Park, Jong-Guk;Jeon, Dae-Woo;Lee, Mi-Jai;Lim, Tea-Young;Hwang, Jonghee;Bae, Dong-Sik;Kim, Jin-Ho
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.28
no.12
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pp.821-825
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2015
Anti-reflective (AR) thin film was fabricated on a glass substrate by sol-gel method. The coating solution was synthesized with TEOS (tetraethlyorthosilicate) and poly ethylene glycol (PEG, 4.0 wt%). As the withdrawal speed of coating was changed from 0.1 mm/sec to 0.3 mm/sec, the thickness and refractive index of prepared thin films were changed. The reflectance and transmittance of coating glass fabricated by the withdrawal speed of 0.1 mm/sec were 0.62% and 95.0% in visible light range. The refractive index and thickness of single layer thin film were n= 1.29 and ca. 99.0 nm.
Park, Yong Seob;Bae, Jae Sung;Hong, Byungyou;Lee, Jae Hyeong
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.34
no.1
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pp.63-67
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2021
In this paper, we investigated the surface properties of polymer insulators to improve electrical insulation performance. First, after washing the polymer insulator in various ways, its contact angle was increased, thereby improving the hydrophobic properties and electrical insulation properties. In addition, TiO2 thin films, which have been used as a photocatalytic material and have been applied to the polymer insulator surface of to enhance the surface and electrical insulating properties. For the sputtering method, the contact angle after coating the TiO2 thin film increased with increasing RF power, but it was lower compared to that before coating, indicating that the hydrophobic properties of the surface were slightly deteriorated. Consequently, the electrical properties of the polymer-insulating material were maintained or improved after the TiO2 thin-film coating.
We improve the energy conversion efficiency (ECE) of a dye sensitized solar cell (DSSC) by preparing a working electrode (WE) with localized surface plasmon resonance (LSPR) by inducing Au thin films with thickness of 0.0 to 5.0 nm, deposited via sputtering. Field emission scanning electron microscopy and atomic force microscopy were used to characterize the microstructure of the blocking layer (BL) of the Au thin films. Micro-Raman measurement was employed to confirm the LSPR effect, and a solar simulator and potentiostat were used to evaluate the photovoltaic properties, including the impedance and the I-V of the DSSC of the Au thin films. The results of the microstructural analysis confirmed that nano-sized Au agglomerates were present at certain thicknesses. The photovoltaic results show that the ECE reached a value of 5.34% with a 1-nm thick-Au thin film compared to the value of 5.15 % without the Au thin film. This improvement was a result of the increase in the LSPR of the $TiO_2$ layer that resulted from the Au thin film coating. Our results imply that the ECE of a DSSC may be improved by coating with a proper thickness of Au thin film on the BL.
Park, Jong-Guk;Lee, Ji-Sun;Lee, Mi-Jai;Lee, Young Jin;Jeon, Dae-Woo;Kim, Jin-Ho
Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
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v.26
no.6
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pp.220-224
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2016
Anti-reflection (AR) thin films were fabricated on a glass substrate by using an ultrasonic spray. Glycidoxypropyl trimethoxysilane (GPTMS) and tetraethyl orthosilicate (TEOS) were used to synthesize a sol-gel hybrid coating solution. The moving speed of spray nozzle was changed from 15~25 mm/s to control the coating thickness of AR thin film. As the moving speed of spray nozzle increased, the thickness of AR thin film decreased from 138 nm to 86 nm. When the AR thin film was fabricated by nozzle moving speed of 20 mm/s, the refractive index and thickness of AR thin film was measured to be 1.31 and 104 nm, respectively. The average reflectance and transmittance of AR thin film coating glass was measured to be 0.75 % and 94 %, respectively into the visible light range of 380~780 nm.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2002.05b
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pp.103-106
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2002
The applicability of models based on fractal morphology to characterize $(Ba\;Sr)TiO_{3}$ thin film surfaces was investigated. The fractal morphology of coated barium strontium titan oxide thin film surfaces was described using fractal dimension from scanning electro microscopy image. The $(Ba\;Sr)TiO_{3}$ coating were deposited on silicon wafers using $(Ba\;Sr)TiO_{3}$ solution and spin coater. BST solution was composited by mol ratio, and then spin-coated from 3 times to 5 times coating on $Pt/SiO_{2}/Si$ substrate. Qualitative thin film analysis was performed with scanning electro microscopy (SEM), and surfaces parameters such as average grain diameter, roughness exponent and fractal dimension were determined.
to prepare the TiO2 thin films, acetyl-acetone(2.4-pentanedione)(1 : 1 molar ratio) was dissolved in the propanol solution of titanium(IV)isopropoxide(Ti[OCH(CH3)2]4). Al, Cr and Sb in the form of soluble salt and niobium ethoxide were added s dopants, respectively. Thin films were coated by the dip-coating method and characteristics were investigated by XRD, SEM and conductance meter. As a result, viscosity of sol was maintained below 4 centi Poise more than 20 days, and crystal growth and diminution of resistivity occurred as the heat treatment temperature increased. The grains grew over 1${\mu}{\textrm}{m}$ and the lowest resistivity was obtained when Nb was added at 130$0^{\circ}C$.
Aluminum doped zinc oxide (AZO) thin films have been prepared on the glass substrates (Corning 1737) by sol-gel dip-coating method employing zinc acetate and aluminum chloride hexahydrate for the transparent conducting oxide (TCO) applications. 1 at% Al was doped to the ZnO thin films. The effects of post-heating temperature on the crystallization, optical and electrical properties of the AZO films have been investigated. Experimental results showed that post-heating temperature affected the microstructure, electrical resistance, and optical transmittance of the AZO films. From the X-ray diffraction analysis, all films have hexagonal wurtzite crystal structure. Optical transmittance spectra of the AZO films exhibited transmittance higher than about 80% within the visible wavelength region and the optical direct band gap ($E_g$) of these films was increased with increasing post-heating temperature. A minimum resistivity of $2.5{\times}10^{-3}{\Omega}cm$ was observed at $650^{\circ}C$.
For a high efficient field emission display (FED), the specific vacuum conditions below 10-7 Torr should be required. However, because the FED has the geometrical restriction due to its micro size, the thin film getters can be proposed for chemical pumping as a way to reduce impurity gases in the panel. The thin film getters, developed by employing the coating of new materials such as NI or Pt on getter surface, can be used without any activation process and show the enhanced sorption characteristics. Especially, using the Zr (1${\mu}{\textrm}{m}$) thin film getters with the Pt surface layer, the significant gettering for various active gases could be achieved from 9$\times$10-5 Torr to 1$\times$10-6 Torr or below. this good sorption properties is mainly contributed to the surface coating layer which shows the catalytic effect for gas dissociation and protects the getter materials against oxidation.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2000.11a
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pp.192-195
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2000
Antimony doped tin oxyde thin films have been deposited by sol-gel method using non-alkoxide precursor SnCl$_2$$.$2H$_2$O as host and SbC1$_3$ as dopant material. Using spin coating method, thin films of thickness up to 200nm have been uniformly deposited on Corning 1737F non-alkali glass substrates. Effect of Sb doping concentration and heat treatment on electrical and optical properties was investigated. Heat treatment was performed at the temperature from 350$^{\circ}C$ to 650$^{\circ}C$ in flowing O$_2$. The resulting ATO films showed widely changing electrical resistivity and optical transmittance values in the visible spectrum depending on the composition and firing condition.
Kim, S.;Kwon, O.Y.;Choi, S.W.;Manabe, T.;Yamaguchi, I.;Kumagai, T.;Mizuta, S.
Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
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v.10
no.6
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pp.378-380
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2000
The epitaxial $BaTiO_{3}$ thin film was prepared on the MgO substrate by the coating-pyrolysis process using a mixed solution of Ba-naphthenate and Ti-naphthenate. The crystal structure of the epitaxial $BaTiO_{3}$ thin film was characterized by XRD ${\theta}/2{\theta}$ scan and asymmetric {303} rocking curve scan. The epitaxial $BaTiO_{3}$ thin film had the cubic phase with the lattice parameter of a = c = 0.4018 nm.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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