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Identification of natural colored diamonds using UV fluorescent and X-ray Lang images

UV 형광과 X-선 Lang 표면이미지를 이용한 천연유색다이아몬드의 감별 연구

  • Kim, Jun-Hwan (Department of Materials Science and Engineering, University of Seoul) ;
  • Ha, Jun-Seok (Solid State Lighting and Energy Center, Materials department, University of California) ;
  • Kim, Ki-Hoon (Department of Materials Science and Engineering, University of Seoul) ;
  • Song, Oh-Sung (Department of Materials Science and Engineering, University of Seoul)
  • Published : 2009.12.31

Abstract

Due to recent development of high temperature high pressure(HTHP) diamond synthetic and treatment technology, we need to identify the natural diamonds fast, reliable, and economically. We proposed using new method of UV fluorescence and X-ray Lang topography imaging for distinguishing one synthetic diamond from four natural colored diamonds. We observe unique local stress field uneven image in synthetic diamond using UV fluorescence and Lang topography characterization, while uniform images in natural diamonds. Especially, X-ray Lang method offered the better identification power with better high resolution on stress field images.

보석용 다이아몬드의 합성, 처리기술의 발달로 천연 유색다이아몬드를 신속하고, 경제적이고, 재현성있게 감별할 필요가 커지고 있다. 천연다이아몬드의 감별을 위해 UV광원에 의한 다이아몬드의 형광 이미지 분석과 X-ray Lang 분석을 통하여 4개의 천연 유색다이아몬드와 1개의 합성 유색다이아몬드를 분석하여 보았다. 천연다이아몬드가 UV 형광이미지와 X-선 Lang분석에 대해 상대적으로 균일한 이미지를 보임에 비해 합성석은 국부적으로 균일한 이미지를 보여 효과적인 감별이 가능하였다. 특히 X-선 Lang 이미지 분석이 천연 유색다이아몬드의 감별에 더 높은 분해능으로 효과적인 감별이 가능하였다.

Keywords

References

  1. 2008년 다이아몬드 수입현황, 귀금속경제신문, 2009년 3월 11일
  2. Theisen, Verena Pagel, tmecca, Diamond Grading ABC, pp.22-26. 2001.
  3. G. E. Harlow: The Nature of Diamonds, American Museum of Natural History, Cambridge University Press, New York, 214-272, 1998.
  4. R. Abbaschian, H. Zhu, C. Clarke: High pressure-high temperature growth of diamond crystals using split sphere apparatus, Diamond and Related Materials 14 1916-1919, 2005. https://doi.org/10.1016/j.diamond.2005.09.007
  5. Chodelka Robert, U.S.Patent No.2006292302
  6. 송오성, 한국표면공학회, 한국표면공학회지 제39권 제5호 10, pp. 229-234, 2006.
  7. H. Bubert, H. Jenett, Wiley-VCH, Surface and thin film analysis : principles, instrumentation, applications, pp.106-112, 2002.
  8. C. M. Welbourn, M. Cooper, and P. M. Spear: De Beers natural versus synthetic diamond verification instruments, Gem & Gemology, Vol. 32, No. 3, 156-169, 1996. https://doi.org/10.5741/GEMS.32.3.156
  9. A. R. Lang: Some Bristol-Prague explorations in X-ray topography, J. Phys. D. Appl. Phys. 38, 2005.