한국정보과학회:학술대회논문집 (Proceedings of the Korean Information Science Society Conference)

한국정보과학회 (Korean Institute of Information Scientists and Engineers)
권호 표지

반도체 웨이퍼 자동 결함 검출 및 분석 시스템 구현

Implementation of Automated Defect Detection and Classification System for Semiconductor Wafers

  • 남상진 (국민대학교 컴퓨터학부) ;
  • 한광수 (국민대학교 컴퓨터학부)
  • 발행 : 2001.10.01
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초록

반도체 제조와 같은 대량 생산 시스템에서 제품 검사는 매우 중요란 단계 중의 하나이다. 반도체 제조 공정 내에서의 시각 검사는 현재 사람의 육안에 주로 의존하고 있으나, 회로가 점점 복잡해지고 작아지는 추세에 비추어 볼 때 사람에 의한 시각 검사는 한계에 이를 것으로 보인다. 본 연구에서는 웨이퍼상의 결함을 자동으로 검출하고 검출된 길함을 분류하는 자동시각검사 시스템을 설계 구현하였다.

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