TiN을 Cu의 확산방지막으로 사용하기 위해 많은 연구가 되어왔는데, 이 연구에서는 특히 X-ray photoelectron spectroscopy(XPS)를 이용하여 TiN박막에서의 Cu의 확산현상을 연구하였다. TiN박막은 일반적으로 columnar grain을 형성하면서 성장을 하는데, 녹는점의 1/3에 해당하는 비교적 낮은 온도에서는 grain들의 경계를 따라 Cu가 확산함을 확인하였다. Atomic force microscopy(AFM)를 이용하여 grain의 모양을 관찰하였고, 이 grain boundary 를 통한 확산 현상을 연구하기 위하여, modified surface accumulation method를 이용하였 다. 연구 결과, TiN박막에서의 Cu의 grain boundary diffusion의 활성화 에너지 $Q_b$는 0.23 eV, Diffusivity $D_{bo}$는 $5.5\times10^{-12{\textrm{cm}^2$/sec의 값을 얻었다.
The variation of MgO surfaces, in which fluorine was contained (F-MgO), by high energy electron-beam (EB) was studied using X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). Fluorine on the MgO surface was eliminated by EB treatment with the consequence that the electronic structures of Mg, O and C were varied. Moreover, as a result of oxidation of carbon species on the surface by high dose EB treatment (90 kGy), the concentration of carbonate and carboxyl species on the surface was increased. In this experiment, it was confirmed that the structure of oxidized metal surface can be adjusted by varying conditions of EB treatment (energy and dose). This result implies that EB can be applied for developing new catalysts.
We fabricated BiAlO thin film by a solution process with a brush coating to be used as liquid crystal (LC) alignment layer. Solution-processed BiAlO was coated on the glass substrate by brush process. Prepared thin films were annealed at different temperatures of 80℃, 180℃, and 280℃. To verify whether the BiAlO film was formed properly, X-ray photoelectron spectroscopy analysis was performed on Bi and Al. Using a crystal rotation method by polarized optical microscopy, LC alignment state was evaluated. At the annealing temperature of 280℃, the uniform homogenous LC alignment was achieved. To reveal the mechanism of LC alignment by brush coating, field emission scanning electron microscope was used. Through this analysis, spin-coated and brush coated film surface were compared. It was revealed that physical anisotropy was induced by brush coating at a high annealing temperature. Particles were aligned in one direction along which brush coating was made, resulting in a physical anisotropy that affects a uniform LC alignment. Therefore, it was confirmed that brush coating combined with BiAlO thin film annealed at high temperature has a significant potential for LC alignment.
It was reported that oxidative etching of graphene occurs at about $450-550^{\circ}C$ under oxygen atmosphere. We found catalytic breakdown of graphene by Au on the SiOx surface. This catalytic process was investigated using x-ray photoelectron spectroscopy and absorption spectroscopy at 4D PES beamline in PAL. Spectrosopic results suggest that the destruction of graphene is initiated by catalytic interaction between the oxidized gold and carbons in vacancy defects of graphene.
TiN 박막은 저온(<$500^{\circ}C$), 저압(1Torr)에서 Tetrakis(diethylamido)titanium[TDEAT, Ti(NEt2)4]single precursor를 사용하여 증착하였다. 증차고딘 박막은 SEM(Scanning Electron Microscopy)으로 surface morphology와 step coverage를 측정하였고, TEM(Transmission Electron Microscopy)분석결과 microcrystalline의 TiN을 확인하였다. XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy)분석결과에 따르면 $200-500^{\circ}C$구간에서는 $\beta$-hydogen elimination에 의한 반응이 일어나고 $600-700^{\circ}C$구간에서는 thermal decomposition에 의한 반응이 일어나고 있음을 알 수 있다. Carbon과 oxygen의 농도는 AES(Auger Electron Spectroscopy)를 사용하여 측정하였으며 온도가 감소할수록 carbon의 농도가 감소하는 경향을 보여주고 있다.
Kim, Dong-Wun;Seo, Hyun-Ook;Kim, Kwang-Dae;Dey, Nilay Kumar;Kim, Myoung-Joo;Jeong, Myoung-Geun;Kim, Young-Dok
한국진공학회:학술대회논문집
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한국진공학회 2010년도 제39회 하계학술대회 초록집
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pp.60-60
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2010
CO2 reforming of methane (CRM) based on Ni catalysts was studied using temperature programmed reaction (TPR). The onset temperature of the CRM reaction was increased in a repeated TPR experiments. X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and Raman spectroscopy showed formation of graphite structures on Ni during CRM reaction, which deactivate Ni-surfaces. Attempts were made for inhibiting deactivation of Ni surfaces and reducing onset-temperature of the CRM reaction by various surface modification techniques, which will be presented in this poster.
The kinetics of native oxide formation on the (Al, Ga)As and (Cd, Mn)Te have been studied by X-ray photoelectron spectroscopy(XPS) and Auger electron spectroscopy(AES). The regrowth of native oxide after 3keV Ar ion sputter etch and deionized water etch has been studied. The previous report exhibited that the native oxide on CdTe and GaAs can be removed completely by deionzied(DI) water only[1]. On the other hand, the airgrown native oxide on (Al, Ga)As become nonhomogeneous and the regrown native oxide on (Cd,Mn)Te can be partially removed.
The surfaces of $TiO_2$ and ZnO nanoparticles have been modified by gold (Au) nanoparticles by a reduction method in solution. Their interfacial electronic structures and optical absorptions have been studied by depth-profiling X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and UV-vis absorption spectroscopy, respectively. Upon Au-modification, UV-vis absorption spectra reveal a broad surface plasmon peak at around 500 nm. For the as-prepared Au-modified $TiO_2$ and ZnO, the Au $4f_{7/2}$ XPS peaks exhibit at 83.7 and 83.9 eV, respectively. These are due to a charge transfer effect from the metal oxide support to the Au. For $TiO_2$, the larger binding energy shift from that (84.0 eV) of bulk Au could indicate that Au-modification site of $TiO_2$ is different from that of ZnO. On the basis of the XPS data with sputtering depth, we conclude that cationic (1+ and 3+) Au species, plausibly $Au(OH)_x$ (x = 1-3), commonly form mainly at the Au-$TiO_2$ and Au-ZnO interfaces. With $Ar^+$ ion sputtering, the oxidation state of Ti dramatically changes from 4+ to 3+ and 2+ while that (2+) of Zn shows no discernible change based on the binding energy position and the full-width at half maximum (FWHM).
열플라즈마 시스템을 이용하여 붕소 함유 나노입자를 제조하기 위한 새로운 방법이 시도되었다. $BCl_3$ 와 $CH_4$ 전구체 기체를 열플라즈마 영역으로 분사하여 고온에서 분해시킨 후, 기체상 응핵 및 성장 과정을 통하여 붕소 또는 붕소 카바이드 입자를 제조하였다. X 선 광분자 분석법을 이용하여 입자 표면의 화학적 결합 상태 및 카바이드와 관련된 B-C 결합 구조 내의 붕소와 탄소의 원자 비율을 측정 및 분석하였다. 또한 나노입자 형상 및 크기 분석을 위해 주사식 투과현미경과 전자에너지손실분광법이 이용되었다. 제조된 나노입자는 30-70 nm 내의 크기 분포를 갖고 있으며, $BCl_3$ 와 $CH_4$ 전구체 기체가 각각 20 sccm, 25 sccm 사용되었을 때 B-C 결합 구조 내의 붕소와 탄소의 비는 2.13 이었다.
We investigated the etching characteristics of YMnO$_3$ thin films in high-density plasma etching system. In this study, YMnO$_3$ thin films were etched with CF$_4$/Ar gas chemistries in inductively coupled plasma(ICP). Etch rates of YMnO$_3$ increased up to 20% CF$_4$ in CF$_4$/(CF$_4$+Ar), but decreased with furthermore increasing CF$_4$ in CF$_4$/(CF$_4$+Ar). In optical emission spectroscopy (OES) analysis, F radical and Ar* ions in plasma at various gas chemistries decreased with increasing CF$_4$ content. Chemical states of YMnO$_3$ films exposed in plasma were investigated with x-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and secondary ion mass spectrometry (SIMS). There is a chemical reaction between metal (Y, Mn) and F and metal-fluorides were removed effectively by Ar ion sputtering. YF$_{x}$, MnF$_{x}$ such as YF, YF$_2$, YF$_3$ and MnF$_3$ were detected using SIMS analysis. The etch slope is about 65$^{\circ}$ and cleasn surface. surface of the etched YMnO$_3$ thin films was investigated with X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and secondary ion mass spectrometry (SIMS). The etch profile was also investigated by scanning electron microscopy (SEM).EM).
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[게시일 2004년 10월 1일]
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