간섭방법을 이용한 비정질 $As_40Ge_{10}S_{35}Se_{15}$ 박막에서의 광유기 이방성 크기 측정
(Estimation of the Anisotropy Magnitude in Amorphous $As_40Ge_{10}S_{35}Se_{15}$ Thin Films by an Interference Method)
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- 한국전기전자재료학회논문지
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- 제11권9호
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- pp.746-751
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- 1998