본 논문에서는 원격 센싱이나 보안에 사용할 수 있는 밀리미터파 수동 이미징 센서를 제작하였다. 영상의 밝기 온도는 $3^{\circ}$의 분해능으로 안테나에서 측정된다. 제작한 센서는 PC에서 제어되며 pan/tilter 장치를 통해 빠른 성능을 얻는다. Pan/tilter 장치는 래스터 스캔을 통해서 2-D 영상을 스캔할 수 있다. 상하좌우로 기계적인 스캔에 의해서 $20{\times}20$ 픽셀의 영상은 400초 이내로 얻어진다. 영상은 측정 후 바로 표시되며 후처리를 위해 저장된다.
Nano pattern is being utilized to produce micro optical components, sensors, and information storage devices. In this study, a study on nano pattern fabrication using raster-scan type Focused Ion Beam (FIB) milling is introduced. Because the intensity of ion beam has Gaussian distribution, the overlapping of the Gaussian beam results in a 3D pattern, and the shape of the pattern can be adjusted by variation of FIB milling parameters, such as overlap, ion dose, and dwell time. The Gaussian shape of single beam intensity has been investigated by experiment, and 3D nano patterns with pitch of 200nm generated by FIB is demonstrated.
For efficient storage and transmission of medical images, the requirement of image com pression is increasing. Because differences between reconstructed images and original images are related with errors In the diagnosis, lossless compression is generally preferred in mod- ical images. in Run Length Coding which is one of the lossless compression method, we have applied modified scanning direction based on the Hilbert curve, which is a kind of space fill ins curve. We have substituted the traditional raster scanning by Hilbert curve direction scanning. Using this method, we have studied enhancement of compression efficiency for medical images.
This paper presents a high performance 2D PE architecture for H.264 Motion Estimation(ME). While existing 2D PE architectures reuse the overlapped data of adjacent search windows scanned in 1 or 3-way, the new architecture scan adjacent windows and multiple paths instead of single raster and zigzag scanning of adjacent windows in 4 way(up,down,left,right). By reducing the redundant access factor by 1.4, the new 4-way search window improve the memory bandwidth by 70-58% compared with 1/3-way search window. With Altera Stratix-III implementation, the high performance 2D PE architecture deals with SD ($720{\times}480$) video of 2 reference frame, $48{\times}48$ search area and $16{\times}16$ macroblock by 30fps at 97.1MHz.
The display of biological signals in raster scan monitors often involves a multirate sampling operation which consists of decimation .and interpolation. All electroencephalouaphic (EEG) samples of 10 to 30 seconds (2, 500 to 7, 500 samples at 250[Hz] sampling frequency) must be displayed in the computer screen to keep the aspect ratio of the paper polygraph output. Since the current afrorclable display technology Plots at most 2, 000 Pixels Per row, sDme signal samples need to be discarde4 This Paper studies methods to perform this operation characterizing them from the signal processing viewpoint and compares the display quality among several decimation techniques. Experimental results show that a nonlinear operation such as the peak detection method could be preferable to the canonical linear filtering to reduce aliasing.
본 연구는 스캔라인 기반의 2차원 이웃 관계를 활용하여 레이블링 알고리즘과 윈도우 기반의 알고리즘을 함께 적용함으로써 항공레이저측량 자료의 지면점과 비지면점을 효과적으로 분리하는 것을 목적으로 한다. 이를 위하여 스캔라인 구조를 바탕으로 최소의 탐색을 통해 점들의 인접 관계를 구축하고, 구축된 인접관계를 기반으로 연결성분 레이블링 알고리즘을 적용하여 항공레이저측량 자료를 지면점과 비지면점으로 분리하였다. 그리고, 모폴로지 필터링을 통해 작은 개체를 추가로 제거하고 거리반비례 추정을 통해 고립 지면점을 복원하여 정확도를 향상시켰다. 다양한 특성을 나타내는 지역에 적용하고 평가한 결과 대부분의 점들이 올바르게 분리 되었고 약97%의 전체 정확도를 도출하였으며, 인접관계 구축 및 데이터 처리 시간이 TIN 또는 격자 구조 자료 구축시간에 비하여 적게 소요되었다.
The Fast Imaging Solar Spectrograph (FISS) on the Goode Solar Telescope (GST) at Big Bear Solar Observatory is the imaging Echelle spectrograph developed by the Solar Astronomy Group of Seoul National University and the Solar and Space Weather Group of Korea Astronomy and Space Science Institute. The instrument takes spectral data from a region on the Sun in two spectral bands simultaneously. The imaging is done by the organization of intensity data obtained from the fast raster scan of the slit over the field of view. Since the scan repeats many times, the whole set of data can be used to construct the movies of monochromatic intensity at arbitrary wavelengths within the spectral bands, and those of line-of-sight velocity inferred from different spectral lines. So far there are two standard observing configurations: one recording the $H{\alpha}$ line and the Ca II 8542 line simultaneously, and the other recording the Na I D2 line and Fe I 5435 line simultaneously. We have developed the procedures to produce the standard data for each observing configuration. The procedures include the spatial alignment, the correction of spectral shift of instrumental origin, and the lambdameter measurement of the line wavelength. The standard data include the movie of continuum intensity, the movies of intensity and velocity inferred from a chromospheric spectral line, the movies of intensity and velocity inferred from a photospheric line. The processed standard data will be freely available online (fiss.snu.ac.kr) to be used for research and public outreach. Moreover, the IDL procedures will be provided on request as well so that each researcher can adapt the programs for their own research.
본 논문은 극자외선 리소그래피용 마스크의 결함을 극자외선을 이용하여 검출하는 방법과 기존의 가시광선을 이용하여 결함을 검출해 내는 시스템과 비교하고, 인위적으로 만들어진 결함을 이용하여 극자외선이 결함에 조사되었을 때의 반사되는 패턴을 분석하였다. 포커스된 극자외선을 래스터 스캔 방식으로 조사하면서 반사되는 극자외선의 세기를 비교함으로서 결함을 발견해 내는 시스템을 구축하였고, 이를 이용하여 기존의 가시광선을 이용하는 결함 검출 장비와 상관 실험을 진행하여 반사된 빛의 세기로 예측한 결함의 크기가 두 검출 방법 사이에 강한 상관관계를 가짐을 확인하였다. 또한, 인광판을 이용하여 극자외선이 결함에 조사되어 반사되는 패턴을 영상화하여 크기별, 결함의 종류별로 다른 프린지 패턴을 가지는 것을 확인하였다.
Images of deposited layers of organic light-emitting diodes were observed by scanning-electron microscope (SEM). We were able to see a clear cross-sectional view of deposited layers. The SEM is a type of electron microscope that images the sample surface by scanning it with a high-energy beam of electrons in a raster scan pattern. A thickness of deposited layer measured by thickness monitor is close to a real value measured by a-step surface profiler within 5%. We were able to see a formation of domains of size about 50-100nm from a surface morphology of Al, and pin holes of size about 50nm.
JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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제13권2호
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pp.157-169
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2013
Scale Invariant Feature Transform (SIFT) generates image features widely used to match objects in different images. Previous work on hardware-based SIFT implementation requires excessive internal memory and hardware logic [1]. In this paper, a new hardware organization is proposed to implement SIFT with less memory and hardware cost than the previous work. To this end, a parallel Gaussian filter bank is adopted to eliminate the buffers that store intermediate results because parallel operations allow all intermediate results available at the same time. Furthermore, the processing order is changed from the raster-scan order to the block-by-block order so that the line buffer size storing the source image is also reduced. These techniques trade the reduction of memory size with a slight increase of the execution time and external memory bandwidth. As a result, the memory size is reduced by 94.4%. The proposed hardware for SIFT implementation includes the Descriptor generation block, which is omitted in the previous work [1]. The addition of the hardwired descriptor generation improves the computation speed by about 30 times when compared with the previous work.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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