• 대한전자공학회:학술대회논문집
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• 대한전자공학회 1999년도 추계종합학술대회 논문집
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• pp.275-278
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• 1999

In this paper, Dual PFD(Phase Frequency Detector) with improved phase locking time is proposed. The proposed PFD consists of positive and negative edge triggered D flip-flop. In order to confirm the characteristics of proposed PFD, HSPICE simulations are performed using a 0.25${\mu}{\textrm}{m}$ CMOS process. As a result of simulations, the proposed PFD has a characteristic of fast phase locking time with dead zone free.

• 한국정보통신학회:학술대회논문집
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• 한국해양정보통신학회 2003년도 추계종합학술대회
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• pp.385-388
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• 2003

본 논문에서 제안하는 PFD(Phase Frequency Detector)는 Reset을 줄여 응답 속도의 특성을 향상시키기 위해 기존 회로인 Flip-Flop의 D-Latch circuit를 Memory Cell로 대신한 회로이다. 회로의 특성을 검증하기 위해 HSPICE Tool를 이용 simulation 하였으며 Hynix 0.35um CMOS 공정을 사용하였다.

• 한국초전도저온공학회:학술대회논문집
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• 한국초전도저온공학회 2003년도 학술대회 논문집
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• pp.140-142
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• 2003

We have designed a SFQ (Single Flux Quantum) D2 Cell and Inverter(NOT) for a superconducting ALU (Arithmetic Logic Unit). To optimize the circuit, we have used Julia, XIC and Lmeter for simulations and layouts. We obtained the circuit margin of larger than $\pm$25%. After layout, we drew chip for fabrication of SFQ D2 Cell and Inverter. We connected D2 Cell and Inverter to jtl, DC/SFQ, SFQ/DC and RS flip-flop for measurement.

• 대한전자공학회논문지
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• 제12권4호
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• pp.1-6
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• 1975

본 논문은 Platen동작제어에 의한 한글델레타이프외 세가지 제어논리회로를 설계검토하였다. 일반적인 논리회로 구성방법에 의한 설계결과, 상태, 상태변이함수 그리고 출력함수외 순서로 설계한 Pulse mode의 제어회로가 가장 간단하였다. 이때 필요한 기억소자는 D Flip-Flop 2회 뿐이었다.

• 대한전기학회:학술대회논문집
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• 대한전기학회 1983년도 하계학술회의강연.논문초록집
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• pp.234-236
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• 1983

본 논문은 펄스형 순차회로(pulse mode sequential circuit)를 설계하는데 필요한 여러가지 복잡한 단계의 간소화를 목적으로 한, 컴퓨터를 이용한 회로 설계법을 제안하고자 한다. 여기서 제안된 방법에 의하면 여러 종류의 플립-플롭 (flip-flop)에 대한 회로의 설계를 반복 시행하고, 또 다출력 함수 최소화(multiple output function minimization) 방법을 적용함으로 해서 거의 적소에 가까운 비용으로 원하는 회로를 설계할 수 있다. 제안된 회로 설계법의 프로그램은 포트란(FORTRAN)으로 작성되었으며, 이에 의한 실에의 예와 그 결과를 종래 방법에 의한 것과 비교, 분석했다.

• ETRI Journal
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• 제38권3호
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• pp.479-486
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• 2016

System-on-chip (SoC) designs have a number of flip-flops; the more flip-flops an SoC has, the longer the associated scan test application time will be. A scan shift operation accounts for a significant portion of a scan test application time. This paper presents physical-aware approaches for speeding up scan shift operations in SoCs. To improve the speed of a scan shift operation, we propose a layout-aware flip-flop insertion and scan shift operation-aware physical implementation procedure. The proposed combined method of insertion and procedure effectively improves the speed of a scan shift operation. Static timing analyses of state-of-the-art SoC designs show that the proposed approaches help increase the speeds of scan shift operations by up to 4.1 times that reached under a conventional method. The faster scan shift operation speeds help to shorten scan test application times, thus reducing test costs.

• 대한전자공학회논문지
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• 제22권1호
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• pp.68-74
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• 1985

이 논문에서는 standard cell의 layout을 위한 doglegging을 하지 않는 channel 배선 시스템에 대하여 서술할 것이다. 이 시스템은 주어진 net list specification을 만족시키기 위하여, 각각 standard cell 의 직선 배열 결합인 두 row 사이의 구평 track에서 이층의 최종 배선 패턴을 만들어 준다. 이 논문에서 사용한 CMOS cell library는 9개의 기본 cell을 가지고 있으며, Mead-Cogway 방식에서의 A-2micron을 사용하여 CIF(Caltech Intermediate From) 형태로 표현되었다. Component library에는 각 cell 내의 pin들의 이름. 위치 및 layer type 등의 입출력 port 특성이 저장되어서, CROUT라는 channel routing program에서 입력 자료로 사용된다. 또 다른 program NETPLOT은 routing 결과를 개략적으로 도시하여 주며, NETCIF에서는 최종의 자세한 layout을 CIF file로 만들어 주고 있다. 기본 cell을 이온하여 set/reset이 있는 dynamic Raster-slave형 D flip-flop에 대한 channel routing의 경우 VAX l1/780 에서 4초의 CPU 시간이 소요되었다.

• 한국전자통신학회논문지
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• 제9권12호
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• pp.1345-1352
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• 2014

최근에 SoC 버스구조의 대안으로 NoC가 대두되고 있으며, NoC에서 다중클럭이 사용되어 클럭의 주파수는 같지만 clock skew 등으로 인한 위상차이가 발생하므로 데이터 전송 시에 클럭에 대한 동기회로가 사용되고 있다. 본 논문에서는 NoC 클럭의 위상차가 발생하는 경우 데이터의 손실이 발생할 수 있는 불안정상태 (metastability)를 정의하고 분석한다. 180nm CMOS 공정 파라미터를 사용하여 래치와 플립플롭을 설계하고, 1GHz 클럭을 사용하여 모의실험을 수행하였다. 모의실험 결과에서 출력에 로직 1과 0이 아닌 중간 값을 가지는 불안정상태를 래치와 플립플롭에서 확인하였다. 그리고 불안정상태 값이 상당히 긴 시간 동안 존재하여 온도, 공정변수, 전원 크기 등의 주변 환경에 의하여 출력 값이 변할 수 있어 입력값을 손실할 수 있다는 것을 확인하였으며, 이러한 결과는 NoC에서 위상차 동기회로 설계 시에 유용하게 사용될 수 있을 것이다.

• 전기전자학회논문지
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• 제19권3호
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• pp.304-310
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• 2015

SCALDO(Supercapacitor Assisted LDO) 레귤레이터는 기존에 널리 사용되고 있는 SMPS(Switch Mode Power Supply)의 장점인 높은 효율과 LDO(Low Drop-out) 레귤레이터의 장점인 안정적인 출력 및 우수한 EMI(Electro Magnetic Interference)특성을 함께 가지는 레귤레이터로 현재 새롭게 연구되고 있는 전원회로이다. 하지만, 현재까지 연구된 SCALDO 레귤레이터의 경우 회로 내부의 스위치제어에 많은 전력이 소비되어 회로 전체의 효율이 감소되는 단점이 있다. 본 논문에서는 기존 SCALDO 레귤레이터의 단점을 극복하고 저전력으로 구동이 가능한 MOSFET를 SCALDO 레귤레이터에 적용함으로써 스위치제어 소비전력을 최소화하여 회로 전체의 효율을 향상시킨 새로운 SCALDO 레귤레이터를 구현 하였으며, 기존 SCALDO 대비 효율이 최대 9.5% 상승됨을 확인하였다. 또한 기존의 MCU(Micro-controller unit)를 이용한 펌웨어제어를 비교기 및 T-F/F(Flip Flop)을 이용한 하드웨어 제어로 대체함으로써 회로의 제작과정을 단순화 하였다.

• 한국정보통신학회:학술대회논문집
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• 한국해양정보통신학회 2008년도 추계종합학술대회 B
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• pp.600-603
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• 2008

본 논문은 액정 표시 소자 (liquid crystal display, LCD)의 저소비 전력을 위한 새로운 메모리-인-픽셀 회로 설계를 제안한다. 각 픽셀 (화소)이 한 개의 메모리를 가지고 있기 때문에 이러한 회로는LCD동작을 위해 게이트와 소스 구동 회로의 동작 없이도 메모리에 저장된 데이터를 이용하여 8컬러를 표현할 수 있다. 즉 구동 회로의 동작 없이도 각 화소에 내장된 메모리를 이용하여 데이터를 표현할 수 있기 때문에 LCD패널의 소비전력을 줄일 수 있다. 각 메모리 회로는 각 화소에 내장된 수정된 S-R플립플롭(NAND형)으로 구성되어 있고, 플립플롭은 겹치지 않는 클럭 CLK_A와 CLK_B를 이용하여 교류 바이어스를 공급한다. NAND형은 인버터형 메모리에 비해 회로는 더 복잡하지만, 약 50%의 더 낮은 소비전력 특성을 가진다. $96{\times}128$의 해상도를 가진 LCD패널에 대해 인버터형 메모리가 0.037 mW의 소비전력을 보인 반면 제안된 메모리 회로는 단지 0.007mW의 우수한 소비전력을 보였다.