• Proceedings of the KIEE Conference
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• 1990.11a
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• pp.110-114
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• 1990

Double Injection Switching Devices consist of $P^+$ and $n^+$ contact separated by a near intrinsic Semiconductor region containing deep trap. A V-Groove Double Injection Switching Devices were proposed for high voltage performance and Optical gating scheme. The experimental result to demonstrate the feasibility of these devices (Planar type, V-Groove type, Injection Gate mode, Optical Gate mode) for practical application are described.

• Journal of the Korean Vacuum Society
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• v.1 no.2
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• pp.254-258
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• 1992

Iodine 화학수송법으로 성장한 Ni-doped CdGa2Se4와 undoped CdGa2Se4 단결정 의 PL 및 PLE 스펙트럼을 조사하였다. Undoped CdGa2Se4 단결정의 PL 스펙트럼에서는 전도대아래 준 연속적으로 분포된 electron trap과 deep level, 그리고 가전자대 위 0.07eV, 0.12eV에 있는 acceptor level 사이의 전자전이에 의한 2개의 emission band를 2.13eV와 1.20eV 영역에서 관측하였으며, Ni-doped 단결정에서는 Ni2+ 이온의 여기상태 3T1(3P)와 바 닥상태 3T1(3F) 사이의 전자전이에 의한 emission band를 1.48eV 영역에서 관측하였다. 이 러한 결과로부터 제안된 CdGa2Se4의 energy band model은 본 연구의 PL mechanism을 설명하는데 가능함을 보여주었다.

• Animal Systematics, Evolution and Diversity
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• v.30 no.1
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• pp.9-15
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• 2014

Pagurus undosus and Pagurus parvispina, collected from the East Sea by fishery trap, are newly recorded from Korean waters. Pagurus undosus is distinguished from other hermit crab by its right cheliped slightly elevated medially, and with broad ridge formed by deep depressions mesial and lateral to midline. Pagurus parvispina is distinguished from other hermit crab by its right cheliped covered with large spine and long tufts of setae. These species live in cold water areas and their geographical distribution is extended southwardly by the present study. A specimen of the former species, P. undosus, was found living in a shelter formed by a sponge, similar to that observed in Pagurus pectinatus. Descriptions and figures of these two species are provided in this paper. Currently, 27 species of the genus Pagurus are recorded in Korean fauna.

• Proceedings of the Materials Research Society of Korea Conference
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• 1995.11a
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• pp.23-24
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• 1995

기존의 웨이퍼 박막속에 절연박막이 삽입된 SOI(Silicon On Insulator) 웨이퍼 구조와 관련한 반도체 기판 재료가 커다른 관심을 끌어 왔으나, SOI 평가기술은 아직까지 체계적으로 확립된 것이 없으며, DLTS(Deep Level Transient Spectroscopy) 등을 이용한 전기적 평가는 거의 이루어지지 않은 상태이다. 본 연구에서는 직접접합된 웨이퍼를 약 10um내외의 활성화층을 형성시킨 6인치 P-형 SOI 웨이퍼를 제작하여 DLTS로 측정, 평가를 하였고, DLTS 측정후 관찰될 수 있는 에어지 트랩(Energy Trap)과 후속 열처리에서의 트랩의 변화등을 관찰하여, 후속 열처리조건에 따른 접합된 SOI 웨이퍼 계면의 안정화된 조건을 확보하였다.

• Proceedings of the KIEE Conference
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• 1989.11a
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• pp.83-86
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• 1989

Electrical conductivity, I - V and DLTS have been measured on polycrystalline samples of $\alpha-Fe_{2}O_{3}$ containing small deviation from stoichiometry and small amounts of added titanium. DLTS (Deep Level Transient Spectroscopy) in the current transient mode has been applied to the measurement of the trap density at the grain boundary. Titanium enters the $\alpha-Fe_{2}O_{3}$ lattice substitutionally as $Ti^{4+}$, thus producing an $Fe^{2+}$ and maintaining the average charge per cation at three. The $Fe^{2+}$acts as a donor center with respect to the surrounding $Fe^{3+}$ions.

• Korean Journal of Optics and Photonics
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• v.10 no.6
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• pp.482-486
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• 1999

Ultrafast carrier dynamics of LT-GaAs semiconductors was investigated by using time-resolved photoreflectance spectroscopy. We can see that decay dynamics of photoreflectance generated by carriers depends strongly on the excitation wavelength due to the structure distortion of LT-GaAs semiconductors. Ultrafast trapping of excited carriers into deep trap states gives rise to transient photoreflectance decays with a lifetime shorter than 1 ps. Also, the long-lived photoreflectance is attributed to the carriers trapped deeply at point defects. fects.

• Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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• v.11 no.10
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• pp.763-767
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• 1998

In this paper, it is investigated how the morphology and electrical properties in Polyphenylene Sulfide(PPS) changed by uniaxial elongation. XRD(X-ray diffraction) pattern shows that interplanar distance and crystallinities are decreased by increasing elongation ratio. electrical conduction mechanism of PPS is explained as Schottky emission mechanism. the electrical current is decreased by increasing elongation ratio. The conductivity is changed considerably above the glass transition temperature around 82(>$^{\circ}C$). The band gap of PPS is evaluated as 3.7~4(eV)

• Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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• v.13 no.5
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• pp.365-370
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• 2000

Schottky contacts on n-In$\_$0.53//Ga$\_$0.47//As have been made by metal deposition on substrates cooled to a temperature of 77K. The current-voltage and capacitance-voltage characteristics showed that the Schottky diodes formed at low temperature had a much improved barrier height compared to those formed at room temperature. The Schottky barrier height ø$\_$B/ was found to be increased from 0.2eV to 0.6eV with Ag metal. The saturation current density of the low temperature diode was about 4 orders smaller than for the room temperature diode. A current transport mechanism dominated by thermionic emission over the barrier for the low temperature diode was found from current-voltage-temperature measurement. Deep level transient spectroscopy studies exhibited a bulk electron trap at E$\_$c/-0.23eV. The low temperature process appears to reduce metal induced surface damage and may form an MIS (metal-insulator-semiconductor)-like structure at the interface.

• Electrical & Electronic Materials
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• v.3 no.3
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• pp.195-204
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• 1990

본 논문에서는 컴퓨터를 근본으로 한 Deep Level Transient Spectroscopy (DLTS) 장치를 구성하고 이를 이용하여 P형 Si MOS 캐패시터의 Si- $SiO_{2}$ 계면상태를 측정하여 트랩의 활성화에너지와 포획단면적 그리고 계면트랩밀도를 조사하였다. 실리콘 band gap내에 연속적으로 분포하고 있는 계면트랩을 상세히 고찰하기 위해 quiescent 전압의 위치를 변화시키면서 0.1volt의 미소한 펄스를 MOS에 주입하여 그 각각이 분리된 트랩이라고 생각되는 매우 좁은 에너지 영역에서 나오는 DLTS신호를 측정하였다. 또한 quiescent 전압의 위치, 주입펄스전압의 진폭 그리고 rate window의 선택이 DLTS 신호에 미치는 영향 등을 조사하였다. 측정결과, 계면트랩의 활성화에너지는 가전자대로 부터 0.16-0.45eV이고 포획단면적은 1.3*$10^{-19}$~3.2*$10^{-15}$$cm^{2}$, 계면트랩밀도는 1.8*$10^{10}$ ~ 2.5*$10^{11}$$cm^{-2}$e$V^{-1}$로 측정되었다.

• Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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• 2000.02a
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• pp.112-112
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• 2000

직접 천이형 물질인 GaN는 그 연구가 활발히 진행되어 청색 발광 및 레이저 다이오드 구현을 이룩하였고, 열적인 안정성이 뛰어나 고온, 고출력 소자용으로도 주목받을 뿐 아니라, piezoelectric, acoustioptic modulators와 negative electron affinity devices와 같은 소자개발도 유망하다. 그러나 이렇게 다양한 응용과 물리적 특성에도 불구하고 깊은 준위의 불순물에 대한 문제는 해결되지 않은 상태이다. 많은 연구에도 불구하고 GaN에 존재하는 불순물의 성격과 그것들이 전도대에 미치는 영향에 관해서는 잘 이해되지 않고 있다. 본 연구에서는 MBE로 성장된 undoped GaN 박막의 깊은 준위에 대한 연구를 위하여 TSC 장치를 이용하여 GaN 깊은 준위를 분석하였다. TSC 실험은 77K에서 400K 사이 온도의 전류 변화를 관찰하였으며 깊은 준위의 활성화 에너지 및 포획 단면적 그리고 방출 진동수를 구하기 위하여 Initial rise method, Peak shape method, Heating rate method, Peak temperature method 등을 이용하였다. 또한 trap의 origin을 밝히기 위해서 수소화를 한후에 TSC 측정을 해보았다.