• 품질경영학회지
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• 제24권4호
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• pp.14-28
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• 1996

We consider optimal designs of partially accelerated life testing which is deviced for parallel systems with the considerably long life time. In partially step-stress life testing, test items are first run simultaneously at use condition for a specified time, and the surviving items are then run at accelerated condition until a predetermined censoring time. In partially constant-stress life testing, test items are run at either use or accelerated condition only until a specified censoring time. The optimal criterion for each test is to minimize either the generalized asymptotic variance of maximum likelihood(ML) estimators of the hazard rates at use condition and the acceleration factors or the asymptotic variance of the ML estimators of the acceleration factors.

• International Journal of Reliability and Applications
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• 제13권1호
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• pp.19-35
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• 2012

This paper presents an optimum design of step-stress partially accelerated life test (PALT) plan which allows the test condition to be changed from use to accelerated condition on the occurrence of fixed number of failures. Various life distribution models such as exponential, Weibull, log-logistic, Burr type-Xii, etc have been used in the literature to analyze the PALT data. The need of different life distribution models is necessitated as in the presence of a limited source of data as typically occurs with modern devices having high reliability, the use of correct life distribution model helps in preventing the choice of unnecessary and expensive planned replacements. Truncated distributions arise when sample selection is not possible in some sub-region of sample space. In this paper it is assumed that the lifetimes of the items follow Truncated Logistic distribution truncated at point zero since time to failure of an item cannot be negative. Optimum step-stress PALT plan that finds the optimal proportion of units failed at normal use condition is determined by using the D-optimality criterion. The method developed has been explained using a numerical example. Sensitivity analysis and comparative study have also been carried out.

• Journal of the Korean Data and Information Science Society
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• 제13권2호
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• pp.87-95
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• 2002

In this paper we consider optimal designs of partially accelerated life testing which is devised for multi-component mixed systems with the considerably long lifetime. Test items are run at both use condition and accelerated condition until a specified censoring time. The optimal criterion for the sample-proportion allocated to accelerated condition is to minimize asymptotic variance of the maximum likelihood estimators of the acceleration factor and hazard rates.

• 응용통계연구
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• 제8권2호
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• pp.121-132
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• 1995

정상조건에서 수명이 상당히 긴 다수의 부품으로 구성된 직렬형 시스템의 수명검사를 현실적으로 수행하기 위해 부분적 단계충격 수명검사의 최적 검사계획에 관하여 고찰하였다. 시스템을 구성하고 있는 부품의 수명이 서로 독립인 지수분포를 따르는 것으로 가정하여 각 부품의 고장률과 가속인자의 최우추정량을 구하였다. 또한 각 부품의 고장률과 가속인자에 관한 최우추정량의 일반화 점근분산의 합과 각 부품의 가속인자에 관한 최우추정량의 점근분산의 합을 구하여 이를 최소가 되게 하는 최적변환시점의 결정방법을 제안하였다.

• 한국데이터정보과학회:학술대회논문집
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• 한국데이터정보과학회 2002년도 춘계학술대회
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• pp.155-167
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• 2002

In this paper we consider optimal designs of partially constant-stress life testing which is deviced for three-component mixed systems with the considerably long time. Mixed systems are jointed serial system with parallel system. Test items are run at both use condition and accelerated condition until a specified censoring time. The optimal criterion for the sample-proportion allocated to accelerated condition is to minimized asymptotic variance of the maximum likelihood estimators of the acceleration factor and hazard rates.

• Journal of the Korean Data and Information Science Society
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• 제5권2호
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• pp.87-94
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• 1994

In this paper, we consider optimum plan to determine stress change times under the three-step stress PALTs, assuming that each test units follows an exponential distribution. The tampered random variable(TRV) model for the three-step stress PALTs setup are introduced, and maximum likelihood estimators(MLEs) of the failure rate and the acceleration factors are obtained. The change times to minimize the generalized asymptotic variance(GAVR) of MLEs of the failure rate and the acceleration factors are proposed for the three-step stress PALTs.

• 마이크로전자및패키징학회지
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• 제17권4호
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• pp.19-26
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• 2010

포화 수증기압이 고출력 형광체 변환 백색 LED 패키지의 열화현상에 미치는 주요 스트레스 인자임을 확인하였다. 또한 LED 패키지의 가속 수명시험을 통하여 포화 수증기압이 효과적인 가속 스트레스 인자임을 확인하였다. 실험조건은 350 mA 전류를 인가한 것과 인가하지 않은 2가지 조건에 대해 $121^{\circ}C$, 100% R.H. 환경에서 최대 168 시간동안 진행하였다. 실험결과 두 실험 모두 광 출력 감소, 스펙트럼 세기의 감소, 누설전류 및 열 저항이 증가하였다. 고장분석 결과 광 특성의 열화는 봉지재의 변색과 기포에 의해 발생한 것으로 나타났다. LED 패키지의 변색과 흡습에 의해 유발되는 기계적 (hygro-mechanical) 스트레스에 의한 기포 발생은 패키지 열화의 중요한 인자로써, 포화 수증기압이 고출력 LED의 수명시험 시간을 단축하기 위한 스트레스 인자로 적합함을 알 수 있었다.

• 한국패류학회지
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• 제18권2호
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• pp.83-91
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• 2002

자연산 바지락 (Ruditapes philippinarum) 개체군의 생식 주기와 수온-먹이섭이 및 절식조건에 따른 생식소 발달의 인위적 제어 결과를 조직학적 관찰에 의해 조사하였다. 곰소만 자연산 바지락 개체군의 생식소 발달에 따른 암수 개체의 생식주기는 초기활성기 (4-5월), 완숙기 (4-8월), 부분산란기 (5-10월), 퇴화 및 비활성기 (8-3월)의 연속적인 5단계로 구분할 수 있었다. 수온에 따른 생식소 발달의 인위적 제어 실험에서, 바지락은 저수온 (10$^{\circ}C$) 에 의해 억제되었다. 19$^{\circ}C$ 및 22$^{\circ}C$의 고수온에 노출시킨 실험구에서 생식소 발달은 고수온에 의해 촉진되었는데, 자연산 개체군의 것보다 약 1달 빠르게 나타났다. 고수온-먹이섭이 실험구에서, 작은개체 실험구의 생식소 발달 단계가 큰개체구 실험보다 더 빠르게 나타났으며, 저수온 (10$^{\circ}C$)의 것보다 더 빠르게 나타났다 (p=0.01). 암, 수 모든 개체들에서 고수온 (22-28$^{\circ}C$)-절식구 실험구의 생식소 발달관계가 고수온-섭이 실험구의 것들보다 더 빠른 것으로 나타났다. (paired sample t-test, p=0.004). 42일 경과 후 암컷과 수컷의 먹이섭이-고수온 실험구에서, 고수온-작은개체 실험구 조건이 큰개체의 생식소 발달보다 더 민감하게 나타났다. 그러나 저수온-수컷개체 실험구는 암컷 개체들의 실험구보다 반응이 좀 더 민감하게 나타났다. 전반적으로 고수온 실험구의 성적성숙이 저수온구보다 빠르게 나타났으며, 암수 개체 간에 유의한 차이를 보였다 (paired sample t-test, p=0.001). 42일 경과 후 절식 실험구에서, 고수온-수컷 큰개체 실험구의 생식소 발달이 고수온-암컷 큰개체 실험구의 것들보다 빠르게 나타났다. 그러나 작은 개체들의 생식소 발달 단계는 먹이섭이 실험구와 절식 실험구사이에 동일한 양상을 보였다. 산란 성기중 암수 개체들의 경우는 고수온-절식 실험구의 생식소 발달이 암컷과 수컷의 성 및 개체의 크기에 관계없이 고수온-먹이섭이 실험구의 것들보다 더 빠르게 나타났으며, 암수간 유의한 차를 보였다(paired sample t-test, p=0.004).