When water is evaporated quickly from a water-based colloidal suspension, colloidal particles protrude from the water surface, distorting it and generating lateral capillary forces between the colloidal particles. The protruded colloidal particles are then assembled into ordered colloidal crystalline domains that float on the water surface on account of their having a lower effective density than water. These colloidal crystal domains then assemble together by lateral capillary force and convective flow; the generated colloidal crystal has grain boundaries. The single domain size of the colloidal crystal could be controlled, to some extent, by changing the rate of water evaporation, but it seems very difficult to fabricate a single crystal over a large area of the water's surface without reorienting each colloidal crystal domain. To reorient such colloidal crystal domains, a glass plate was dipped into the colloidal suspension at a tilted angle because the meniscus (airwaterglass plate interface) is pinned and thinned by further water evaporation. The thinning meniscus generated a shear force and reoriented the colloidal crystalline domains into a single domain.
Shaped crystal growth apparatus were made for sapphire ribbon single crystal growth. Sapphire ribbon single crystal are grown by EFG(Edge-defined Film-fed Growth) methdo for use as watch-glass and SOS(Silicon-On-Sapphire) devices. Sapphire ribbon crystals were grown to be 40min wide, 1.8mm thick, 96mm long. Therelationshiops between growth striation and surface roughness, with various growth rates, were investigated and compared. It was found that sapphire ribbon crystal is suitable for watch-glass by measuring the transmittance in the visible light region.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2006.11a
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pp.101-102
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2006
A stoichiometric mixture of evaporating materials for $AgGaS_2$ single crystal thin films was prepared from horizontal electric furnace. To obtain the single crystal thin films. $AgGaS_2$ mixed crystal was deposited on thoroughly etched semi-Insulating GaAs(100) substrate by the hot wall epitaxy (HWE) system. The source and substrate temperatures were $590^{\circ}C$ and $440^{\circ}C$, respectively. The temperature dependence of the energy band gap of the $AgGaS_2$ obtained from the absorption spectra was well described by the Varshni's relation, $E_g(T)=2.7284 eV-(8.695{\times}10^{-4} eV/K)T^2/(T+332 K)$. After the as-grown $AgGaS_2$ single crystal thin films was annealed in Ag-, S-, and Ga-atmospheres, the origin of point defects of $AgGaS_2$ single crystal thin films has been investigated by the photoluminescence(PL) at 10 K.
Proceedings of the Korea Association of Crystal Growth Conference
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1996.06a
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pp.519-521
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1996
Emerald (3BeO.Al2O3.6SiO2 : Cr3+) single crystals were crystals were grown by reflux method of temperature gradient in the flux solution of Li2O-MoO3-V2O5 system. The composition of flux materials were 3 mole ratio of MoO3-V2O5/Li2O, subtituted 0.2 mole% of K2O, Na2O, Nb2O5 etc to Li2O content, solved 10-15% of beryl to flux quantity and doped 1% of Cr2O3 to emerald amount. Those of mixing were melted at 110$0^{\circ}C$ in Pt containers of the 3 zone furnace of melt-growth-return to circulate continniously, specially it has been grown large emerald single crystal when thermal fluctuation was treated for 2hrs of once time a day at 1050-95$0^{\circ}C$ in growth zone, substitutional solid solution effect of Cr+3 ion for Al+3 to the growth of emerald single crystal was good. Emerald single crystals were c(0001) hexagonal crystal face of preferencial growth direction and m(1010) post side. When it had been durated for 5 months emerald single crystals of the firet size of 0.6mm thickness of seed crystal were grown 32$\times$65mm(c x m) of maximum size and 6.2mm thickness.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2008.11a
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pp.100-101
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2008
To obtain the single crystal thin films, $CuGaSe_2$ mixed crystal was deposited on thoroughly etched semi-insulating GaAs(100) substrate by the hot wall epitaxy (HWE) system. The source and substrate temperatures were $610^{\circ}C$ and $450^{\circ}C$, respectively. After the as-grown $CuGaSe_2$ single crystal thin films was annealed in Cu-, Se-, and Ga-atmospheres, the origin of point defects of $CuGaSe_2$ single crystal thin films has been investigated by the photoluminescence(PL) at 10 K. The native defects of $V_{CU}$, $V_{Se}$, $Cu_{int}$, and $Se_{int}$ obtained by PL measurements were classified as a donors or acceptors type. And we concluded that the heat-treatment in the Cu-atmosphere converted $CuGaSe_2$ single crystal thin films to an optical n-type. Also, we confirmed that Ga in $CuGaSe_2$/GaAs did not form the native defects because Ga in $CuGaSe_2$ single crystal thin films existed in the form of stable bonds.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2006.06a
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pp.112-113
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2006
A stoichiometric mixture for $Cdln_2Te_4$ single crystal was prepared from horizontal electric furnace. The $Cdln_2Te_4$ single crystal was grown in the three-stage vertical electric furnace by using Bridgman method. The quality of the grown crystal has been investigated by the x-ray diffraction and the photoluminescence measurements. The (001) growth plane of oriented $Cdln_2Te_4$ single crystal was confirmed from back-reflection Laue patterns. The carrier density and mobility of $Cdln_2Te_4$ single crystal measured with Hall effect by van der Pauw method are $8.61{\times}10^{16}\;cm^{-3}$ and $242\;cm^2/V{\cdot}s$ at 293 K, respectively. The temperature dependence of the energy band gap of the $Cdln_2Te_4$ single crystal obtained from the absorption spectra was well described by the Varshni's relation, $E_g(T)\;=\;1.4750\;eV\;-\;(7.69{\times}\;10^{-3}\;eV)T^2/(T+2147)$.
$Y_3A_{l5}O_{12}:Ce^{3+},Pr^{3+}$ single crystal phosphor was prepared by floating zone method. single crystal was confirmed to have a Ia-3d (230) space group of cubic structure and showed regular morphology. The optical properties, single crystal exhibited a emission band from green, yellow wide wavelength and 610nm, 640nm red wavelength vicinity. The luminance maintenance rate was decreased by phonon with increasing temperature, but high luminance is maintained more than powder phosphor. In addition, $Y_3A_{l5}O_{12}:Ce^{3+},Pr^{3+}$ single crystal phosphor was applied to a high power blue laser diode, we implemented high power white laser lightings. and it was confirmed that thermal properties over time, due to the effective heat transfer of complete crystal structure. We confirmed that excellent radiant heat properties than powder phosphor was applied to a high power white laser diode.
Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
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v.27
no.2
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pp.65-69
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2017
AlN single crystal was thermally treated at 1600, 1700 and $1800^{\circ}C$ in the ambient pressure of under 100 torr. AlN single crystal was obtained by PVT (Physial Vapor Transport) method using by a facility having a growth part which was heated by RF (Radio Frequency) induction heating. The single crystal specimens surface was evaluated by optical microscope and it was recognized that their morphology was varied with the heat treatment temperature and a set ambient pressure. In this report, the optical microscopic results were reported. According to the increase of temperature the crystal surface was etched thermally. It was evaluated by appearance of small pits on the crystal surface.
The stoichiometric mix of evaporating materials for he CuInS₂ single crystal thin films was prepared. To obtain the single crystal thin films, CuINS₂ mixed crystal was deposited on etched semi-insulator GaAs(100) substrate by the hot wall epitaxy(HWE) system. The source and substrate temperature were 640℃ and 430℃, respectively and the thickness of the single crystal thin films was 2 ㎛. The crystalline structure of single crystal thin films was investigated by the photoluminescence and double crystal X-ray diffraction(DCXD). The carrier density and mobility deduced from Hall data are 9.64x10/sup 22//㎥ and 2.95x10/sup -2/ ㎡/V·s, respectively at 293 K. he optical energy gap was found to be 1.53 eV at room temperature. From the photocurrent spectrum obtained by illuminating perpendicular light on the c-axis of the thin film, we have found that the values of spin orbit coupling splitting ΔSo and the crystal field splitting ΔCr were 0.0211 eV and 0.0045 eV at 10K, respectively. From PL peaks measured at 10K, were can assign the 807.7 nm (1.5350 eV) peak to E/sub x/ peak of the free exciton emission, the 810.3 nm(1.5301 eV) peak to I₂ peak of donar-bound exciton emission and the 815.6 nm(1.5201 eV) peak to I₁ peak of acceptor-bound excition emission. In addition, the peak observed at 862.0 nm(1.4383 eV) was analyzed to be PL peak due to donor-acceptor pair(DAP).
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2003.11a
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pp.156-159
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2003
The stochiometric mixture of evaporating materials for the $CuInTe_2$ single crystal thin films was prepared from horizontal furnace. To obtain the single crystal thin films, $CuInTe_2$ mixed crystal was deposited on throughly etched GaAs(100) by the Hot Wall Epitaxy(HWE) system. The source and substrate temperature were $610^{\circ}C\;and\;450^{\circ}C$ respectively, and the growth rate of the single crystal thin films was about $0.5{\mu}m/h$. The crystalline structure of single crystal thin films was investigated by the double crystal X-ray diffraction(DCXD). From the photocurrent spectra, we have found that values of spin orbit coupling ${\Delta}So$ and crystal field splitting ${\Delta}Cr$ ware $0.283{\underline{3}}eV\;and\;0.120{\underline{0}}eV$, respectively.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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