Epoxy/BaTiO$_3$composite film type capacitors with excellent stability at room temperature, uniform thickness, and electrical properties over a large area were successfully fabricated. We fabricated composite capacitor films with good film formation capability and easy process ability, from ACF-resin as a matrix and two kinds of BaTiO$_3$powders as fillers to increase the dielectric constant of the composite film. The crystal structure of the powders and its effects on dielectric constant of the films were investigated by X-ray diffraction. DSC and dielectric properties tests were conducted to decide the right curing temperature and the optimum amount of the curing agent. As a result, the capacitors of $7{\mu}{\textrm}{m}$ thick film with 10nF/cm2 and low leakage current were successfully demonstrated.
Niobium oxide thin films were synthesized by reactive rf magnetron sputtering. The target was metallic niobium with 2 inch in diameter and the substrate was n-type Si wafer. To control the surface properties of the films, Nb oxide thin films were obtained at various mixing ratios of argon and oxygen gases. Nb oxide thin films were analyzed with alpha step, scanning electron microscopy (SEM), X-ray diffraction (XRD), and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). The result of alpha step showed that the thickness of Nb oxide thin films were decreased with increasing the oxygen gas ratios. SEM images showed that the granular morphology was formed at 0% of oxygen gas ratio and then disappeared at 20 and 75% of oxygen gas ratio. The amorphous Nb oxide was observed by XRD at all films. The oxidation state of Nb and O were studied with high resolution Ni 2p and O 1s XPS spectra. And the change in the chemical environment of Nb oxide thin films was investigated by XPS with Ar+ sputtering.
This paper is to investigate the wear behavior of submerged-arc claddings by the wear test with a ball-on-disk type wear testing machine in air. The specimens were clad with Stoody105 alloy wire on a medium carbon steel (SM45C) substrate by submerged-arc cladding process under different welding parameters. The wear behavior of the cladding through ball-on-disk test has been studied under the wear load from 5 to 16 N and the sliding speed from 8 to 35 cm/s. The weight loss of the specimen was measured. Scanning electron micrographs of the worn surface show a layer of oxide film formed on the worn surface. Oxidation wear mechanism controls the wear process. The spatting of the oxide is caused by the repeated rubbing fatigue mechanism.
MOCVD of Cu films were carried out on gold-TiN(1000$\AA$)/Ti/Si wafers from hexafluoroacetylacetonate-Cu(l) vinyltrimethylsilane, Cu(l)(hafac)(vtms), in a small cold-wall type reactor. Effects of the substrate and bubbler temperatures on the film growth rate were studied, and a film with $\rho$=1.8$\pm$0.1$\mu$$\Omega$.cm could be deposited 150nm/min at Ts=200 and Tb=$30^{\circ}C$, respectively. The initial stage of the film formation was also investigated by in-situ laser reflectivity monitoring combined with SEM observations, based on which variations in the film properties depending on the growth conditions were discussed in terms of the nucleation rate and grain size.
The Chitinase which hydrolyzes the chitin, $\beta-1,$ 4-polymer of N-acetyl glucosamine, was purified from the culture broth of Streptomyces sp. 115-5 strain. The homogeneity of enzyme was reveali by CM-Sephadex C-50 column chromatography and polyacrylamide gel electrophoresis. The purified enzyme hydrolyzed chitin and chitosan, but not cellulose. And with chitin as the substrate, a Km value of 3.6mg per ml and a Vmax of $100\mu$ mole per hr were found. The activation energy for the reaction was 3.66 Kcal per mole. The M. W. was estimated 56,000 daltons, and PI as 3.0. The chitinase was inhibited by the addition of glucose, glucuronic acid, sorbitol and xylose as product inhibitors and its inhibition pattern by glucose was estimated pure competitive type.
In this study, ZnO is evaporated to be coated on n-type Si wafer substrate. Refractive coefficient of thin film that is evaporating TiO$_2$ onto ZnO increases linearly as thickness is getting thinner to have high value and high angle and it satisfies theoretical equation I(x)=Io exp (-$\alpha$x) theory that represents the strength of photon energy advancing through ZnO thin film. And dielectric constant of TiO$_2$ thin film evaporated onto ZnO is high and $\varepsilon$$_2$ is smaller than $\varepsilon$$_1$. The specimen TiO$_2$ thin film evaporated onto ZnO has much higher dielectric constant when photon energy is increased.
Hydrogen passivation of Si nanocrystals identifies luminescence mechanism indirectly. Si nanocrystallites thin films on p-type (100) Si substrate have been fabricated by pulsed laser deposition technique using a Nd:YAG laser After deposition, Si nanocrystallites thin films have been annealed at 600$^{\circ}C$ and 760$^{\circ}C$ in nitrogen ambient, respectively. Hydrogen passivation was subsequently performed at 500$^{\circ}C$ in forming gas (95 % N$_2$ + 5 % H$_2$) for an 1 hour. We report the photoluminescnece(PL) property of Si thin films by the hydrogen passivation. The luminescence mechanism of Si nanocrystallites has also been investigated.
Piezoelectric thin film such as ZnO and AlN can be applicable to FBAR (Film Bulk Acoustic Resonator) device of thin film type and FBAR can be applicable to MMIC. The characteristic of FBAR device is variable according to the deposition conditions of piezoelectric thin film when preparation of thin film by sputtering method. In this study, we prepared ZnO thin film for FBAR using Facing Targets Sputtering apparatus which can be deposited fine Quality thin film because temperature increase of substrate due to the bombardment of high-energy particles can be restrained. And crystalline and c-axis preferred orientation of ZnO thin film with deposition conditions was investigated by XRD.
This paper describes on the fabrication and characteristics of hot-film type micro-flowsensors integrated with Pt-RTD's and micro-heaters on the Si substrate, in which MgO thin-films were used as medium layer in order to improve adhesion of Pt thin-films to $SiO_2$ layer, The MgO layer improved adhesion of Pt thin-films to $SiO_2$ layer without any chemical reactions to Pt thin-films under high annealing temperatures. In investigating output characteristics of the fabricated micro-flowsensors, the output voltages increased as gas flow rate and its conductivity increased due to increase of heat-loss from sensor to external. Output voltage was 82 mV at $N_2$ flow rate of 2000 seem/min, heating power of 1.2W.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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제8권1호
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pp.21-25
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2007
A two-dimensional TCAD MEDICI simulator was used to examine the voltage transfer characteristics, on-off switching properties and latch-up of a CMOS inverter as a function of the n-channel length and doping levels. The channel in a LDMOSFET encloses a junction-type source and is believed to be an important parameter for determining the circuit operation of a CMOS inverter. The digital logic levels of the output and input voltages were analyzed from the transfer curves and circuit operation. The high and low logic levels of the input voltage showed a strong dependency on the channel length, while the lateral substrate resistance from a latch-up path in the CMOS inverter was comparable to that of a typical CMOS inverter with a guard ring.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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