• 한국전기전자재료학회논문지
• /
• 제20권3호
• /
• pp.250-256
• /
• 2007

We analyzed the effect of a pixel and all the inter-electrode capacitances in a unit pixel of TFT-LCDs on the gray scale capability. The pixel and all the inter-electrode parasitic capacitances were obtained from the tree dimensional profiles of potential distribution and molecular director considering lateral fields generated at the edge of the pixel. To obtain the RMS and kickback voltages of the pixel, we constructed an equivalent circuit of the panel containing all the parasitic capacitances. The calculation was performed though H-SPICE. As results, we confirmed that the pixel becomes smaller, the effect of parasitic capacitances on the gray scale capability becomes larger.

• Journal of Power Electronics
• /
• 제16권1호
• /
• pp.374-387
• /
• 2016

This paper derives an improved analytical model to estimate switching loss and analyze the effects of parasitic elements on the switching performance of SiC MOSFETs. The proposed analytical model considers the parasitic inductances, the nonlinearity of the junction capacitances and the nonlinearity of the trans-conductance. The turn-on process and the turn-off process are illustrated in detail, and equivalent circuits are derived and solved for each switching transition. The proposed analytical model is more accurate and matches better with experimental results than other analytical models. Note that switching losses calculated based on experiments are imprecise, because the energy of the junction capacitances is not properly disposed. Finally, the proposed analytical model is utilized to account for the effects of parasitic elements on the switching performance of a SiC MOSFET, and the circuit design rules for high frequency circuits are given.

• 대한전자공학회논문지SD
• /
• 제37권7호
• /
• pp.7-16
• /
• 2000

본 논문에서는 DRAM 셀 내의 셀 캐패시턴스 및 기생 캐패시턴스를 수치 해석적으로 계한하여 추출하는 방법과 그 적용 예를 보고한다. 셀 캐패시턴스 및 기생 캐패시턴스를 계산하기 위하여 유한요소법을 적용하였다. 시뮬레이션의 구조를 정의하기 우하여, 마스크 레이아웃 데이터 및 공정 레시피를 이용한 토포그래피 시뮬레이션을 수행하고, 토포그래피 시뮬레이션을 통해 DRAM 셀 구조를 생성하기 위해 필요한 데이터를 얻었다. 이를 기반으로 하여, 마스크 데이터 기반의 3차원 솔리드 모델링 방법을 적용하여 시뮬레이션 구조를 생성하였다. 시뮬레이션에 사용된 구조는 $2.25{\times}175{\times}3.45{\mu}m^3$ 크기이며, 4개의 셀 캐패시터를 갖는다. 또한 70,078개의 노드와 395,064개의 사면체로 구성되었다. 시뮬레이션을 위해 ULTRA SPARC 10 웨크스테이션에서 약 25분의 CPU 시간을 소요하였으며, 약 201메가바이트의 메모리를 사용하였다. 시뮬레이션을 통하여 계산된 셀 캐패시턴스는 셀당 24fF이며, DRAM 셀 내에서 가장 주요한 기생 캐패시턴스 성분을 규명하였다.

• 센서학회지
• /
• 제21권3호
• /
• pp.235-239
• /
• 2012

This paper presents frequency response compensation technique, and a self-oscillation circuit for capacitive microresonator with the compensation technique using programmable capacitor array, to compensate for the frequency response distorted by parasitic capacitances, and to obtain stable oscillation condition. The parasitic capacitances between the actuation input port and capacitive output port distort the frequency response of the microresonator. The distorted non-ideal frequency response can be compensated using two programmable capacitor arrays, which are connected between anti-phased actuation input port and capacitive output port. The simulation model includes the whole microresonator system, which consists of mechanical structure, transimpedance amplifier with automatic gain control, actuation driver and compensation circuit. The compensation operation and oscillation output of the system is verified with the simulation results.

• 전자공학회논문지D
• /
• 제36D권5호
• /
• pp.44-53
• /
• 1999

본 논문에서는 반도체 집적 회로의 다층 배선 인터커넥트 사이의 기생 캐패시턴스를 수치 해석적으로 계산하여 추출하는 새로운 방법과 그 적용 예를 보고한다. 기생 캐패시턴스를 시뮬레이션을 통해 추출하기 위하여, 복잡한 형태의 3차원 대층배선 구조물을 유한요소법을 이용하여 해석하였다. 캐패시턴스를 추출하기 위한 3차원 다층배선 구조물은 3차원 변환 정보를 가진 2차원 평면 마스크 레이아웃 데이터로부터 생성하였다. 시뮬레이션 결과의 정확도를 검증을 위하여 8.0×8.0×5.0㎛\sup 3\ 크기의 영역에 평행한 두 도전층이 상하로 교차한 구조에 대하여 실험치와 비교하였다. 3차원 다층배선 구조물의 기생 캐패시턴스 추출을 위해서, 유한 요소법 적용을 위한 1,960개의 노드와 8,892개의 사면체 메쉬를 생성하였으며, ULTRA SPARC 1 워크스테이션에 대해서 소요된 CPU 시간은 28초이었으며, 4.4 메가바이트의 메모리를 사용하였다.

• 대한전자공학회논문지SD
• /
• 제40권12호
• /
• pp.10-16
• /
• 2003

에어브리지의 기생 커패시턴스의 영향을 분석하기 위해 CPW PHEMT의 기존 cold-FET 회로모델에 게이트-에어브리지의 기생 커패시턴스(C/sub ag/)차 드레인-에어브리지의 기생 커패시턴스(C/sub ad/)를 더해주었다. 또한 제안된 모델을 사용하여 소자의 parameter들을 추출하여, 그 존재를 확인하였다. 본 논문에서는 에어브리지에 의해 생성되는 기생 커패시턴스의 영향을 연구하기 위해 에어브리지의 여러 연결방법을 CPW PHEMT 제작에 접목시켰다. 또한 핀치오프상태의 cold-FET에 대한 개선된 등가회로 모델을 제시하여 에어브리지에 의한 기생 커패시턴스가 소자 특성에 어떤 영향을 주는 가를 분석하였다. 제작된 CPW PHEMT의 측정 결과로부터, 기생 커패시턴스 C/sub ag/와 C/sub ad/가 소자의 S/sub 21/ 이득을 감소시키는 중요한 요소임을 확인하였다.

• 대한전기학회:학술대회논문집
• /
• 대한전기학회 2005년도 춘계학술대회 논문집 전기기기 및 에너지변환시스템부문
• /
• pp.55-57
• /
• 2005

This paper deals with the analysis of bearing current in H-bridge seven level multilevel inverter fed induction motor. In the previous researches utilized electromagnetic equations to derive the parasitic capacitance or measured capacitance parameters, but we used FEM to derive parasitic capacitances and defined the equivalent circuit parameters in our strategy. Then we compared suggested method with conventional method in 60 [Hz] no load condition.

• 전기학회논문지
• /
• 제67권4호
• /
• pp.522-530
• /
• 2018

This study proposes the mitigation method of shaft voltage by varying the parasitic capacitance. First, the shaft voltage explained. Second, the parasitic capacitances causing shaft voltage are analyzed respect to geometry of motor and windings. Then, the equivalent circuit is established to obtain the shaft voltage and output torque characteristic and develope appropriate motor structure. Finally, simulation and experiment are conducted to verify that modified motor suppress the shaft voltage. This novel model does not require additional hardware.

• 산업기술연구
• /
• 제29권B호
• /
• pp.187-191
• /
• 2009

Recently, we have used LEDs to illumination because it has a high luminous efficiency and prolong lifespan. However the light power and lifetime is reduced by junction temperature increment of LED. So it is important to measure the junction temperature accurately. In case of using a electrical method measuring junction temperature of LED. Temperature measurement errors are spontaneously generated because of a parasitic capacitances in LED. In this paper, we proposed a method that reducing LED's parasitic capacitance effects for electrical measurement. It was demonstrated by the experimental result that is more correct than established method.

• 대한전자공학회논문지
• /
• 제25권1호
• /
• pp.101-107
• /
• 1988

This paper proposes a circuit extractor which extracts a netlist from the CIF input file cntaining the layout mask artwork informations. The circuit extractor extracts transistors and their interconnections, and calculates circuit parameter such as parasitic resistance and parasitic capacitance from the mask informations. When calculating the parasitic resistance, we consider the current flow path to reduce the errors caused by the resistance approximation. Similarly, we consider the coupling capacitance which has an effect on the circuit characteristics, when the parasitic capacitances are calculated. Therefore, using these parameter values as an input to circuit simulation, the circuit characteristics such as delay time can be estimated accurately. The presented circuit extraction algorithm uses a multiple storage quad tree as a data sturucture for storing and searching the 2-dimensional geometric data of mask artwork. Also, the proposed algorithm is technologically independent to work across a wide range of MOS technologies without any change in the algorihm.