Improved Erasing Characteristics of Tunnel Barrier Engineered Charge Trap Flash Memory with $HfO_2$ Charge Trap Layer
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- 한국진공학회:학술대회논문집
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- 한국진공학회 2009년도 제36회 동계학술대회 초록집
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- pp.104.2-104.2
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- 2009