In textured material, diffraction angle $2{\theta}$ usually shows a nonlinear relation against $sin^2{\psi}$ due to elastic anisotropy of crystals. SPHD and SPCD steel is cold-rolled carbon steel for automobile. The characteristics X-ray for stress measurement is Cr $K_{\alpha}\;and\;Mo\;K_{\alpha}$ characteristic X-ray. The $2{\theta}-sin^2{\psi}$ diagram under elastic strain seems to have a linear behavior using regression line of data but has a nonlinear behavior in distribution of data by Cr $K_{\alpha}$ characteristic X-ray. As the plastic strain of specimen increases, the nonlinearity of $2{\theta}$ with respect to $sin^2{\psi}$ increases remarkably. On the other hand, the diffraction angle $2{\theta}$ by Mo $K_{\alpha}$ characteristic X-ray shows a good linearity on $2{\theta}-sin^2{\psi}$ diagram under plastic strain as well as elastic strain. Therefore, this paper presents the measurement of residual stress in cold-rolled carbon steel for automobile using penetration depth of Mo $K_{\alpha1}$ characteristic X-ray and multiplicity factor of crystal diffraction plane.
Purpose: This study was to evaluate the beam quality of intraoral X-ray equipments used at Yonsei University Dental Hospital (YUDH) using the half value layer (HVL) and the characteristic curve of intraoral standard X-ray film. Materials and Methods : The study was done using the intraoral X -ray equipments used at each clinical department at YUDH. Aluminum filter was used to determine the HVL. Intraoral standard film was used to get the characteristic curve of each intraoral X-ray equipment. Results: Most of the HVLs of intraoral X-ray equipments were higher than the least recommended thickness, but the REX 601 model used at the operative dentistry department and the X-707 model used at the pediatric dentistry department had HVLs lower than the recommended thickness. The slopes of the characteristic curves of films taken using the PANP AS 601 model and REX 601 model at operative dentistry department, the X-70S model of prosthodontic dentistry department, and the REX 601 model at the student clinic were relatively low. Conclusion: HVL and the characteristic curve of X-ray film can be used to evaluate the beam quality of intraoral X-ray equipment. In order to get the best X-ray films with the least radiation exposure to patients and best diagnostic information in clinical dentistry, X -ray equipment should be managed in the planned and organized fashion.
The characteristic X-rays emitted from materials after gamma ray exposure was simulated and measured. A CdTe semiconductor detector and a $^{57}Co$ radiation source were used for energy spectroscopy. The types of materials could be identified by comparing the measured energy spectrum with the theoretical X-ray transition energy of the material. The sample composition was represented by the $K_{\alpha1}$-line (Siegbahn notations), which has the highest intensity among the characteristic X-rays of each atom. The difference between the theoretic prediction and the experimental result of K-line measurement was < 0.61% even if the characteristic X-rays from several materials were measured simultaneously. 2D images of the mixed materials were acquired with very high selectivity.
나노 공간분해능을 갖는 영상을 얻기 위한 경엑스선 현미경 시스템에서는 단색 엑스선이 요구된다. 엑스선관에서 발생되는 화이트 빔으로부터 8.4 keV의 텅스텐 $L_{\alpha}$ 특성방사선을 84% 이상 반사시킬 수 있는 5.65 nm의 단위막 두께를 가지는 C/W 다층박막 거울을 설계하였고, 이온빔 스파터링 장치를 이용하여 $50{\times}50\;mm$ 크기로 제작하였다. 제작된 C/W 다층박막 거울은 99.5% 이상의 균일도(Uniformity)를 가지며, TEM 사진을 이용해 그 구조를 확인하였다. 8.05 keV의 구리 특성방사선을 광원으로 하는 엑스선 반사율 측정 장치를 이용한 다층박막 거울의 반사율을 측정함으로써 C/W 다층박막 거울의 8.4 keV에서의 반사율을 예상할 수 있었다. 제작된 C/W 다층박막 거울과 엑스선관을 이용하여 8.4 keV의 특성방사선을 획득함으로써 단색 엑스선을 획득하였다. 이때의 반사율은 77.1%였고, 단색 엑스선의 반치폭은 0.21 keV이었다. 엑스선관에서 높은 효율로 단색 엑스선을 획득할 수 있어 실험실 규모의 경엑스선 현미경 장치의 광원으로써 사용될 수 있는 가능성을 확인하였고, 다층박막 거울의 단위막 두께를 수 나노미터로 제작한다면 17.5 keV의 몰리브덴 특성방사선에 해당하는 단색 엑스선을 얻어 유방촬영에도 적용할 수 있을 것이다.
We have studied the physical properties of X-ray point sources in galaxy clusters for years based on the archival observations using the most sophisticated space X-ray observatory, Chandra X-ray Observatory. Because the ultimate goal of the study is comparing the physical properties of X-ray point sources found in galaxy clusters to those in X-ray blank fields; blank fields are the regions in the sky where any noticeable cosmic diffuse X-ray emission is not observed, an important key issue regarding this study is picking out the point sources related with galaxy clusters. However we do not have red-shift information of all the X-ray point sources. Therefore as a first order approximation we will consider the point sources with smaller projected cluster-centric distance than the adopted size of galaxy clusters. As a first step of this study we perform X-ray surface photometry of ~600 galaxy clusters based on ~800 Chandra ACIS observations. We carefully investigate the radial structures of diffuse X-ray emission in 3 different energy bands. Based on the highly accurate surface photometry we determine the characteristic size of diffuse X-ray emission (i.e., the boundary of X-ray emission). We also investigate the cosmological evolution of this characteristic size of galaxy clusters. General discussion regarding the two dimensional morphology of galaxy clusters will be presented.
X-ray high-voltage generator is the most important part that can decide the radiation exposure dose affecting a patient or operator according to the characteristic. If decrease of X-ray radiation exposure dose and output characteristic of high-voltage generator is unstable, a patient or operator must be exposed to more radiation. This study measures and analyzes the exposure dose reproducibility and output characteristic according to a change of tube current on the various rectification methods of diagnostic X-ray equipment. It can find that quality bastardize and output is increased if voltage of X-ray tube is increased. Exposure dose reproducibility according to output of X-ray equipment is extremely excellent in inverter type, and is stable in order of following three-phase, a single-phase and condenser method. This study can find that the reply incidence of high-voltage generator is generated due to difference in rectification method, noise occurs in X-ray due to that, quality of an image is decreased due to that, and medical diagnosis can be failed due to that.
In this study, a method to measure the thickness of thin film by EDS (energy dispersive spectroscopy) is suggested. We have developed a model which calculates the thickness of thin film from the characteristic x-ray intensity ratio of the elements in thin film and substrate by considering incident electron beam energy, x-ray generation curve, backscattering and absorption of x-ray, take-off angle of x-ray and tilt angle of the sample. We obtained the relation curve between the film thickness measured experimentally and the x-ray intensity ratio of elements. The film thicknesses calculated from the model agrees quite well with those measured experimentally. Therefore, the thin film thickness can be measured rapidly and accurately by using the model developed in this study and the x-ray intensity ratio obtained in EDS analysis.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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제3권2호
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pp.28-31
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2002
The Cdl-xZnxTe film was fabricated by thermal evaporation for the flat-panel X-ray detector. The stoichimetric ratio and the crystal structure of a polycrystalline Cd$_{1-x}$ Zn$_{x}$Te were investigated by EPMA and XRD, respectively. The leakage current and X-ray sensitivity of the fabricated films were measured to analyze the X-ray response characteristic of Zn in the polycrystalline CdZnTe thin film. The leakage current and the output charge density of Cd$_{0.7}$Zn$_{0.3}$Te thin film were measured to 0.37 nA/cm$^2$ and 260 pc/cm$^2$ at an applied voltage of 2.5 V/${\mu}{\textrm}{m}$, respectively. Experimental results showed that the increase of Zn doping rates in Cd$_{1-x}$ Zn$_{x}$Te detectors reduced the leakage current and improved the signal to noise ratio significantly.
엑스선형광분석은 비파괴적으로 시료에 포함된 원소와 농도를 분석할 수 있는 기법으로 과학 및 산업 분야에 광범위하게 사용되고 있다. 다양한 물질을 포함한 혼합물 또는 화합물 분석의 정밀도 향상을 위해 10 keV 근방의 저에너지와 20 keV 근방의 에너지 영역에 높은 강도 분포를 갖는 엑스선관이 요구된다. 두 에너지 영역에서 높은 강도 분포를 갖는 스펙트럼을 얻기 위하여 9.65 keV의 특성엑스선을 가지는 텅스텐과 17.48 keV의 몰리브덴 두 물질을 적층한 구조의 표적을 가지는 투과형 엑스선관을 몬테카를로 전산모사를 통해 스펙트럼을 분석하였다. W-Mo 구조의 표적을 통해 10 keV와 20 keV 근방의 강한 강도를 갖는 특성엑스선을 얻었다. 또한 4 ㎛ 두께의 Mo-W multilayers 구조의 표적을 통해 최적의 강도 분포를 갖는 스펙트럼을 얻을 수 있음을 확인하였다. 다양한 표적 물질을 선택 조합하고 두께 최적화를 통해 원하는 에너지 대역에서 높은 강도 분포를 갖는 스펙트럼을 얻는 것이 가능하다.
For the purpose of determining characteristics of widely used commercial medical x-ray films, which are used for obtaining the Linac-grams for radiational treatment of cancers, we placed several commercial x-ray films at a fixed distance form the linear accelerator. After varying the exposed amount of radiation step by step, we could obtain a continually increasing density image for each film whose densities were determined by microdensitometer readings. The characteristic curves of the films were obtained by plotting the densities vs. the exposed radiation amounts, and their ${\gamma}$ values were determined. These values can be used to suggest a minimum necessary amount of exposed radiation to get a useful Linac-gram. The measured ${\gamma}$ values of the characteristic curves of the Kodak-DVP/RA-1 film were 1.73 when used 6MV x-ray, 1.70 when used 15MV of intensity. For the Konica-AX film, ${\gamma}$ values were 1.29 and 1.18 respectively. The result suggests that the effective conditions for high resolution of a L-gram be 6 MV of x-ray intensity and about 3 rad of exposed dose on a Kodak-DVP/RA-1 film.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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