Carrier Lifetime Analysis of Proton Irradiated SOl Wafer with Pseudo MOSFET Technology (Pseudo MOSFET 기술에 의한 양성자 조사 SOl 웨이퍼의 캐리어 수명 분석)
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- Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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- v.22 no.9
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- pp.732-736
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- 2009