Purpose: The problem for the traditional control chart is that it is unable to monitor the very small fraction of nonconforming and the underlying distribution is the normal distribution. $Z_p$ control chart is useful where it controls the vert small fraction on nonconforming. In this study, we will design the $Z_p$ control chart in order to use under non-normal process. Methods: $Z_p$ is calculated not by failure rate based on attribute data but using variable data. Control limit for non-normal $Z_p$ control chart is designed based on ${\alpha}$-risk calculated by cumulative distribution function of Burr distribution. ${\beta}$-risk, which is for performance evaluation, obtains in the Burr distribution's cumulative distribution function and control limit. Results: The control limit for non-normal $Z_p$ control chart is designed based on Burr distribution. The sensitivity can be checked through ARL table and OC curve. Conclusion: Non-normal $Z_p$ control chart is able to control not only the very small fraction of nonconforming, but it is also useful when $Z_p$ distribution is non-normal distribution.
Recently, the control chart is developed for monitoring processes with normal short production runs by the coefficient of variation(CV) characteristic for a normal distribution. This control chart does not work well in non-normal short production runs. And most of industrial processes are known to follow the non-normal distribution. Therefore, the control chart is required to be developed for monitoring the processes with non-normal short production runs by the CV characteristics for a non-normal distribution. In this paper, we suggest the control chart for monitoring the processes with a gamma short runs by the CV characteristics for a gamma distribution. This control chart is denoted by the gamma CV control chart. Futhermore evaluated the performance of the gamma CV control chart by average run length(ARL).
It is an important and urgent issue to improve process capability in quality control. Process capability refers to the uniformity of the process. The variability in the process is a measure of the uniformity of output. A simple, quantitative way to express process capability, the degree of variability from target in specification is defined by process capability index(PCI). Almost process capability indices are defined under normal distribution. However, these indices can not be applied to the process of non-normal distribution including reliability. We investigate current research on the process of non-normal distribution, and advanced method and technology for developing more reliable and efficient PCI. Finally we suggest the perspective for future study.
Communications for Statistical Applications and Methods
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제15권2호
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pp.161-171
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2008
This study discusses Johnson's $S_U$-normal distribution capturing a wide range of non-normality in various regression models. We provide the likelihood inference using Johnson's $S_U$-normal distribution, and propose a likelihood ratio (LR) test for normality. We also apply the $S_U$-normal distribution to the binary and censored regression models. Monte Carlo simulations are used to show that the LR test using the $S_U$-normal distribution can be served as a model specification test for normal error distribution, and that the $S_U$-normal maximum likelihood (ML) estimators tend to yield more reliable marginal effect estimates in the binary and censored model when the error distributions are non-normal.
For credit evaluation models, we extend the study of discriminatory power based on AUC obtained from a ROC curve when the number of defaults is small and distribution functions of the defaults and non-defaults are normal distributions. Since distribution functions do not satisfy normality in real world, the distribution functions of the defaults and non-defaults are assumed as normal mixture distributions based on results that the normal mixture could be better fitted than other distribution estimation methods for non-normal data. By using several AUC statistics, the discriminatory power under such a circumstance is explored and compared with those of normal distributions.
Appropriate random variables and probability density functions based on statistical analysis should be defined to execute reliability analysis. Most studies have focused on only normal distributions or assumed that the variables showing non-normal characteristics follow the normal distributions. In this study, the reliability problem with non-normal probability distribution was dealt with using the convolution method in the case that the integration domains of variables are limited to a finite range. The results were compared with the traditional method (linear transformation of normal distribution) and Monte Carlo simulation method to verify that the application was in good agreement with the characteristics of probability density functions with peak shapes. However it was observed that the reproducibility was slightly reduced down in the tail parts of density function.
Control chart is most widely used in SPC(Statistical Process Control), Recently it is a critical issue that the standard control chart is not suitable to non-normal process with very small percent defective. Especially, this problem causes serious errors in the reliability procurement, such as semiconductor, high-precision machining and chemical process etc. Procuring process control technique for non-normal process with very small percent defective and perturbation is becoming urgent. Control chart technique in non-normal distribution become very important issue. In this paper, we investigate on research trend of control charts under non-normal distribution with very small percent defective and perturbation, and propose some variable-transformation methods applicable to CUSUM control charts in non-normal process.
The predictive density function of a potential future observation and its first four moments are obtained in this paper to study the effects of a non-normal prior of the unknown mean of a normal population. The derived predictive density function is modified to study changes in utility curves, used to choose the optimum treatment from a given set of treatments, at a given level of stimulus due to slight deviations from normality of the prior distribution. Numerical illustrations are provided to exhibit some effectsl.
Control chart is most widely used in SPC(Statistical Process Control), Recently it is a critical issue that the standard control chart is not suitable to non-normal process with very small percent defective. Especially, this problem causes serious errors in the reliability procurement, such as semiconductor, high-precision machining and chemical process etc. Procuring process control technique for non-normal process with very small percent defective and perturbation is becoming urgent. Control chart technique in non-normal distribution become very important issue. In this paper, we investigate on research trend of control charts under non-normal distribution.
This paper considers an algorithm using Johnson transformation to calculate process capability index for non-normal distribution. Johnson transformation is well known as one of methods transforming the data with non-normal distribution to normal data.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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