JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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제8권3호
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pp.264-275
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2008
Electron mobility has been investigated theoretically in undoped double-gate (DG) MOSFETs of different channel architectures: a relaxed-Si DG SOI, a strained-Si (sSi) DG SSOI (strained-Si-on-insulator, containing no SiGe layer), and a strained-Si DG SGOI (strained-Si-on-SiGe-on-insulator, containing a SiGe layer) at 300K. Electron mobility in the DG SSOI device exhibits high enhancement relative to the DG SOI. In the DG SGOI devices the mobility is strongly suppressed by the confinement of electrons in much narrower strained-Si layers, as well as by the alloy scattering within the SiGe layer. As a consequence, in the DG SGOI devices with thinnest strained-Si layers the electron mobility may drop below the level of the relaxed DG SOI and the mobility enhancement expected from the strained-Si devices may be lost.
증가형 MOS FET에서 강반저의 경우 드레인 전류는 모두 드리프트에 기인하여 흐르기 때문에 I-V모델링시 수직전계와 수평전계를 함께 고려하여야한다. 특히 게이트전압 인가시 발생되는 수직전계는 표면이동도에 영향을 크게 주고 이로 인해서 캐리어들의 정상적인 흐름이 저해되는데 본 논문에서 제안한 다중 box분할법에 의하여 반전층의 깊이를 구하여 이동도 모델에 영향을 크게 미치는 반전층 내에서의 수직전계를 수치해석하였다.
Kim, Sung-Hwan;Choi, Hye-Young;Han, Seung-Hoon;Jang, Jin;Cho, Sang-Mi;Oh, Myung-Hwan
한국정보디스플레이학회:학술대회논문집
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한국정보디스플레이학회 2004년도 Asia Display / IMID 04
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pp.889-892
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2004
We developed a high performance bottom contact, organic thin-film transistor (OTFT) array on plastic using a self-organized process. The effect of OTS treatment on the PVP gate insulator for the performance of OTFT on plastic has been studied The OTFT without OTS exhibited a field-effect mobility of 0.1 $cm^2$/Vs on/off current ratio of > $10^7$. On the other hand, OTFT with OTS, exhibited a field-effect mobility of 1.3 $cm^2$/Vs and on/off current ratio of>$10^8$.
JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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제7권2호
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pp.120-131
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2007
A comprehensive short channel analytical model has been proposed for High Electron Mobility Transistor (HEMT) to obtain higher cut-off frequency maintaining the reliability of the device. The model has been proposed to consider generalized doping variation in the directions perpendicular to and along the channel. The effect of field plates and different gate-insulator geometry (T-gate, etc) have been considered by dividing the area between gate and the high band gap semiconductor into different regions along the channel having different insulator and metal combinations of different thicknesses and work function with the possibility that metal is in direct contact with the high band gap semiconductor. The variation obtained by gate-insulator geometry and field plates in the field and channel potential can be produced by varying doping concentration, metal work-function and gate-stack structures along the channel. The results so obtained for normal device structure have been compared with previous proposed model and numerical method (finite difference method) to prove the validity of the model.
The electron drift mobilitity of poly(4,4'-cyclohexylidenediphenyl carbonate)(PC-Z) doped with 3,5-dimethyl-3',5'-di-t-butylstilbenequinone(MBSQ) was measured by the time-of-flight technique. Energy gap of the polymer doped with 25wt% of MBSQ was 3.1 eV. The electron drift mobility was 2.98${\times}$10$\^$-6/$\textrm{cm}^2$/V$.$s at 293K. The electric field and temperature dependences of the electron drift mobility were discussed with Poole-Frenkel and Arrhenius formulations. The activation energy(E$\_$0/), Poole-Frenkel coefficient(${\beta}$) and effective temperature(T$\_$eff/) of the mobility are 0.815 eV, 1.73${\times}$10$\_$-4/ eV$.$cm$\^$1/2//V$\_$1/2/ and 6.43${\times}$10$^2$K, respectively.
Ahn, Byeong-Jae;Kim, Do-Young;Yoo, Jin-Su;Junsin Yi
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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제1권2호
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pp.7-11
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2000
a-Si:H and poly-Si TFT(thin film transistor) characteristics were investigated using an inverted staggered type TFT. The TFT an as-grown a-Si:H exhibited a low field effect mobility, transconductance, and high gate threshold voltage. The poly-Si films were achieved by using an isothermal and RTA treatment for glow discharge deposited a-Si:H films. The a-Si:H films were cystallized at the various temperature from 600$^{\circ}C$ to 1000$^{\circ}C$. As anneal temperature was elevated, the TFT exhibited increased g$\sub$m/ and reduced V$\sub$ds/. V$\sub$T/. The poly-Si grain boundary passivation with grain boundary trap types and activation energies as a function of anneal temperature. The poly-si TFT showed an improved I$\sub$nm//I$\sub$off/ ratio of 10$\^$6/, reduced gate threshold voltage, and increased field effect mobility by three orders.
The different hydrogen passivation effects on low-temperature processed and high-temperature processed poly-Si thin film transistors have been investigated. The hydrogen passivation on low-temperature processed poly-Si TFT results in the increase of the field-effect mobility and the decrease or the threshold voltage, while the hydrogenation increases the field-effect mobility and decreases the leakage current in high-temperature processed poly-Si TFT. The effective trap state densities of low-temperature processed poly-Si TFT before and after 5 hours of hydrogenation are estimated at about $4.0{\times}10^{12}/cm^2$ and $1.5{\times}10^{12}/cm^2$, while those of high-temperature processed poly-Si TFT are about $1.5{\times}10^{12}/cm^2$ and $1.2{\times}10^{12}/cm^2$, respectively.
We fabricated organic field-effect transistors (OFETs) based a fluorinated copper phthalocyanine ($F_{16}CuPc$) as an active layer. And we observed the surface morphology of the $F_{16}CuPc$ thin film. The $F_{16}CuPc$ thin film thickness was 40nm, and the channel length was $50{\mu}m$, channel width was 3mm. We observed the typical current-voltage (I-V) characteristics and capacitance-voltage (C-V) in $F_{16}CuPc$ FET and we calculated the effective mobility.
We fabricated organic field-effect transistors (OFETs) based a fluorinated copper phthalocyanine ($F_{16}CuPc$) as an active layer. And we observed the surface morphology of the $F_{16}CuPc$ thin film. The $F_{16}CuPc$ thin film thickness was 40nm, and the channel length was $50{\mu}m$, channel width was 3mm. We observed the typical current-voltage (I-V) characteristics and capacitance-voltage (C-V) in $F_{16}CuPc$ FET and we calculated the effective mobility.
Kim, Dae-Yop;Lee, Jae-Hyuk;Kang, Dou-Youl;Choi, Jong-Sun;Kim, Young-Kwan;Shin, Dong-Myung
한국정보디스플레이학회:학술대회논문집
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한국정보디스플레이학회 2000년도 제1회 학술대회 논문집
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pp.69-70
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2000
There are currently considerable interest in the applications of conjugated polymers, oligomers, and small molecules for thin-film electronic devices. Organic materials have potential advantages to be utilized as semiconductors in field-effect transistors and light-emitting diodes. In this study, pentacene thin-film transistors (TFTs) were fabricated on glass substrate. Aluminums were used for gate electrodes. Silicon dioxide was deposited as a gate insulator by PECVD and patterned by reactive ion etching (R.I.E). Gold was used for the electrodes of source and drain. The active semiconductor pentacene layer was thermally evaporated in vacuum at a pressure of about $10^{-8}$ Torr and a deposition rate $0.3{\AA}/s$. The fabricated devices exhibited the field-effect mobility as large as 0.07 $cm^2/V.s$ and on/off current ratio as larger than $10^7$.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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