, 재고 및 물류에 관한 의사결정을 조정하기 위해, 본 연구에서는 생산용량 제약, 해상/항공 수송 리드타임 및 용량 제약 등의 현실적인 제약조건들을 반영하는 확정적 모델을 정의하고, 시나리오 모델을 이용하여 수요 및 가격 불확실성을 함께 반영하는 확률적 혼합정수선형계획법모형들을 개발한다. 또한 개발된 확률적 모형들의 robust 솔루션을 도출하기 위한 휴리스틱 알고리즘을 제안한다. 그리고 이들 모형들로부터 산출된 솔루션의 성능을 실험을 통하여 다양한 시나리오 하에서 평가하도록 한다.

• 전자공학회논문지
• /
• 제51권4호
• /
• pp.123-130
• /
• 2014

TFT-LCD 영상에서 결함은 일반적으로 배경과 비교하여 밝기 차이가 큰 특징을 사용하여 검출된다. 본 논문에서는 휘도 차에 따른 결함 가능성이 높은 순으로 결함을 검출하는 순차적 결함 검출 방법을 제안한다. 제안한 방법은 배경과의 휘도 차가 큰 결함은 정확히 검출하고, 배경과의 휘도 차가 작은 결함인 한도결함도보다 신뢰있게 검출하여 과검출을 최소화할 수 있다. 실험을 통해 제안한 방법은 배경과의 휘도 차가 큰 결함뿐만 아니라 한도결함에 대해서도 우수한 검출 결과를 나타냄을 확인하였다.

• 대한기계학회논문집A
• /
• 제30권8호
• /
• pp.1001-1007
• /
• 2006

In this paper we present robust optimal supporting positions for large glass panels used for TFT-LCD monitors when they are stored in a cassette during manufacturing process. The criterion taken is to minimize their maximum deflection. Since they are supported by some supports and have large deformations, contact analysis with a geometrically nonlinear effect is necessary. In addition, the center of a panel can not be positioned exactly as intended and should be considered as uncertainties. To take into account of these effects, the mean and the standard deviation of system response functions, particularly the deflection of the panels, need be calculated. A function approximation moment method (FAMM) is utilized to estimate them. It is a special type of response surface methodology for structural reliability analysis and can be efficiently used to estimate the two stochastic properties, that is, the system performance and the perturbations caused by uncertainties. For a design purpose, they are to be minimized simultaneously by some optimization algorithm to obtain robust optimal supporting positions.