ZnO thin films were deposited at different repetition rates of 5 Hz and 10 Hz by pulsed laser deposition. X-ray diffraction (XRD) full widths at half maximum (FWHMs) of (002) ZnO peak in ZnO thin film deposited at 5 Hz and 10 Hz was 0.22 and $0.26^{\circ}$, respectively. The grain size of ZnO thin film deposited at 5 Hz was larger than that of 10 Hz. The variation of repetition rates did not have an effect on the optical property of ZnO thin films. The degradation of the crystalline quality and surface morphology in ZnO thin film deposited at 10 Hz resulted from supersaturation effect by decrease of time interval between a ZnO particle arriving on a substrate by laser shot and a ZnO particle arriving on a substrate by next laser shot.
In this paper, we suggested the femtosecond laser processing using the mask which makes Gaussian spatial beam distribution to a normalized distribution by Fresenel diffraction. Holography pattern of the size of $320{\times}320{\mu}m^2$ on the Cr thin film on glass substrate with a pixel size of $5{\times}5{\mu}m^2$ was fabricated according to the pattern generated by the iterative Fourier transform algorithm(IFTA) algorithm. We analysed the damage threshold with an assumption the power distribution as Gaussian profile as 45 $mJ/cm^2$. The regenerated image of letters through the diffractive pattern was well recognized at the screen.
The superconducting properties of YBa$_{2}$Cu$_{3}$$O_{7-x}$(YBaCuO) thin films prepared by laser ablation have been investigated. The x-ray diffraction patterns of the films were substantially different from one another. The Y and Ba oxides are formed by the collisions with oxygen molecules. On the other hand, the Cu oxide is mainly formed at initial stage of the laser irradiation. The YBaCuO films manufactured on MgO(100) substrate were indicated T$_{c}$(zero)=90 K, T$_{c}$(onset)=92 K, and J$_{c}$=3.5*10$^{5}$ A/cm$^{2}$(at 77.3K). The optimum conditions were found to be a substrate temperature of 710.deg. C, an energy density of 2 J/cm$^{2}$, and a target-substrate distance of 60mm in an oxygen partial pressure of 200 mTorr.0 mTorr.
Multi-degree-of-freedom (MDOF) displacement measurement Is needed In many application fields: precision machine control, precision assembly, vibration analysis, and so on. This paper presents a new MDOF displacement measurement method using a laser diode (LD), two position-sensitive detectors (PSDs), and a conventional diffraction grating. It utilizes typical features of a diffraction grating to obtain the information of MDOF displacement. MDOF displacement is calculated from the independent coordinate values of the diffracted ray spots on the PSDs. Forward and inverse kinematic problems were solved to compute the MDOF displacement of a rigid body. Experimental results show maximum absolute errors of less than ${\pm}10$ micrometers in translation and ${\pm}30$ arcsecs in rotation.
The dependence of diffraction efficiency as a funct~on of film thickness and incident angle has been investigated in amorphous chalcogenide thin films, which act as a polarization holographic materials. Especially a-(Se, S) based films exhibit a number of photoinduced phenomena not observed in other types of amorphous thin films. Holographic gratings in amorphous As-Ge-Se-S thin films have been formed using the mutual perpendicular polarized(linearly) He-Ne laser light. We could obtain the optimum condition to get high diffraction efficiency.
Chen, Jie;Fan, Quanping;Wang, Junhua;Yuan, Dengpeng;Wei, Lai;Zhang, Qiangqiang;Liao, Junsheng;Xu, Min
Current Optics and Photonics
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제4권1호
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pp.9-15
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2020
Fresnel zone plates have been widely used in many applications, such as x-ray telescopes, microfluorescence, and microimaging. To obtain an x-ray Fresnel zone plate, many fabrication methods, such as electron-beam etching, ion-beam etching and chemical etching, have been developed. Fresnel zone plates fabricated by these methods will inevitably lead to some nonideal factors, which have an impact on the focusing characteristics of the zone plate. In this paper, the influences of these nonideal factors on the focusing characteristics of the zone plate are studied systematically, by numerical simulations based on scalar diffraction theory. The influence of the thickness of a Fresnel zone plate on the absolute focusing efficiency is calculated for a given incident x-ray's wavelength. The diffraction efficiency and size of the focal spot are calculated for different incline angles of the groove. The simulations of zone plates without struts, with regular struts, and with random struts are carried out, to study the effects of struts on the focusing characteristics of a zone plate. When a Fresnel zone plate is used to focus an ultrashort x-ray pulse, the effect of zone-plate structure on the final pulse duration is also discussed.
본 연구는 백령도 사곶 사빈에서 채취한 사질 시료를 대상으로 레이저 회절 입도분석기를 이용한 입도분석에 있어서 전처리 및 굴절율과 흡수율의 영향을 비교하고, 사질 시료의 적절한 입도분석 절차 및 방법을 제시하고자 한다. 본 연구에 적용된 세 가지 전처리 방법에 따라 입도분석 결과는 서로 큰 차이를 보이지 않지만, 과산화수소 처리를 했을 경우, 그렇지 않았을 때와 차이를 보이고 있어, 과산화수소 처리를 통해 유기물은 제거되어야 한다. 시료의 입도분석 결과는 굴절율 1.3과 흡수율 0.01 이하에서 다른 지수가 적용되었을 때와 차이를 보이고 있다. 이러한 차이는 세립질 시료에 비하면 그리 크지 않으며 따라서 굴절율과 흡수율도 사질 시료의 입도분석 결과에 큰 영향을 미치지 않는다. 그러나 굴절율 1.3과 흡수율 0.01 이하 이외의 다른 지수를 적용할 필요가 있다.
This paper investigates that how diffraction efficiency is going to change according to amorphous As-Ge-Se-S. We made films such as $\lambda$, $\lambda/2$, $\lambda/4$, $\lambda/8$ on the basis of 633nm, which is wavelength of recording laser(He-Ne). Among them, $\lambda/4$ has the highest diffraction efficiency value, while $\lambda/8$ has the lowest. The experiment shows that the highest diffraction efficiency value of $\lambda/4$ is about 0.09%, whereas diffraction efficiency of $\lambda/8$ is formed, which is merely close to 0%.
We have carried out two-beam interference experiment to form holographic grating on amorphous $As_{40}Ge_{10}Se_{15}S_{35}/Ag$ double-layer. In this study holographic grating formed using He-Ne laser(632.8nm) under non-polarization state and p-polarization state and we confirm that the diffraction efficiency depend on thickness of Ag. The diffraction efficiency was obtained by first order intensity. We got the maximum diffraction efficiency that thickness of Ag was $600{\AA}$. The maximum diffraction efficiency was 13.5% in (P:P) polarization state.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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