본 논문에서는 저잡음 증폭기 (Low Noise Amplifier, LNA)를 위한 프로그램 가능한 RF (고주파) BIST (Built-In Self-Test) 회로를 제안한다. 개발된 BIST 회로는 온 칩 형태로 DC 측정만을 이용하여 LNA의 RF 변수들을 측정할 수 있다. BIST 회로는 프로그램 가능한 커패시터 뱅크 (programmable capacitor banks)를 가진 test amplifier와 RF 피크 검출기로 구성되어 있다. 이러한 온 칩 회로는 각각 GSM, Bluetooth 및 IEEE802.11g의 응용을 위해 세 가지 주파수 대, 즉 1.8GHz, 2.4GHz 및 5GHz에서 사용할 수 있도록 프로그램 되어있고, LNA가 가지는 RF 사양들, 즉 입력 임피던스 및 전압이득 등을 DC 전압으로 변화시켜주는 역할을 한다.
Low-noise amplifier(LNA) is a component that amplifies the signal while lowering the noise figure of high-frequency signal. LNA holds a very important position in RF system so that it is widely used for telecommunication. Electro static discharge(ESD) is the most common cause of malfunction for low-powered components, such as Large Scale Integration and IC type LNA is weak in ESD. This thesis studies static effect of communication LNA. It analyzes ESD effect, which occurs within LNA circuit, and describes testing standard and methods. In order to find out LNA's susceptiblity to electro static, two well-recognized communication IC type LNA models were selected to be tested. Then static-induced malfunction was carefully analyzed and it suggests architectural problem and improvement from the LNA's ESD point of view.
본 연구는 안테나에 커플링되는 협대역 고출력 전자기파에 대한 저 잡음 증폭기(LNA)의 민감성 특성을 알아보았다. LNA 소자의 오동작/파괴는 MFR/DFR((Malfunction Failure Rate/Destruction Failure Rate)을 이용하여 소자의 민감성을 확인하였다. 그리고 LNA 소자의 내부 칩 상태는 Decapsulation 분석을 이용하여 손상부위를 관찰하였다. 협대역 고출력 전자기파 장치는 2.45 GHz 마그네트론을 사용하였고, LNA의 민간성 레벨은 협대역 고출력 전자기파의 전계강도에 따라 오동작/파괴율을 평가하였다. 그 결과, LNA 소자의 오동작은 셀프리셋(Self Reset)과 파워리셋(Power Reset)의 형태로 나타내었고, 이때 오동작 임계 전계강도는 각각 524 V/m, 1150 V/m로 측정되었다. 그리고 LNA의 소자의 파괴 임계 전계강도는 1530 V/m이다. 협대역 고출력 전자기파에 의한 LNA 소자의 내부 칩 파괴는 본드와이어, 온칩와이어 그리고 컴포넌트 세가지 형태로 관찰되었다. 이 결과로, 협대역 고출력 전자기파에 의한 반도체 전자회로의 내성평가 자료로 활용할 수 있을 것으로 판단된다.
A LNA(Low Nosise Amplifer) module for the Ka-band satellite transponder has been developed, which is composed of developed two MMIC chips and 50$\Omega$ line. This LNA exhibited noise figure less than 3.12dB, linear gain higher than 32dB from 30.085GHz to 30.885GHz frequency range. Temperature test from $20^{\circ}to$$60^{\circ}C$ of the LNA Module showed very small noise figure and linear gain variation of 0.2 dB and 0.4dB.
본 논문에서는 시스템 온 칩 (SoC, System-on-Chip) 트랜시버에 적용이 가능하며. 저잡음 증폭기(LNA, Low Noise Amplifier)를 위한 자동 보상 회로 (ACC, automatic compensation circuit)를 제안한다. 개발된 회로는 고주파 내부 자체 검사 (BIST, Built-In Self-Test) 회로, 커패시터 미러 뱅크 (CMB, Capacitor Mirror Banks)와 디지털 처리장치로 구성되어 있다. 자동 보상 회로는 LNA가 정상 동작을 하지 않을 때 SoC 트랜시버의 구성요소인 디지털 프로세서를 이용하여 LNA가 정상 동작을 하도록 자동적으로 조정하는 역할을 한다.
본 논문에서는 저잡음 증폭기 (LNA)를 위한 새로운 구조의 프로그램 가능한 고주파 검사용 설계회로 (RF DFT)를 제안한다. 개발된 RF DFT 회로는 DC 측정만을 이용하여 LNA의 RF 변수를 측정할 수 있으며, 최근의 RFIC 소자에 매우 유용하다. DFT 회로는 프로그램 가능한 커패시터 뱅크 (programmable capacitor banks)와 RF 피크 검출기를 가진 test amplifier를 포함하며, 측정된 출력 DC 전압을 이용하여 입력 임피던스와 전압이득과 같은 LNA 사양을 계산할 수 있다. 이러한 온 칩 DFT 회로는 GSM, Bluetooth 및 IEEE802g 표준에 이용할 수 있는 3가지 주파수 대역, 즉 1.8GHz, 2.4GHz, 5.25GHz용 LNA에서 사용할 수 있도록 자체적으로 프로그램 할 수 있다. 이 회로는 간단하면서도 저렴하다
본 논문에서는 5GHz 저잡음 증폭기(LNA)의 성능 측정을 위한 새로운 형태의 저가 BIST(Built-In Self-Test) 회로를 제안한다 이러한 BIST 회로는 system-on-chip (SoC) 송수신 환경에 적용될 수 있도록 설계되어 있다. 본 논문에서 제안하는 BIST 회로는 입력 임피던스, 전압이득, 잡음지수, 입력반사손실(input return loss) 및 출력 신호 대 잡음전력비(signal-to-noise ratio)와 같은 저잡음 증폭기의 주요 성능 지수를 측정 할 수 있으며, 단일 칩 위에 제작되어 있다.
This study was undertaken to investigate the influence of age and dietary linolenic acid content and the linolenic acid/linoleic acid (LAN/LA) ratio on the brain lipid composition and membrane-bound enzyme, acetylcholinesterase(AchE) activities. AchE was selected as a test case for the relationship between cell lipid composition and cell membrane function. The male rats were fed diets with 0.2, 0.4, 0.6 of LNA/LA ratio within 8% LNA(H-LNA) or 4% LNA(L-LAN) of total fatty acid content for different feeding period(1, 4, 12 month). The fats used s source were sesame oil, perilla oil, soybean oil and beef tallow. The AchE activity of brain crude synaptosomal fraction was reduced with advancing age, showing 20-30% reduction in 12M compared with 1 M, and the P/C ratio was reduced in old rats. In 1 and 4 monthed rats, AchE activites was higher in H-LAN-0.2 and L-LNA-0.2 and 0.4 group. In accordance with rising of AchE activities was higher in H-LNA-0.2 and L-LNA-0.2 and 0.4 group. In accordance with rising of AchE activities, the PC/PE ratio increasedin those groups. Paricularly in L-LNA, the PC/PE ratio increased as the AchE activites for decline of membrane fluidity with increasing cholesterol and decreasing P/C ratio when rats were old. Also, AchE activity increaed with increasing PC/PE ratio which depended on the dietary LNA/LA ratio within each LNA content. Therefore, it is concluded that the lipid composition of cell membrane influenced the AchE activiteis, which was mediated by aging and the modification of dietary LNA/LA ratio.
본 논문에서는 RF 송수신 시스템 칩 내부의 저잡음증폭기(LNA)와 전체 송수신기 시스템 테스트에 효과적인 새로운 루프백(Loopback) BIST 구조를 제안한다. 제안하는 테스트기법은 외부 테스트장비(Automatic Test Equipment)를 사용하는 기존의 테스트기법과 달리 테스트 모드에서 칩에 내장된 베이스밴드 프로세서를 테스터로 사용하므로써 테스트인가와 테스트평가등을 효율적으로 수행할 수 있는 장점을 갖는다. 높은 주파수의 테스트 출력신호는 낮은 주파수로 변환하여 베이스밴드 프로세서에서 평가하게 됨으로써 테스트용이도가 향상될 수 있다. 제안하는 테스트기법은 ATE와 같은 외부테스트장비의 필요를 최소화하고 테스트 시간과 비용을 줄여 결과적으로 칩 제조비용의 절감을 가능하게 해준다.
본 논문은 시험발사체에 탑재된 송신기에서 송신되는 S 대역 신호에 의해 위성항법수신기에서 나타난 RF 신호간섭을 설명하고, 그 원인을 분석한다. 능동형 위성항법안테나의 LNA는 항법위성 신호와 비교하여 상대적으로 신호세기가 매우 높은 S 대역 신호에 의해 포화되었으며, 2개의 S 대역 신호가 위성항법안테나에 수신될 때마다 GNSS 대역에 해당하는 상호변조신호가 LNA에서 발생하였다. 이러한 현상으로 인해 위성항법수신기에서 계산된 항법위성신호의 C/N0가 크게 감쇄하였다. S 대역 신호에 의한 RF 신호간섭을 차단하기 위하여 위성항법안테나 LNA의 설계변경을 수행하였고, 설계변경 전 후의 LNA에 대해 수행한 비교시험을 통하여 설계변경된 LNA에서 S 대역 신호에 의한 RF 신호감쇄 현상이 억제될 수 있음을 확인하였다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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