• Title/Summary/Keyword: 테스트 데이터

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A Study on Data Safety Test Methodology through De-Anonymization of Anonymized data for Privacy in BigData Environment (빅데이터 환경에서 개인정보보호를 위한 익명화된 데이터의 비익명화를 통한 데이터 안전성 테스트 방법론에 관한 연구)

  • Lee, Jae-Sik;Oh, Yong-Seok;Kim, Ho-Seong
    • Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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    • 2013.11a
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    • pp.684-687
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    • 2013
  • 빅데이터 환경은 수많은 데이터의 조합으로 가치를 발견하여 이를 활용하는 것이다. 이러한 환경의 전제조건은 데이터의 공개 및 공유 개방이 될 것이다. 하지만 데이터 공개 시 개인정보와 같은 정보가 포함되어 법적 도덕적인 문제나 공개된 정보의 범죄 활용 등 2차적인 피해가 발생할 수 있어 데이터 공개 시 개인정보에 대한 익명화가 반드시 필요하다. 하지만 익명화된 데이터는 다른 정보와 결합을 통하여 재식별되어 비익명화 될 가능성이 항상 존재한다. 따라서 본 논문에서는 데이터 공개 시 익명화된 데이터를 공개하기 전에 재식별성에 대한 위험을 평가하는 테스트 방법론을 제안한다. 제안하는 방법론은 실제 테스트를 수행하는 3가지 과정 및 테스트 레벨 설정과 익명화 시 고려해야 할 부분으로 이루어져 있다. 제안하는 방법론을 통하여 안전한 데이터 공개 환경이 조성되어 빅데이터 시대에 개인정보에 안전한 데이터 공유와 개방이 이루어질 것으로 기대한다.

Study of Drone HIL Simulation Technique Extension Using Log of External Sensor (외부 센서의 로그를 활용한 드론 HIL 시뮬레이션 기법 확장 연구)

  • Kim, Deok Yeop;Seo, Kang Bok;Lee, Gwoncheol;Lee, Woo-Jin
    • Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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    • 2019.05a
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    • pp.342-345
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    • 2019
  • 드론의 동작 검증을 위한 테스트는 최종적으로 드론이 운용될 환경에서 이루어진다. 그러나 테스트 비용이 크고 테스트 비행 중 파손의 위험이 있기 때문에 시뮬레이션을 통한 사전 검증을 수행하는 것이 중요하다. 시뮬레이션은 SIL 방식이나 HIL 방식으로 이루어지는데 추가적인 외부 센서를 활용하는 경우 검증하기가 어렵다. SIL에서는 검증을 위해 가상의 외부 센서 구현이 필요하다. HIL 에서는 실제 센서를 사용하므로 가상의 외부 센서 구현은 필요 없다. 그러나 테스트 환경이기 때문에 실제 환경과 비슷한 데이터나 동작 검증에 적합한 데이터를 얻기 어렵다. 이러한 HIL에서의 문제를 해결하기 위해 외부 센서를 실제 환경에서 사용한 로그나 테스트 환경에서 센서 검증에 사용한 로그를 이용할 수 있다. 본 논문에서 제안하는 외부 센서의 로그를 활용한 HIL 시뮬레이션 기법 확장 내용은 외부 센서 데이터 입력기가 로그로부터 얻은 센서 데이터를 비행 컨트롤러로 보내 검증을 수행하기 때문에 데이터를 재사용할 수 있고 테스트 비용을 줄일 수 있다. 또 외부 센서 데이터 입력기는 로그 파서, 뷰어, 슬라이서, 데이터 전송기로 구성되어 로그로부터 검증에 적합한 데이터를 쉽게 얻어 활용할 수 있다.

A Test Case Generation Method for Data Distribution System of Submarine (잠수함 데이터 분산 시스템을 위한 테스트 케이스 생성 기법)

  • Son, Suik;Kang, Dongsu
    • KIPS Transactions on Software and Data Engineering
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    • v.8 no.4
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    • pp.137-144
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    • 2019
  • Testing maturity is critical to the system under development with lack of experience and skills in the acquisition of the weapon systems. Defects have a huge impact on important system operations. Sharing real-time information will lead to rapid command and mission capability in submarine. DDS(Data Distribution System) is a very important information sharing system and interface between various manufacturers or data formats. In this paper, we analyze data distribution characteristics of distributed data system to group data-specific systems and proposes a test case-generation method using path search of postorder and preorder which is a tree traversal in path testing method. The proposed method reduces 73.7.% testing resource compare to existing methods.

SWaT 테스트베드 데이터 셋 및 비정상행위 탐지 동향

  • Kwon, Sungmoon;Shon, Taeshik
    • Review of KIISC
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    • v.29 no.2
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    • pp.29-35
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    • 2019
  • CPS(Cyber Physical System)에 대한 사이버 공격이 다양해지고 고도화됨에 따라 시그니쳐에 기반한 악성행위 탐지는 한계가 있어 기계학습 기반의 정상행위 학습을 통한 비정상행위 탐지 기법이 많이 연구되고 있다. 그러나 CPS 보안 연구는 보안상의 이유로 CPS 데이터가 주로 외부에 공개되지 않으며 또한 실제 비정상행위를 가동 중인 CPS에 실험하는 것이 불가능하여 개발 기법의 검증이 어려운 문제가 있다. 이를 해결하기 위해 2015년 SUTD(Singapore University of Technology and Design)의 iTrust 연구소에서 SWaT(Secure Water Treatment) 테스트베드를 구성하고 36가지의 공격을 수행한 데이터셋을 공개하였다. 이후 국 내외에서 SWaT 테스트베드 데이터를 사용하여 다양한 보안 기법을 검증한 연구결과가 발표되고 있으며 CPS 보안에 기여하고 있다. 따라서 본 논문에서는 SWaT 테스트베드 데이터 및 SWaT 테스트베드 데이터에 기반한 비정상행위 탐지 연구를 분석한 내용을 설명하고, 이를 통해 CPS 비정상행위 탐지 설계의 주요 요소를 분석하여 제시하고자 한다.

The Taxonomy of Dirty Data for MPEG-2 TS (MPEG-2 표준을 위한 오류 데이터 분류)

  • 곽태희;최병주
    • Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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    • 2001.04a
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    • pp.691-693
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    • 2001
  • DASE(Digital TV Application Software Environment)는 데이터 방송을 위한 국제 표준으로 MPEG-2 TS(Moving Picture Experts Group-2 Transport Stream) 형식의 데이터를 처리한다. 소스코드 대신 입력 데이터 명세 정보만을 공개하는 특성상 DASE 시스템의 오류를 테스트하기 위해서는 테스트 데이터에 오류를 삽입하는 방법이 적합하고 이를 위해 MPEG-2 표준을 위한 오류 항목을 개발이 요구된다. 본 논문에서는 관계형 데이터 베이스를 위한 데이터 분류인 Kim’s et al 분류를 근거로 하여 MPEG-2 표준을 위한 오류 항목을 개발하였다. 이는 DASE 시스템의 오류 삽입 테스트 기법에 유용하게 사용될 수 있을 것이다.

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Generating Test Data for Deep Neural Network Model using Synonym Replacement (동의어 치환을 이용한 심층 신경망 모델의 테스트 데이터 생성)

  • Lee, Min-soo;Lee, Chan-gun
    • Journal of Software Engineering Society
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    • v.28 no.1
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    • pp.23-28
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    • 2019
  • Recently, in order to effectively test deep neural network model for image processing application, researches have actively conducted to automatically generate data in corner-case that is not correctly predicted by the model. This paper proposes test data generation method that selects arbitrary words from input of system and transforms them into synonyms in order to test the bug reporter automatic assignment system based on sentence classification deep neural network model. In addition, we compare and evaluate the case of using proposed test data generation and the case of using existing difference-inducing test data generations based on various neuron coverages.

Low Power Scan Test Methodology Using Hybrid Adaptive Compression Algorithm (하이브리드 적응적 부호화 알고리즘을 이용한 저전력 스캔 테스트 방식)

  • Kim Yun-Hong;Jung Jun-Mo
    • The Journal of the Korea Contents Association
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    • v.5 no.4
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    • pp.188-196
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    • 2005
  • This paper presents a new test data compression and low power scan test method that can reduce test time and power consumption. A proposed method can reduce the scan-in power and test data volume using a modified scan cell reordering algorithm and hybrid adaptive encoding method. Hybrid test data compression method uses adaptively the Golomb codes and run-length codes according to length of runs in test data, which can reduce efficiently the test data volume compare to previous method. We apply a scan cell reordering technique to minimize the column hamming distance in scan vectors, which can reduce the scan-in power consumption and test data. Experimental results for ISCAS 89 benchmark circuits show that reduced test data and low power scan testing can be achieved in all cases. The proposed method showed an about a 17%-26% better compression ratio, 8%-22% better average power consumption and 13%-60% better peak power consumption than that of previous method.

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Efficient Test Data Compression and Low Power Scan Testing for System-On-a-Chip(SOC) (SOC(System-On-a-Chip)에 있어서 효율적인 테스트 데이터 압축 및 저전력 스캔 테스트)

  • Park Byoung-Soo;Jung Jun-Mo
    • The Journal of the Korea Contents Association
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    • v.5 no.1
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    • pp.229-236
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    • 2005
  • Testing time and power consumption during testing System-On-a-Chip (SOC) are becoming increasingly important as the IP core increases in a SOC. We present a new algorithm to reduce the scan-in power and test data volume using the modified scan latch reordering. We apply scan latch reordering technique for minimizing the hamming distance in scan vectors. Also, during scan latch reordering, the don't care inputs in scan vectors are assigned for low power and high compression. Experimental results for ISCAS 89 benchmark circuits show that reduced test data and low power scan testing can be achieved in all cases.

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Goal-oriented Concolic Testing (목적 지향 콘콜릭 테스팅)

  • Chung, In-Sang;Park, Jung-Kyu
    • Journal of KIISE:Software and Applications
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    • v.37 no.10
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    • pp.768-772
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    • 2010
  • Concolic testing generates test data by combining concrete program execution and symbolic execution to achieve high test coverage. CREST is a representative open-source test tool implementing concolic testing. Currently, however, CREST aims at exploring all possible execution paths. In case of testing a specific branch or block, thus, it can be ineffective. This paper suggests a goal-oriented concolic testing that generates test data to execute a given branch or block.

A Priority based Non-Scan DFT Method for Register-Transfer Level Dapapaths (RTL수준의 데이터패스 모듈을 위한 상위 수준 테스트 합성 기법)

  • Kim, Sung-Il;Kim, Seok-Yun;Chang, Hoon
    • Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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    • 2000.10c
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    • pp.30-32
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    • 2000
  • 본 논문에서는 RTL 회로의 데이터패스에 대한 테스트 용이도 분석방식과 테스트 용이화 설계방식을 제안한다. 데이터패스에 대한 테스트 용이도 분석은 콘트롤러에 대한 정보없이 RTL 회로의 데이터패스만으로 수행한다. 본 논문에서 제안한 테스팅을 고려한 설계방식은 내장된 자체 테스트(BIST)나 주사(scan)방식이 아니며, 주사 방식을 적용했을 때에 비해 본 논문에서 제안한 테스트 용이화 설계방식을 적용했을 때에 보다 적은 면적 증가율(area overhead)을 보인다는 것을 실험을 통해 확인하였다. 또한, 회로 합성 후 ATPG를 통해 적은 면적 증가만으로 높은 고장 검출율(fault coverage)을 얻을 수 있음을 보인다.

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