• Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
• /
• v.36 no.1
• /
• pp.36-41
• /
• 2023

We investigated the properties of vanadium oxide (VOx) buffer layers deposited by a dual RF magnetron sputtering method under various target powers for inverted organic solar cells (IOSCs). Sputter fabricatged VOx thin films exhibited higher crystallinity with the increase of target power, resulting in a uniform and large grain size. The electrical properties of VOx films are improved with the increase of target power because of the increase of V content. In the results, the performance of IOSCs critically depended on the target power during the film growth because the crystalllinity of the VOx film affects the carrier mobility of the VOx film.

• Phonetics and Speech Sciences
• /
• v.8 no.2
• /
• pp.57-63
• /
• 2016

Recently, the Lax Vox voice therapy has been used as one of the SOVTE(Semi-Occluded Vocal Tracts Exercise). The purpose of this study was to explore the effect of Lax Vox voice therapy for a patient with Spasmodic dysphonia on voice improvement. One female spasmodic dysphonia patient(age=27) who had been diagnosed by a laryngologist received Lax Vox voice therapy. The Lax Vox protocol was configured as 5 steps (1 warm-up and 4 steps : bubbling without / with phonation/ gliding with phonation/ generalization) in this study. A total of 11 sessions were performed by a certified speech language pathologist. The present study evaluated the acoustic, aerodynamic, auditory perceptual, and patient's self-rating between pre-, mid-, and post- voice therapy. All objective and subjective parameters were improved after voice therapy; Reduced frequency variation, increased maximum phonation time, enlarged voice range, improved 'G' and 'S' in GRBAS & USDRS, and reduced VHI were observed. Especially, decreased $f_0$ and remarkably reduced voice tremor were also demonstrated following Lax Vox voice therapy. Accordingly, Lax Vox voice therapy technique can be useful for improving voice and quality of life in patients with spasmodic dysphonia.

• Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
• /
• 2011.08a
• /
• pp.223-223
• /
• 2011

적외선 감지기로 사용되는 microbolometer 소자재료로 VOx 또는 비정질 Si이 가장 많이 사용된다. 그 중에서 VOx 물질은 온도저항계수 즉, TCR이 높고 감지도가 우수하기 때문에 비냉각 적외선 검출기에 많이 응용된다. Microbolometer 검출기는 그 응답도는 micromachining 공정에 의해 좌우되는 열 고립구조에 의해 좌우된다. 특히 TCR 값이 크고, 열시상수 값이 작을수록 양질의 감지도를 얻을 수 있으므로 재료의 선택 및 공정이 매우 중요하다. 따라서 본 연구에서는 비냉각 적외선 감지소자로 사용되는 VOx 박막을 DC Sputtering을 사용하여 증착하였으며, 그 특성을 조사하였다. MEMS 공정에 의한 센서의 제작은 적외선을 흡수하여 저항변화를 읽어내어 판독하는 Readout IC(ROIC) 위에 행해진다. Monolithic 공정에 의해 이러한 ROIC 위에서 공정이 동시에 행해지므로 공정온도는 매우 중요한 요소로 작용한다. 따라서 증착된 VOx 박막의 열처리 효과를 연구하였다. 열처리 온도는 $250^{\circ}{\sim}420^{\circ}C$, 열처리 시간은 20~80 min 까지 변화시켰다. 갓 증착된 VOx 박막의 저항은 약 200 $k{\Omega}$이였으며, TCR은 -1.5%/$^{\circ}C$로 나타났다. 열처리 온도가 증가함에 따라 TCR 값은 증가하였으며, 열처리 시간이 증가할수록 역시 TCR 값이 증가하는 경향을 보였다. 열처리 온도 320$^{\circ}C$, 열처리 시간 40 min에서 TCR 값은 약 -2%/$^{\circ}C$의 값을 얻을 수 있었다. 이러한 성능의 VOx 박막을 이용하여 비냉각형 microbolometer 검출소자를 열변형없이 공정을 수행할 수 있을 것으로 기대한다.

• Korean Journal of Chemical Engineering
• /
• v.35 no.12
• /
• pp.2365-2378
• /
• 2018

We investigated the correlation between vanadium surface density and VOx structure species in the selective catalytic reduction of NOx by $NH_3$. The properties of the $VOx/TiO_2$ catalysts were investigated using physicochemical measurements, including BET, XRD, Raman spectroscopy, FE-TEM, UV-visible DRS, $NH_3-TPD$, $H_2-TPR$, $O_2-On/Off$. Catalysts were prepared using the wet impregnation method by supporting 1.0-3.0 wt% vanadium on $TiO_2$ thermally treated at various calcination temperatures. Through the above analysis, we found that VOx surface density was $3.4VOx/nm^2$, and the optimal V loading amounts were 2.0-2.5 wt% and the specific surface area was $65-80m^2/g$. In addition, it was confirmed that the optimal VOx surface density and formation of vanadium structure species correlated with the reaction activity depending on the V loading amounts and the specific surface area size.

• Applied Science and Convergence Technology
• /
• v.24 no.5
• /
• pp.178-183
• /
• 2015

Optical, electrical and structural properties of VOx/ZnO/VOx thin film are studied. The VOx/ZnO/VOx multilayer is deposited by using a radio frequency (RF) sputtering system. The VOx/ZnO/VOx thin film shows the high temperature coefficient of resistance (TCR) of $-3.12%/^{\circ}C$ and the low sheet resistance of about 80 $k{\Omega}/sq$ at room temperature. The responsivity and detectivity of the bolometer are measured as a function of modulation frequency.

• Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
• /
• 2013.08a
• /
• pp.236-236
• /
• 2013

비냉각 적외선 검출기는 산업용 군사용으로 최근 각광을 받고 있다. 이는 주야간 빛이 없는 곳에서도 사물의 열을 감지할 수 있어 인체감지 및 보안감시, 에너지 절감 등에 응용될 수 있는 핵심부품이다. 비냉각 적외선 검출기로는 재료의 저항의 변화를 감지하는 마이크로볼로미터형이 가장 많이 사용된다. 감지재료로는 비정질 실리콘(a-Si)과 산화바나듐(VOx)이 가장 많이 사용된다. VOx 박막은 일반적으로 RF sputtering 방법으로 증착이 되며, 저항이 낮고, 저항의 온도변화 계수(TCR)가 크며 신호 대 잡음 특성이 우수한 반면 산소(oxygen) phase가 다양하여 갓 증착된 상태의 박막은 재현성이 떨어지는 단점이 있다. 본 연구에서는 기존의 V 타겟을 사용한 VOx 박막을 증착하는 방법을 개선하여 ZnO 나노박막을 중간에 삽입하여 저항 특성을 조절할 뿐만 아니라 열처리에 의해 TCR 값을 향상시키고, VO2 phase 가 주로 나타나는 박막 증착 및 공정 방법을 소개한다. RF sputtering 장비를 이용하여 산소와 아르곤 가스의 혼합비를 4.5로 하였으며, VOx 증착 시 플라즈마 Power는 150 W 로 하여 상온에서 증착하였다. 갓 증착된 VOx 다층박막의 XRD 스펙트럼은 V2O5 피크가 주된 상을 이루고 있었으며, 산소열처리에 의해 VO2 상이 주로 나타남을 알 수 있었다. TCR 값은 갓 증착된 샘플에서 -0.13%/K의 값을 얻었으며, $300^{\circ}C$에서 50분간 열처리 후 -3.37%/K 으로 급격히 향상됨을 알 수 있었다. 저항은 열처리 후 약 100 kohm으로 낮아져 검출소자를 위한 조건에 적합한 특성을 얻을 수 있었다. 또한 산소열처리의 온도 및 시간에 따라 TCR 및 표면 거칠기 특성을 조사하였으며, 최적의 열처리 조건을 얻고자 하였다.

• Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
• /
• 2008.11a
• /
• pp.247-247
• /
• 2008

In this work, VOx thin films have been deposited by DC magnetron sputtering method on glass substrate using argon and oxygen gases. We examined the effects of the post annealing temperature on the structural, optical, and electrical variations of VOx films. The films were annealed at temperatures ranging from 300 to $500^{\circ}C$ in steps of $100^{\circ}C$ using RTA equipment in air ambient. The thickness of the film and interface between film and substrate were observed by field emission scanning electron microscopy (FESEM). To analysis the structural properties of VOx with various annealng temperatures, we used XRD method. Also, we investigated the electrical and optical properties of VOx thin films using hall measurement, 4-point probe, and UV-visible methods.

• Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
• /
• 2008.11a
• /
• pp.246-246
• /
• 2008

In this work, VOx thin films have been deposited by DC magnetron sputtering method with various DC power. The characterization of the deposited thin films were changed by DC power. The experimental data are obtained on the growth rate and optical and electrical properties of VOx thin films with the increase of DC power. The growth rate. and the surface roughness decrease with DC power. Also, we investigated the electrical and optical properties of VOx thin films using hall measurement, 4-point probe, and UV-visible methods.

• Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
• /
• v.13 no.10
• /
• pp.859-864
• /
• 2000

Recently IR detecting devices using MEMS have been actively studied. Microbolometer, one of these devices, detects the change of resistivity as the change of temperature of the device by absorbing IR, IR absorbing materials for microbolometer should have high TCR value and low noise characteristics which depends on resistivity. We fabricated multi-layer VOx thin films to improve the IR detectivity of uncooled IR devices and analyzed IR absorbing characteristics. We fabricated multi-layer VOx thin films by RF reactive sputtering method on SiNx substrate and changed characteristics using the different thickness of V and V$_2$O$\_$5/ thin films. Then we annealed them under 300$\^{C}$. The TCR (Temperature Coefficient of Resistance) measurement was carried out to estimate the IR detectivity of multi-layer VOx thin films. XRD (X-Ray Diffraction) analysis was carried out to estimate the IR detectivity of multi-layer VOx thin films. ZXRD (X-Ray Diffraction) analysis was used to find out phases and structures of V and V$_2$O$\_$5/ thin films. AES (Auger Electron Spectroscopy) analysis was used to find out composition of multi-layer VOx thin films before and after annealing. We obtained the optimum thickness range of V and V$_2$O$\_$5/ thin films from the result of AES analysis. We changed the thickness of V$_2$O$\_$5/ about 20 to 150 $\AA$ and thickness of V about 10 to 20 $\AA$. As the result of this, TCR value of multi-layer VOx thin films was about -2%/k and the resistivity was ∼1Ωcm.

• Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
• /
• 2013.08a
• /
• pp.234-234
• /
• 2013

VOx 박막은 마이크로볼로미터 적외선 센서의 감지재료로 주로 사용된다. 일반적으로 VOx 박막은 RF sputtering 방법으로 증착이 되며, 이 때 저항 값은 수 kohm~수 Mohm, TCR 값은 -1.5~-2.0%/K까지 다양하게 변화되어 나타난다. 이는 산소의 phase가 여러가지로 변화되기 때문에 재현성이 떨어지는 단점이 있으며, 결정성있는 박막을 증착하기 어려운 문제들이 있다. 본 연구에서는 VOx 박막의 재현성 및 재료의 안정성을 위해 ZnO 물질을 첨가하여 sandwich 구조의 나노박막을 증착하여 산소 열처리를 통해 산소의 phase가 어떻게 변화되는가를 XRD 측정을 통해 조사하였다. ZnO 나노박막을 첨가함으로써 갓 증착되었을 때의 XRD는 V2O5 주된 상을 이루고 있었으며, 산소열처리에 의해 VO2상이 나타남을 알 수 있었다. 또한 V2O5 phase가 표면쪽의 얇은 층에서 주로 나타나고, 중간층은 V2O5와 VO2 phase 가 혼합된 형태로 존재함을 X-ray diffraction 분석을 통해 알 수 있었다. 또한 GIXRD 측정을 통해 깊이에 따른 혼합 phase가 주로 VO2에 의해 형성된 것임을 확인할 수 있었다. 또한 산소열처리의 온도 및 시간에 따라 XRD 특성을 조사하였으며, 최적의 열처리 조건을 XRD 피크를 통해 찾고자 하였다.