ARC를 위한 PECVD $SiO_xN_y$ 공정에서 $N_2O$ 처리 및 cap 산화막의 영향
(The Effect of $N_2O$ treatment and Cap Oxide in the PECVD $SiO_xN_y$ Process for Anti-reflective Coating)
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- 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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- 한국전기전자재료학회 2000년도 춘계학술대회 논문집 전자세라믹스 센서 및 박막재료 반도체재료 일렉트렛트 및 응용기술
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- pp.39-42
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- 2000