Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference (한국정보처리학회:학술대회논문집)

  • 2010.04a
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  • Pages.369-372
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  • 2010
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  • 2005-0011(pISSN)
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  • 2671-7298(eISSN)
Korea Information Processing Society (한국정보처리학회)
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A machine-vision based inspection system for non-transparent and high-reflectance substrate

머신 비전을 이용한 불투명/고반사율 기판 검사 시스템

  • Yeo, Kyeong-Min (School of Information and Communication Engineering, SungKyunKwan University) ;
  • Seo, Jung-Woo (Mechatronics Center, Samsung electronics corp.) ;
  • Lee, Suk-Won (Mechatronics Center, Samsung electronics corp.) ;
  • Yi, June-Ho (School of Information and Communication Engineering, SungKyunKwan University)
  • 여경민 (성균관대학교 정보통신공학부) ;
  • 서정우 (삼성전자 생산기술연구소) ;
  • 이석원 (삼성전자 생산기술연구소) ;
  • 이준호 (성균관대학교 정보통신공학부)
  • Published : 2010.04.23
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Abstract

평판 디스플레이(flat panel display)의 크기가 커짐에 따라 다양한 기판을 이용한 제조 방법이 개발되고 있다. 디스플레이 제조 공정 중 기판의 결함을 찾아서 분류하는 검사 시스템은 최종 제품의 품질을 결정하는 매우 중요한 부분이다. 본 연구는 머신비전 기술을 이용하여 불투명하고 반사율이 높은 기판 표면의 결함을 찾아내고, 이 결함을 스크래치(scratch), 흑결함(dark defect), 백결함(white defect)으로 분류하는 장치를 구현하는데 목적이 있다. 이를 구현하기 위해 본 논문에서는 정밀 스테이지(stage)와 라인 카메라(line CCD camera)을 이용한 광학계를 활용하여 검사 시스템을 구현하였다. 구축된 시스템을 이용하여 취득한 이미지를 12 개의 영역으로 등분하여 각각의 국부 영역에 대한 문턱값 연산(thresholding)을 적용함으로써 조명의 불균일을 의한 검출 에러율을 획기적으로 낮추었다. 간단한 컴퓨터비전 알고리듬의 채용으로도 검사 시스템의 구현이 가능함을 보였다.

Keywords