This paper proposes a fourth generation index $C_{psk}$, constructed from $C_{psk}$, by introducing the factor|$\mu$-T| in the numerator as an extra penalty for the departure of the process mean from the preassigned target value T. The motivation behind the introduction of $C_{psk}$ is that when $T\neqM$ process shifts away from target are evaluated without respect to direction. All indices that are now in use assume normally distributed data, and any use of the indices on non-normal data results in inaccurate capability measurements. In this paper, a new process capability index $C_{psk}$ is introduced for non-normal process. The Pearson curve and the Johnson curve are selected for capability index calculation and data modeling the normal-based index $C_{psk}$ is used as the model for non-normal process. A significant result of this research find that the ranking of the six indices, $C_{p}$, $C_{pk}$, $C_{pm}$, ${C^*}_{psk}$, $C_{pmk}$, $C_{psk}$in terms of sensitivity to departure of the process median from the target value from the most sensitive one up to the least sensitive are $C_{psk}$, $C_{pmk}$, ${C^*}_{psk}$,$C_{pm}$, $C_{pk}$, $C_{p}$.
Purpose: To develop an interactive version of the conventional process capability-based approach, called 'Interactive Process Capability-Based Approach (IPCA)' in multi-response surface optimization to obtain a satisfactory compromise which incorporates a decision maker(DM)'s preference information precisely. Methods: The proposed IPCA consists of 4 steps. Step 1 is to obtain the estimated process capability indices and initialize the parameters. Step 2 is to maximize the overall process capability index. Step 3 is to evaluate the optimization results. If all the responses are satisfactory, the procedure stops with the most preferred compromise solution. Otherwise, it moves to Step 4. Step 4 is to adjust the preference parameters. The adjustment can be made in two modes: relaxation and tightening. The relaxation is to make the importance of one of the satisfactory responses lower, which is implemented by decreasing its weight. The tightening is to make the importance of one of the unsatisfactory responses higher, which is implemented by increasing its weight. Then, the procedure goes back to Step 2. If there is no response to be adjusted, it stops with the unsatisfactory compromise solution. Results: The proposed IPCA was illustrated through a multi-response surface problem, colloidal gas aphrons problem. The illustration shows that it can generate a satisfactory compromise through an interactive procedure which enables the DM to provide his or her preference information conveniently. Conclusion: The proposed IPCA has two major advantages. One is to obtain a satisfactory compromise which is faithful to the DM preference structure. The other is to make the DM's participation in the interactive procedure easier by using the process capability index in judging satisfaction/unsatisfaction. The process capability index is very familiar with quality practitioners as well as indicates the process performance levels numerically.
Proceedings of the Korean Society for Quality Management Conference
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1998.11a
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pp.594-609
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1998
In this dissertation, a new process capability index $C_{psk}$ is introduced for non-normal process. The Pearson curve and the Johnson curve are selected for capability index calculation and data modeling the normal-based index $C_{psk}$ is used as the model for non-normal process. A significant result of this research find that the ranking of the seven indices, $C_p,\;C_{pk},\;C_{pm},\;C^{\ast}_{pm},\;C_{pmk},\;C_s,\;C_{psk}$ in terms of sensitivity to departure of the process median from the target value T=M from the most sensitive one up to the least sensitive are $C_{psk},\;C_{s},\;C_{pmk},\;C^{\ast}_{pm},\;C_{pm},\;C_{pk},\;C_p$. i.e, By the criteria adopted for evaluation of PCI's $C_{psk}$ is the most sensitive to the departure of the process median from target and $C_p$ is least
As the rapid growth of Industrial society, many enterprises are inclined to ppm management from the traditional$3\'{o}$ management method. Therefore it is need to extend process capability index for guarantee of quality assurance level to ppm unit. Thus, in this paper, using the probability of standard normal distribution from $ 3\'{o}; to; 6\'{o}$ which was developed by Song(1997), the capability index which is proposed considers the numbers of inspection facility and quality assurance level. Also, quality assurance level is determined by considering the precision of inspection when one and two sided specification limits are given for the probability which is out of the specification limit.
This paper investigates the relation between the Process capability index(PCI) and the quality assurance level under various conditions. The effect of the off-targetness of the process mean, deviation from the nomality, the estimation error, and tile measurement error on the quality assurance level is evaluated. Various distributions such as the Student-t, the chi-square, the gamma, the Weibull, and the log-normal distributions are considered to evaluate the deviation from the nomality. The quality levels under abnormal conditions turn out to be severely different from that under the standard condition. We provide tables and graphs of the quality assurance level on various abnormal conditions. In order for the industry users to use the PCI properly, they should refer to the tables and graphs, especially when they are not certain about the standard assumptions on which the PCI depends.
Purpose: The purpose of this study is to propose a new useful suggestion to monitor the stability of process by developing a stability ratio or index related to investigating how well the process is controlled or operated to the specified target. Methods: The proposed method to monitor the stability of process is building up a new measure index which is making up for the weakness of the existing index in terms of short or long term period of production. This new index is a combined one considering both stability and capability of process to the specification limits. We suppose that both process mean and process variation(or deviation) are changing on time period. Results: The results of this study are as follows: regarding the stability of process as well as capability of process, it was shown that two indices, called SI(stability index) and PI(performance index), can be expressed in two-dimensional X-Y graph simultaneously. This graph is categorized as 4 separated partitions, which are characterized by its numerical value intervals of SI and PI which are evaluated by test statistics. Conclusion: The new revised index is more robust than the existing one in investigating the stability of process in terms of short and long period of production, even in case both process mean and variation are changing.
Journal of the Korean Data and Information Science Society
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v.18
no.2
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pp.457-469
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2007
Process Capability Indexes(PCI) are used as the measure for evaluation of process capability analysis and is the statistical method for efficient process control. The fourth generation $PCI(C_{psk})$ is constructed from $C_{pmk}$ by introducing the factor $\mid\mu-T\mid$ in the numerator as an extra penalty for the departure of the process mean from the preassigned target value T And Process Incapability Indexes(PII) are presented by inversing PCI and include the information of PCI. This paper introduces the PII $C_{ss}^*$ provide manager with various information of process and include Gage R&R. PII $C_{ss}^*$ is presented by inversing PCI $C_{psk}$ and include the information of PCI $C_{psk}$.
A family of some capability indices { $C_{p}$(.alpha.,.beta.); .alpha..geq.0, .beta..geq.0}, containing the indices $C_{p}$, $C_{{pk}}$, $C_{{pm}}$, and $C_{{pmk}}$, has been defined by Vannman(1993) for the case of two-sided specification interval. By varying the parameters of the family various capability indices with suitable properties are obtained. We derive tha asymptotic distribution of the family { $C_{p}$(.alpha.,.beta.); .alpha..geq.0,.beta..geq.0} under general proper conditions. It is also shown that the bootstrap approximation to the distribution of the estimator $C_{p}$(.alpha., .beta.) is vaild for almost all sample sequences. These asymptotic distributions would be used in constructing some bootstrap confidence intervals.tervals.
Communications for Statistical Applications and Methods
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v.10
no.2
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pp.399-422
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2003
In actual manufacturing industries, process capability analysis often entails characterizing or assessing processes or products based on more than one engineering specification or quality characteristic. Since these characteristics are related, it is a risky undertaking to represent variation of even a univariate characteristic by a single index. Therefore, the desirability of using vector-valued process capability index(PCI) arises quite naturally. In this paper, some vector-valued ${PCI}_p$${C}_p$=(${C}_{px}$, ${C}_{py}$),${C}_{pk}$=(${C}_{pkx}$, ${C}_{pky}$) and ${C}_{pm}$=(${C}_{pmx}$, ${C}_{pmy}$) considering univariate PCIs ${C}_p$,${C}_{pk}$ and ${C}_{pm}$ are studied. First, we propose some asymptotic confidence regions of our vector-valued PCIs with bootstrap. And we examine the performance of asymptotic confidence regions of our vector-valued PCIs ${C}_p$ and ${C}_{pk}$ under the assumption of bivariate normal distribution BN($\mu_{x}$, $\mu_{y}$, $\sigma_{x}^{2}$, $\sigma_{y}^{2}$, $\rho$) and bivariate chi-square distribution Bivariate $x^2$(5,5,$\rho$).
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