To develop an imaging optical system for the 545 nm fluorescent plate of X-ray. Methods: We designed and manufactured a new imaging optical system for the 545 nm fluorescent plate of X-ray by Sigma 2000 program after deciding the design comparison standards referred to Canon CX2-70 model. Results: The characteristics of the new imaging optical system for the 545 nm fluorescent plate of X-ray have the magnification of -0.225x, the image field size of $90mm{\times}90mm$, and the 0.033 mm resolution line width at the 30% MTF value criterion. These mean that the new model has a capability of deciphering for the more large screen and the resolution of deciphering is superior to that of Canon CX2-70 model. Also the image side NA (-0.196) of the new model is about $\sqrt{2}$ times than that (-0.139) of CX2-70 and the object side NA (0.044) of the new model is about 2 times than that (0.022) of CX2-70. These mean that the sensitivity of the film in the new design model is able to be increased to about 4 times and there is the possibility of reducing the bombed time of X-ray to 1/4 times. Conclusions: We could design and manufacture the imaging optical system for the 545 nm fluorescent plate of X-ray having the possibility of reducing the bombed time of X-ray to 1/4 times in comparision to Canon CX2-70 model, the characteristics of which have the image field size of $90mm{\times}90mm$ and the MTF of 30% or more at 15 lines/mm criterion.
Journal of the Institute of Convergence Signal Processing
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v.2
no.4
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pp.46-52
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2001
In this paper it was examined both imaging system and processing algorithm for imaging's high speedization of fluorescent X-ray computed tomography using synchrotron radiation, The electronic system was used for dead time by about 6% but shortening of measure time was achieved by 2 seconds per 1 point. Also efficiency of reconstruction algorithm was proved, and memory and calculation amount was decreased by about 1/100 The fixed quantity was confirmed by physical phantom, and iodine distribution was presumed from image of thyroid gland in vitro These result shows realization possibility of fluorescent X-ray computed tomography measure in vivo.
Proceedings of the Korean Institute of Industrial Safety Conference
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1998.11a
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pp.173-177
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1998
In this paper, we reported an outbreak of fire hazard of ballast for fluorescent lamp. The surface structure and composition of ballast coil analyzed by using metallurgical microscope, scanning electron microscope(SEM) and energy dispersive x-ray spectroscopy(EDX). The surface of molten mark appeared columnar structure and void. EDX analysis indicated that the molten mark spectra were composed not only of the corresponding original spectra but also of several new lines.
Two metal-organic frameworks based on the connectivity co-effect between rigid benzenedicarboxylic acid and bridging ligand have been synthesized $[Zn_2(3-NO_2-bdc)_2(4,4'-bpy)_2H_2O]_n$ (1), $[Co(3-NO_2-bdc)(4,4'-bpy)H_2O]_n$ (2) (where $3-NO_2-bdcH_2$ = 3-nitro-1,2-benzenedicarboxylic acid, 4,4'-bpy = 4,4'-bipyridine). The two novel complexes were characterized by IR spectrum, elemental analysis, fluorescent properties, thermogravimetric analysis, single-crystal X-ray diffraction and powder X-ray diffraction (PXRD). X-ray structure analysis reveals that 1 and 2 are two-dimensional (2D) network structures. Complex 1 and complex 2 belong to triclinic crystal with P-1 space group. The luminescence measurements reveal that two complexes exhibit good fluorescent emissions in the solid state at room temperature. Also, thermal decomposition process and powder X-ray diffraction of complexes were investigated.
In cement industry in which three or more raw materials are used, the proportioning of raw materials is an essential step. When the materials are proportioned, each should be as nearly homogeneous chemically and physically as conditions permit. Most of th
Total reflection X-ray fluorescence spectroscopy using synchrotron radiation source called as TRSFA was explored to achieve high sensitivities to impurity metals on Si wafer surface. It consists of monochromating part to select a specific wavelength, slit part to shield direct beam and to control monochromated beam, and main chamber to dectect fluorescent X-ray counts of impurities on si wafer. Monochromated X-ray of 10.90 KeV was selected and the optimum total reflection condition on silicon wafer was obtained through tuning the dead time and fluorescent X-ray count of Si and Fe. TRSFA system could increase the sensitivity as high as 50 times in comparision with TRXFA using normal X-ray source. But the trend was varied since the surface conditions of Si wafers and, therefore, the reflectivities were different. Furthemore, there seems to be a promising path to reaching a detection limit useful to the next generation metal impurities control, because Fe impurity below to the $5\times10^{9}\textrm{atomas/cm}^2$ can be detectable through the developed TRSFA system.
By using the buildup characteristics of the radiophotoluminescence glass dosimeter(RPLGD), it is aimed to help the measurement of the accurate dose by measuring the radiation dose according to the time of the glass element. Five glass elements were arranged on the table and the source to image receptor distance(SID) was set to 100 cm for the build-up radiation dose measurement of the fluorescent glass dosimeter glass element(GD-352M). Radiation doses and saturation rates were measured over time according to irradiation time, with the tube voltage (30, 60, 90 kVp) and tube current (50, 100 mAs) Repeatability test was repeated ten times to measure the coefficient of variation. The radiation dose increased from 0.182 mGy to 12.902 mGy and the saturation rate increased from 58.3% with increasing exposure condition and time. The coefficient of variation of the glass elements of the fluorescent glass dosimeter was ranged from 0.2 to 0.77 according to the X - ray exposure conditions. X - ray exposure showed that the radiation dose and saturation rate were increased with buildup characteristics, and degeneration of glass elements was not observed. The reproducibility of the variation coefficient of the radiation generator was included within the error range and the reproducibility of the radiation dose was excellent.
Proceedings of the Korean Society of Medical Physics Conference
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2002.09a
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pp.407-410
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2002
Monochromatic x-ray CT has several advantages over conventional CT, which utilizes bremsstrahlung white x-rays from an x-ray tube. There are several methods to produce such monochromatic x-rays. The most popular one is crystal diffraction monochromatization, which has been commonly used because of the fact that the energy spread is very narrow and the energy can be changed continuously. The alternative method is the use of fluorescent x-ray, which has several advantages such as large beam size and fast energy change. We have developed a parallel-beam and a fan-beam monochromatic x-ray CT, and compared some characteristics such as accuracy of CT numbers between those systems. The fan beam monochromatic x-rays were generated by irradiating target materials by incident white x-rays from a bending magnet beam line NE5 in 6.5 GeV Accumulation Ring at Tukuba. The parallel beam monochromatic x-rays were generated by using a silicon double crystal monochromator at the bending magnet beam line BL-20BM in Spring-8. A Cadmium telluride (CdTe) 256 channel array detector with 512mm sensitive width capable of operating at room temperature was used in the photon counting mode. A cylindrical phantom containing eight concentrations of gadolinium was used for the fan beam monochromatic x-ray CT system, while a phantom containing acetone, ethanol, acrylic and water was used for the parallel monochromatic x-ray CT system. The linear attenuation coefficients obtained from CT numbers of those monochromatic x-ray CT images were compared with theoretical values. They showed a good agreement within 3%. It was found that the quantitative measurement can be possible by using the fan beam monochromatic x-ray CT system as well as a parallel beam monochromatic X-ray CT system.
Kim, Jun-Hwan;Ha, Jun-Seok;Kim, Ki-Hoon;Song, Oh-Sung
Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society
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v.10
no.12
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pp.3540-3545
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2009
Due to recent development of high temperature high pressure(HTHP) diamond synthetic and treatment technology, we need to identify the natural diamonds fast, reliable, and economically. We proposed using new method of UV fluorescence and X-ray Lang topography imaging for distinguishing one synthetic diamond from four natural colored diamonds. We observe unique local stress field uneven image in synthetic diamond using UV fluorescence and Lang topography characterization, while uniform images in natural diamonds. Especially, X-ray Lang method offered the better identification power with better high resolution on stress field images.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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