• 제목/요약/키워드: 제조결함

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수동 도가니로에서 제조된 유리제품내 결함 분석 (Defect analysis of fabricated glass by passive pot furnace)

  • 윤태민;윤영진;이용수;강원호
    • 한국산학기술학회:학술대회논문집
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    • 한국산학기술학회 2002년도 춘계학술발표논문집
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    • pp.70-73
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    • 2002
  • 도가니로를 사용하여 유리제품을 생산하고있는 중소 유리제조업체인 D.H사의 제품내 발생한 결함을 분석하였다. 제품내 결함으로는 기포, 코드(cord), 석물(stone)이 발생하고 있었으며, 광학현미경, EDS 등의 분석장비를 통해 제품내 결함을 분석한 결과 코드는 석물에 의해 발생하고 있음을 확인하였다. 석물의 EDS 분석결과 주요성분은 Si로 나타났으며, 이는 도가니의 장기간 사용시 도가니 내벽과 유리물의 반응에 의한 도가니의 용융침식에 의해 발생한 한가지 결점원에 의한 한가지 결정상으로 SiO₂의 고온결정상인 cristobalite임을 확인할 수 있었다.

응력상태의 변화에 따른 피로균열의 전파거동

  • 송삼홍;권윤기;김영훈
    • 한국정밀공학회:학술대회논문집
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    • 한국정밀공학회 1992년도 추계학술대회 논문집
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    • pp.316-320
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    • 1992
  • 기계나 구조물등의 부재는 비금속 개재 물이나 가공과 같은 자연 결함과 함께 볼트구멍이나 기름구멍등의 인공 결함들을 가지고 있다. 이러한 인공 결함들은 초기 결함으로서 작용을 하여 반복되는 낮은 응력을 받을 경우 응력 집중원이 되고, 피로파괴의 원인이 된다. 이런 기계구조물에 대한 안전성 보장을 위하여, 금속재료의 제조 및 가공 공정상의 질적 개선과 함께 최적 설계가 강조되고 피로파괴 현상에 대한 많은 연구가 요구되고 있다.

히스토그램의 통계적 모멘트를 이용한 편광필름 결함 검출 방법 (A defect inspection method for the LCD ploarizer film using statistical moment of histogram)

  • 윤희상;박태형
    • 대한전기학회:학술대회논문집
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    • 대한전기학회 2007년도 제38회 하계학술대회
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    • pp.1760-1761
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    • 2007
  • 액정 디스플레이(LCD)의 핵심 재료인 편광필름은 제조 과정이나 운반 과정에서 실오라기 같은 이물 및 찍힘 등의 결함이 발생하며 이를 사람이 육안으로 검사하고 있다. 본 논문에서는 이런 편광필름의 결함을 자동으로 검출하기위한 방법으로 히스토그램의 통계적 모멘트를 사용하여 주변 밝기에 따라 검사 영역의 밝기의 기울기를 구하고, 이를 통해 결함의 유무를 판단하는 편광필름 검사 방법을 제안한다.

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텍스쳐 분석 방법을 이용한 필름 결함 검사 시스템 (A Film Inspection System based on Texture Analysis Techniqe)

  • 한종우;손형관;노재현;최영규
    • 한국정보처리학회:학술대회논문집
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    • 한국정보처리학회 2011년도 추계학술발표대회
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    • pp.277-278
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    • 2011
  • 본 논문에서는 공압출 다층 필름 제조공정에서 수지의 품질에 영향을 주는 외관상의 결함을 검사하는 비젼 시스템을 제안한다. 필름 생산 과정에서는 흑점이나 주름 등을 포함한 다양한 결함이 발생할 수 있는데, 명암이 명확히 구별되는 결함도 있지만 그렇지 않은 결함들은 필름의 특성에 의해 검출 및 분류가 어려운 경우가 많다. 제안된 논문에서는 전체 검사시스템의 소개와 함께 결함의 종류 분류와 검출 및 분류 방법을 제안하는데, 특히 애매한 결함의 구분을 위해 지역적 이진패턴(LBP)에 기반한 텍스쳐 분석 방법을 이용한다. 실험을 통해 제안된 시스템 및 방법이 필름 생산과정의 다양한 결함들을 잘 검출하고 분류하는 것을 알 수 있었다.

FMEA기법을 이용한 화학제품의 PL 대응체계 연구 (A Study on Product Liability Response System of Chemical Products by Using Failure Mode and Effect Analysis)

  • 고재욱;유진환;김대흠
    • 한국가스학회지
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    • 제7권4호
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    • pp.30-35
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    • 2003
  • 제조물책임(Product Liability : PL)이란 제조물의 결함으로 인하여 소비자 또는 제3자의 생명, 신체, 재산 등에 손해가 발생했을 경우 그 제조물의 제조자 또는 판매자 등에게 손해배상 책임을 부과시키는 법으로 국내에서는 제조물책임법은 2002년 7월 시행되었다. 본 연구에서 FMEA를 이용한 화학제품의 제조물책임 대응체계를 구성하였으며, 깍N-Dimethyethylamine을 사례로 적용하여 연구를 진행하였다. 우선 화학제품의 취급설명서 역할을 하는 MSDS(Material Safety Data Sheet)를 통해 제품의 정보를 파악하고, 제품의 결함으로 인한 영향을 분석하는 FMEA기법을 적용하여 결함의 심각도, 결함의 발생빈도 및 검출도의 곱으로 정의된 RPN(Risk Priority Number)에 의하여 위험성을 정량적으로 제시하였다.

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머신 비전을 이용한 불투명/고반사율 기판 검사 시스템 (A machine-vision based inspection system for non-transparent and high-reflectance substrate)

  • 여경민;서정우;이석원;이준호
    • 한국정보처리학회:학술대회논문집
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    • 한국정보처리학회 2010년도 춘계학술발표대회
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    • pp.369-372
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    • 2010
  • 평판 디스플레이(flat panel display)의 크기가 커짐에 따라 다양한 기판을 이용한 제조 방법이 개발되고 있다. 디스플레이 제조 공정 중 기판의 결함을 찾아서 분류하는 검사 시스템은 최종 제품의 품질을 결정하는 매우 중요한 부분이다. 본 연구는 머신비전 기술을 이용하여 불투명하고 반사율이 높은 기판 표면의 결함을 찾아내고, 이 결함을 스크래치(scratch), 흑결함(dark defect), 백결함(white defect)으로 분류하는 장치를 구현하는데 목적이 있다. 이를 구현하기 위해 본 논문에서는 정밀 스테이지(stage)와 라인 카메라(line CCD camera)을 이용한 광학계를 활용하여 검사 시스템을 구현하였다. 구축된 시스템을 이용하여 취득한 이미지를 12 개의 영역으로 등분하여 각각의 국부 영역에 대한 문턱값 연산(thresholding)을 적용함으로써 조명의 불균일을 의한 검출 에러율을 획기적으로 낮추었다. 간단한 컴퓨터비전 알고리듬의 채용으로도 검사 시스템의 구현이 가능함을 보였다.

제품안전경영체계에서의 리스크 관리의 역할

  • 이동하
    • 대한안전경영과학회:학술대회논문집
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    • 대한안전경영과학회 2001년도 춘계학술대회
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    • pp.23-23
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    • 2001
  • 제조물 결함에 의한 기업의 배상책임은 전형적인 기업의 리스크로서 전통적으로 투자, 금융, 보험, 위기 관리, 시스템 안전 분야에서 사용되고 있는 리스크 관리 기법을 적용하여 효과적으로 대비할 수 있다. 현재 일부 선진국에서는 리스크 관리 기법을 규격화하여 각 조직 활동에 잠재된 위험 요소로부터의 손실을 예방하고 기회 이익을 구현하는데 활용하고 있다. 본 연구에서는 현재까지 발표된 호주, 뉴질랜드, 캐나다, 일본, 영국, 유럽연합 등의 나라에서 규격화하고 있는 리스크 관리기법에 대해 비교 검토하고 그 장단점 및 특징을 조사하였다. 또한 제조물 결함에 따른 기업의 배상 책임에 대비하여 기업이 제품 안전 경영체계를 수립하는데 리스크 관리 기법이 적절히 활용될 수 있는지에 대해 토의하였다.

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반도체 웨이퍼 자동 결함 검출 및 분석 시스템 구현 (Implementation of Automated Defect Detection and Classification System for Semiconductor Wafers)

  • 남상진;한광수
    • 한국정보과학회:학술대회논문집
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    • 한국정보과학회 2001년도 가을 학술발표논문집 Vol.28 No.2 (2)
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    • pp.334-336
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    • 2001
  • 반도체 제조와 같은 대량 생산 시스템에서 제품 검사는 매우 중요란 단계 중의 하나이다. 반도체 제조 공정 내에서의 시각 검사는 현재 사람의 육안에 주로 의존하고 있으나, 회로가 점점 복잡해지고 작아지는 추세에 비추어 볼 때 사람에 의한 시각 검사는 한계에 이를 것으로 보인다. 본 연구에서는 웨이퍼상의 결함을 자동으로 검출하고 검출된 길함을 분류하는 자동시각검사 시스템을 설계 구현하였다.

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대면적 LCD 결함검출을 위한 수차량 추출 알고리즘 (Aberration Extraction Algorithm for LCD Defect Detection)

  • 고정환;이정석;원영진
    • 전자공학회논문지 IE
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    • 제48권4호
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    • pp.1-6
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    • 2011
  • 본 논문에서는 LCD 제조공정 상에서 발생할 수 있는 결함을 검사하고 분류할 수 있는 적응적인 LCD 표면 결함 검사 시스템을 제안하였다. 즉, 반복되는 LCD 패턴의 주기를 확정한 후에 결함 패턴을 검출하고 검출된 결함 패턴의 특징을 계산하여 결함을 분류하였다. 그리고 결함을 검출하는 과정에서 발생하는 잡음은 모폴로지 연산자를 이용하여 제거하였다. 또한, 검출된 결함 패턴에서 기하학적인 특징과 통계적 특징을 계산한 후 신경회로망 알고리즘을 이용하여 여러 종류의 결함 패턴을 적응적으로 분류하였으며, 실험 결과 92.3%의 결함 검출율 및 94.5%의 결함 분류 및 인식율을 획득함으로써, LCD 결함 검사 시스템의 실질적인 구현 가능성을 제시하였다.

BEP기반의 신경회로망을 이용한 LCD 패널 결함 검출 (LCD Defect Detection using Neural-network based on BEP)

  • 고정환
    • 전자공학회논문지 IE
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    • 제48권2호
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    • pp.26-31
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    • 2011
  • 본 논문에서는 LCD 제조공정 상에서 발생할 수 있는 결함을 검사하고 분류할 수 있는 적응적인 LCD 표면 결함 검사 시스템을 제안하였다. 즉, 반복되는 LCD 패턴의 주기를 확정한 후에 결함 패턴을 검출하고 검출된 결함 패턴의 특징을 계산하여 결함을 분류하였다. 그리고 결함을 검출하는 과정에서 발생하는 잡음은 모폴로지 연산자를 이용하여 제거하였다. 또한, 검출된 결함 패턴에서 기하학적인 특징과 통계적 특징을 계산한 후 신경회로망 알고리즘을 이용하여 여러 종류의 결함 패턴을 적응적으로 분류하였으며, 실험 결과 92.3%의 결함 검출율 및 94.5%의 결함 분류 및 인식율을 획득함으로써, LCD 결함 검사 시스템의 실질적인 구현 가능성을 제시하였다.