Proceedings of the Korea Association of Crystal Growth Conference
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1997.10a
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pp.155-159
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1997
We investigated the effect of mechanical backside damage in Czochralski silicon wafer. The intensity of mechanical damage were evaluated by minority carrier recombination lifetime by a laser excitation/microwave reflection photoconductance decay method, photo-acoustic displacement method, X-ray section topography, and wet oxidation/preferential etch methods. The data indicate that the higher the mechanical damage intensity, the lower the minority carrier lifetime, and the photoacoustic displacement values are also increased proportionally.
Park, Sang Sun;Jeon, Yukwon;Park, Jong-Man;Kim, Hyeseon;Choi, Sung Won;Kim, Hasuck;Shul, Yong-Gun
Journal of Electrochemical Science and Technology
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v.7
no.2
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pp.146-152
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2016
A combined system with PEMFC and reformer is introduced and optimized for the real use of this kind of system in the future. The hydrogen source to operate the PEMFC system is methanol, which needs two parts of methanol reforming reaction and preferential oxidation (PROX) for the hydrogen fuel process in the combined operation PEMFC system. With the optimized methanol steam reforming condition, we tested PROX reactions in various operation temperature from 170 to 270 ℃ to investigate CO concentration data in the reformed gases. Using these different CO concentration, PEMFC performances are achieved at the combined system. Pt/C and Ru promoted Pt/C were catalysts were used for the anode to compare the stability in CO contained gases. The alloy catalyst of PtRu/C shows higher performance and better resistance to CO than the Pt/C at even high CO amount of 200 ppm, indicating a promotion not only to the activity but also to the CO tolerance. Furthermore, in a system point of view, there is a fluctuation in the PEMFC operation due to the unstable fuel supply. Therefore, we also modified the methanol reforming by a scaled up reactor and pressurization to produce steady operation of PEMFC. The optimized system with the methanol reformer and PEMFC shows a stable performance for a long time, which is providing a valuable data for the PEMFC commercialization.
Won, Jong Woo;Kang, Minju;Kwon, Heoun-Jun;Lim, Ka Ram;Seo, Seong Moon;Na, Young Sang
Metals and materials international
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v.24
no.6
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pp.1432-1437
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2018
This work investigated edge-cracking behavior of equiatomic CoCrFeMnNi high-entropy alloy during hot rolling at rolling temperatures $500{\leq}T_R{\leq}1000^{\circ}C$. Edge cracks did not form in the material rolled at $500^{\circ}C$, but widened and deepened into the inside of plate as $T_R$ increased from $500^{\circ}C$. Edge cracks were most severe in the material rolled at $1000^{\circ}C$. Mn-Cr-O type non-metallic inclusion and oxidation were identified as major factors that caused edge cracking. The inclusions near edge region acted as preferential sites for crack formation. Connection between inclusion cracks and surface cracks induced edge cracking. Rolling at $T_R{\geq}600^{\circ}C$ generated distinct inclusion cracks whereas they were not serious at $T_R=500^{\circ}C$, so noticeable edge cracks formed at $T_R{\geq}600^{\circ}C$. At $T_R=1000^{\circ}C$, significant oxidation occurred at the crack surface. This accelerated edge crack penetration by embrittling the crack tip, so severe edge cracking occurred at $T_R=1000^{\circ}C$.
Journal of the Korean institute of surface engineering
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v.50
no.5
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pp.386-391
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2017
Two kinds of steels whose compositions were Fe-34.4Cr-14.5Ni-2.5Mo-0.4W-0.4Mn-0.5Si-(0.009 or 0.35)S (wt.%) were centrifugally cast, and oxidized at $900^{\circ}C$ for 50-350 h in order to find the effect of sulfur on the high-temperature oxidation of Fe-34.4Cr-14.5Ni-2.5Mo-0.4W-0.4Mn-0.5Si-(0.009 or 0.35)S (wt.%) alloys. These alloys formed oxide scales that consisted primarily of $Cr_2O_3$ as the major oxide and $Cr_2MnO_4$ as the minor one through preferential oxidation of Cr and Mn. They additionally formed $SiO_2$ particles around the scale/alloy interface as well as inside the matrices. The high affinity of Mn with S led to the formation of scattered MnS inclusions particularly in the 0.35S-containing cast alloy. Sulfur was harmful to the oxidation resistance, because it deteriorated the scale/alloy adherence so as to accerelate the adherence and compactness of the formed scales.
In the development of new hydrogen absorbing materials for a next generation of metal hydride electrodes for rechargeable batteries, metastable Mg-Ni-based compounds find currently special attention. Amor phous-nanocrystalline $Mg_{63}Ni_{30}Y_7$ and $Mg_{50}Ni_{30}Y_{20}$ alloys were produced by mechanical alloying and melt-spinning and characterized by means of XRD, TEM and DSC. On basis of mechanically alloyed Mg-Ni-Y powders, complex hydride electrodes were fabricated and their electrochemical behaviour in 6M KOH (pH=14,8) was investigated. The electrodes made from $Mg_{63}Ni_{30}Y_7$ powders, which were prepared under use of a SPEX shaker mill, with a major fraction of nanocrystalline phase reveal a higher electrochemical activity far hydrogen reduction and a higher maximum discharge capacity (247 mAh/g) than the electrodes from alloy powder with predominantly amorphous microstructure (216 mAh/g) obtained when using a Retsch planetary ball mill at low temperatures. Those discharge capacities are higher that those fur nanocrystalline $Mg_2Ni$ electrodes. However, the cyclic stability of those alloy powder electrodes was low. Therefore, fundamental stability studies were performed on $Mg_{63}Ni_{30}Y_7$ and $Mg_{50}Ni_{30}Y_{20}$ ribbon samples in the as-quenched state and after cathodic hydrogen charging by means of anodic and cathodic polarisation measurements. Gradual oxidation and dissolution of nickel governs the anodic behaviour before a passive state is attained. A stabilizing effect of higher fractions of yttrium in the alloy on the passivation was detected. During the cathodic hydrogen charging process the alloys exhibit a change in the surface state chemistry, i.e. an enrichment of nickel-species, causing preferential oxidation and dissolution during subsequent anodization. The effect of chemical pre-treatments in 1% HF and in $10\;mg/l\;YCl_3/1%\;H_2O_2$ solution on the surface degradation processes was investigated. A HF treatment can improve their anodic passivation behavior by inhibiting a preferential nickel oxidation-dissolution at low polarisation, whereas a $YCl_3/H_2O_2$ treatment has the opposite effect. Both pre-treatment methods lead to an enhancement of cathodically induced surface degradation processes.
Under pseudo-first order conditions, the monomeric species of Cr(VI) was found to be kinetically active in the absence of phenanthroline (phen) whereas in the phen-promoted path, the Cr(VI)-phen complex undergoes a nucleophilic attack by etane-1,2-diol to form a ternary complex which subsequently experience a redox decomposition leading to hydroxy ethanal and Cr(III)-phen complex. The effect of the cationic surfactant (CPC), anionic surfactant (SDS) and neutral surfactant (TX-100) on the unpromoted and phen-promoted path have been studied. Micellar effects have been explained by considering the preferential partitioning of reactants between the micellar and aqueous phase. Combination of TX-100 and phenanthroline will be the ideal for chromic acid oxidation of ethane-1,2-diol in aqueous media.
Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
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v.9
no.2
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pp.157-161
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1999
We investigated the effect of mechanical back side damage in Czochralski silicon wafer. The intensity of mechanical damage was evaluated by minority carrier recombination lifetime by laser excitation/microwave reflection photoconductance decay ($\mu$-PCD) technique, wet oxidation/preferential etching methods, near surface micro defect (NSMD) analysis, and X-ray section topography. The data indicate that the higher the mechanical damage intensity, the lower the minority carrier lifetime, and NSMD density increased proportionally, also correlated to the oxidation induced stacking fault (OISF) density. Thus, NSMD technique can be used separately from conventional etching method in OISF measurement.
Journal of the Korean institute of surface engineering
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v.52
no.5
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pp.251-257
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2019
Fe-9Cr-2W steels were corroded at $600-800^{\circ}C$ for up to 100 hr in ($Na_2SO_4-K_2SO_4-Fe_2O_3$)-($CO_2-0.3%SO_2-6%O_2$) mixed gas. The poor condition samples formed thick oxide scales that consisted primarily of $Fe_2O_3$ as the major oxide and $Fe_3O_4$, FeO as the minor one through preferential oxidation of Fe. Fe-9Cr-2W steels corroded fast, forming thick and non-protective scale. The scale divided into the outer and inner layer, which consisted of the outer Fe-O layer and the inner (Fe,Cr)-O layer containing some (Fe,Cr)-S.
Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference
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2005.06a
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pp.225-229
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2005
We have designed micro-fuel processor system, which consists of a steam reforming area and a PROX(preferential oxidation) area. Micro-fuel processor system generates $H_2$ rich gas from a methanol. In our experiment, we have integrated micro-fuel processor system using low temperature cofired ceramics (LTCC) process because LTCC is superior to other materials principally due to their high thermal and chemical stability, simpler fabrication processes, and lower materials cost. Therefore, we have studied and integrated micro-fuel processor system containing embedded heaters, cavities, and 3D structures of micro-channel with LTCC. Also we have optimized the LTCC process.
Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
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v.5
no.4
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pp.408-413
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1995
We investigated the effect of mechanical backside damage upon minority carrier recombination lifetime measurement in Czochralski silicon substrate by laser excitation/microwave reflection photoconductance decay method. The intensity of mechanical damage was evaluated by X-ray double crystal rocking curve, X-ray section topography and wet oxidation/preferential etch methods. The data indicate that the higher the mechanical damage intensity, the lower the minority carrier lifetime, and the threshold full width at half maximum value which affect minority carrier lifetime measurement is about 13 secs.
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