Proceedings of the KIEE Conference (대한전기학회:학술대회논문집)

The Korean Institute of Electrical Engineers (대한전기학회)
권호 표지

A defect inspection method for the LCD ploarizer film using statistical moment of histogram

히스토그램의 통계적 모멘트를 이용한 편광필름 결함 검출 방법

  • Yoon, Hee-Sang (Dept. of Control and Instrumentation Engineering, Chungbuk National Univ.) ;
  • Park, Tae-Hyoung (Dept. of Control and Instrumentation Engineering, Chungbuk National Univ.)
  • 윤희상 (충북대학교 제어계측공학과) ;
  • 박태형 (충북대학교 제어계측공학과)
  • Published : 2007.07.18
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Abstract

액정 디스플레이(LCD)의 핵심 재료인 편광필름은 제조 과정이나 운반 과정에서 실오라기 같은 이물 및 찍힘 등의 결함이 발생하며 이를 사람이 육안으로 검사하고 있다. 본 논문에서는 이런 편광필름의 결함을 자동으로 검출하기위한 방법으로 히스토그램의 통계적 모멘트를 사용하여 주변 밝기에 따라 검사 영역의 밝기의 기울기를 구하고, 이를 통해 결함의 유무를 판단하는 편광필름 검사 방법을 제안한다.

Keywords