산란선을 흡수하여 보다 선명한 x선 영상을 얻기 위하여 산란방지 그리드를 사용하여 투사영상을 얻는데, 이때 그리드로 인한 왜곡이 발생한다. 본 논문에서는 회전된 그리드를 사용하여 그리드 왜곡의 제거가 용이하도록 x선 디지털 영상을 얻는 방법에 있어서 기존의 왜곡 성분의 중심주파수를 가장자리로 보내는 경우를 보다 심도 있게 분석하여 확장된 결과를 도출하였으며, min-max 개념에서 주어진 그리드 밀도에 대하여 최적화하는 방법을 제시하였다. 또한 실질적으로 사용가능한 그리드 밀도에 대하여 적절한 그리드 각도를 제시하고 그러한 그리드를 사용하여 획득한 x선 디지털 영상에서 그리드 왜곡이 용이한 알고리듬을 제안하고 그 성능을 비교해보았는데, 원영상의 해상도를 어느 정도 유지하면서 그리드 왜곡을 줄일 수 있었다.
Electrolytic MnO₂ (EMD)의 미세구조를 X선 회절 및 투과전자현미경 분석을 통해 연구하였다. 벌크에 대한 X선 회절 실험은 전헝적인 EMD 재료의 분말 회절패턴을 나타내었다. 투과전자현미경 분석은 EMD가 약 0.2㎛크기의 입자로 이루어져 있고, 각각의 입자가다시 10 nm 정도의 결정립으로 이루어진 이중 미세구조를 가짐을 나타내었다. 나노 결정립에 대한 전자빔 마이크로 회절 분석 결과, EMD 입자는 여러 상의 혼합체로서 약 50%의 Ramsdellite, 30%의 ε-MnO₂, 15%의 Pyrolusite 상으로 이루어져 있음을 확인하였다. 한편, X선 분말 회절패턴 상의 약 67°에 위치한 {1120} 피크와 (0001) 면에 대한 고분해능 이미지는 ε-MnO₂ 상의 존재를 입증하였다.
한국전기전자재료학회 2004년도 춘계학술대회 논문집 반도체 재료 센서 박막재료 전자세라믹스
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pp.72-76
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2004
본 논문은 CdS의 소성 온도가 방사선 검출 특성에 미치는 영향을 조사하였다. CdS 센서는 스크린 프린터 방식을 이용해 $40{\mu}m$의 두께로 제조하였다. XRD 와 SEM을 이용하여 형성된 CdS 필름의 구조 및 형상을 분석하였다. 제조된 CdS 센서에 대해 X선 반응 특성을 조사하기 위해 I-V 측정을 수행하였다. 인가 전압에 따른 Dark current, x-ray sensitivity 및 선량에 따른 Linearity을 측정한 결과 CdS 센서가 $450^{\circ}C$이상 소성시 방사선에 대한 우수한 검출 특성을 보였다.
진단영역에서 사용하는 넓은 선속 X선 에너지에 대한 차폐물질의 투과 특성을 Archer의 수학적 모델을 적용하여 나타내었다. 인버터 방식의 고전압발생장치를 사용하는 X선 발생장치를 사용하여 관전압 60 kVp부터 140 kVp까지의 범위에서 납, 철, 콘크리트, 유리등의 차폐체의 투과 특성을 나타내었다. 이러한 인버터 방식의 고전압발생장치를 사용하는 진단영방사선발생장치의 관전압별 투과도는 진단방사선발생장치를 사용하는 작업공간에서의 차폐 설계 시 차폐물질의 종류와 두께의 설정에 도움이 될 것이다.
X선 흡수 미세구조 분석 기술을 이용하여 Ni-Zn 도금 강판에서의 Ni 주위 국부구조를 연구하였다. 실험적으로 측정한 X선 흡수 미세구조 스펙트럼과 이론적인 스펙트럼을 비교 분석함으로서 Ni-Zn 원자간 거리와 Debye-Waller factor를 결정하였는데 이때 측정 온도의 범위는 80K로부터 300K까지이었다. 이 측정 온도 범위내에서는 Ni-Zn 원자간 거리의 온도에 따른 변화는 매우 작았으며 원자간 거리의 평균값은 $2.557{\AA}$이었다. 그리고 이러한 Ni-Zn 원자간 거리의 값을 순수한 Zn 금속 재료의 가장 가까운 이웃 원자간 거리의 값과 비교하여 볼 때 Ni-Zn 전기 도금층의 Ni 원자 주위에 약간의 contraction이 있는 것을 알 수 있었다. 한편, Debye-Waller factor는 온도에 따라 0.005~0.011 정도의 값을 가지며 비교적 큰 온도 의존도를 가지는 것으로 나타났다.
In textured material, diffraction angle $2{\theta}$ usually shows a nonlinear relation against $sin^2{\psi}$ due to elastic anisotropy of crystals. SPHD and SPCD steel is cold-rolled carbon steel for automobile. The characteristics X-ray for stress measurement is Cr $K_{\alpha}\;and\;Mo\;K_{\alpha}$ characteristic X-ray. The $2{\theta}-sin^2{\psi}$ diagram under elastic strain seems to have a linear behavior using regression line of data but has a nonlinear behavior in distribution of data by Cr $K_{\alpha}$ characteristic X-ray. As the plastic strain of specimen increases, the nonlinearity of $2{\theta}$ with respect to $sin^2{\psi}$ increases remarkably. On the other hand, the diffraction angle $2{\theta}$ by Mo $K_{\alpha}$ characteristic X-ray shows a good linearity on $2{\theta}-sin^2{\psi}$ diagram under plastic strain as well as elastic strain. Therefore, this paper presents the measurement of residual stress in cold-rolled carbon steel for automobile using penetration depth of Mo $K_{\alpha1}$ characteristic X-ray and multiplicity factor of crystal diffraction plane.
방사광을 이용한 형강 X선 CT 이미징의 고속화를 위한 촬상 시스템과 처리 알고리즘을 검토하였다. 본 논문에서 사용된 촬상시스템은 고계수율 영역에서 안정된 동작을 한 전자 시스템으로 불감시간이 약 6%로 감소되고 계측시간의 경우도 1 점 당 3초로 단축되었다. 또한 재구성 알고리즘의 효율화를 증명하였고, 메모리와 계산량을 약 1/100로 감소시켰다. 물리적 phantom으로 그 정량성을 확인하였고, 시험관내의 갑상선의 화상으로부터 요드 분포를 추정하였다. 이러한 결과는 생체내에서 형광 X선 CT 계측의 실현 가능성을 보여준 것이다.
1년 6개월령 몸무게 7.7 kg의 수컷 Cocker Spaniel이 일주일 동안 지속된 역류성 구토를 주 증으로 진료 의뢰되었다. 기본 검사와 X선 투시진단법을 통해 식도운동성 저하로 진단하였다. 치료약물로는 mosapraide를 투여하였고, 습식 사료를 소량씩 자주 일어선 자세로 급여하는 방법을 통해 치료하였다. 3개월 후 재검사에서 임상증상의 개선과 X선 투시진단법 상 식도운동성의 개선이 있었으며, 첫 내원 시 식도 통과 시간이 18초였던 것에서 8초까지로 개선되었다. 본 케이스는 식도거대증을 동반하지 않으면서, 운동성만 저하된 질병으로 한국에서는 첫 보고이다.
본 연구에서는 LPCVD, PECVD, ECR plasma CVD방법을 이용하여 x선 노광 공정용 마스크의 투과막재료로써의 실리콘질화막의 증착과 그의 물성에 관하여 실험하였다. X선 노광 마스크용 투과막의 재질로써 요구되는 적정인장응력에 가지는 증착조건으로 실리콘질화막을 1$\mu\textrm{m}$정도의 두께로 증착하였으며 이 조건에서의 물성을 SIMS, XPS, ESR, AFM, spectrophoto-metry를 이용하여 비교 분석하였다. ECR plasma CVD방법으로 얻은 실리콘 질화막은 화학양론적 조성(Si/N=0.75)에 근접하는 막을 얻을 수 있었으며 표면 평활도와 가시광투과도가 가장 우수한 결과를 얻었다. 저온 증착법인 PECVD로 얻은 막은 Si/N비가 약 0.86정도이고 산소와 수소의 불순물함량이 가장 높게 나타났다. SiH$_{2}$CI$_{2}$를 이용한 LPCVD막의 경우는 Si-rich조성을 가지지만 수소 불순물의 함량이 가장 작게 나타났고 표면거칠기는 가장 나쁘게 나타났다. 그러나 위의 방법으로 얻은 실리콘 질화막의 최대 가시광투과도는 633nm파장에서 모두 90%이상의 값을 나타내었고, 또한 표면 평활도도 0.64-2.6nm(rms)로 현재 연구되고 있는 다른 X선 투과막재료보다 월등히 우수한 결과를 보였다.
현재 널리 사용되고 있는 X선 영상 검출기의 문제점을 해결하기 위해 새로운 연구가 활발히 진행되고 있다. 본 논문에서는 새로운 X선 검출기로써의 가능성 제시를 위해 Display용 PDP(Plasma Display panel)를 디지털 X-ray Detector로 적용하기 위한 기본적인 X-ray에 대한 반응성을 검증하였다. PDP의 X-ray Detector로의 사용 가능성을 보기 위하여, 실험에 사용된 panel은 상용화된(commercial) Display용 PDP의 기본적인 구조와 똑같은 구조의 sample을 제작하여 사용하였다. 제작된 panel은 상판에 Substrate glass와 유전체층, 투명전극을 형성하고, 버스 전극층과 MgO층을 형성하였다. 하판에는 격벽을 제작하고 형광체(R.G.B)층을 형성하고, 어드레스 전극을 형성하여 기존의 Display용 PDP와 똑같은 구조를 지니게 하였다. 이렇게 제작된 panel의 X-선 검출기로서의 전기적 특성물 조사하기 위해 누설전류(Dark current), X선 민감도(X-ray sensitivity), 그리고 선형특성(Linearity)을 측정하였다. 측정 결과, 누설전류가 낮고 X-선 검출기로서의 가능성이 충분한 민감도를 보이며, 선형적 특성 또한 우수한 결과를 보이는 등 안정된 전기적 동작특성을 보였다. 이러한 결과로부터 기존에 사용되어오던 디스플레이용 PDP의 구조적 변경을 통하여 상용화된 PDP룰 디지털 X-선 검출기로서의 적용 가능성을 확인할 수 있었다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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