은 코팅 구리 덴드라이트 필러 제조 시 은 시드층 형성을 위한 갈바닉 치환반응 pH 제어 및 은함량에 따른 전자파 차폐 특성 (Electromagnetic Interference Shielding Effectiveness Properties of Ag-Coated Dendritic Cu Fillers Depending on pH of Galvanic Displacement Reaction for Ag Seed Layer and Contents of Deposited Ag Layer)
-
- 한국표면공학회지
- /
- 제51권5호
- /
- pp.263-270
- /
- 2018