• 제목/요약/키워드: System on chip(SoC)

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하드웨어 및 소프트웨어 모듈간의 동적 협업을 지원하는 SoC 플랫폼 설계에 관한 연구 (A Study on SoC Platform Design Supporting Dynamic Cooperation between Hardware and Software Modules)

  • 이동건;김영만;탁성우
    • 한국멀티미디어학회논문지
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    • 제10권11호
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    • pp.1446-1459
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    • 2007
  • 본 논문에서는 소형 임베디드 시스템의 처리 성능 향상을 위하여 하드웨어 및 소프트웨어 모듈간의 동적 협업 SoC 플랫폼을 제안하고 성능을 분석하였다. 기존의 소형 임베디드 시스템은 낮은 사양의 하드웨어 자원을 가지고 있어 복잡한 처리 과정을 포함하고 있는 멀티태스킹 환경에 적용하기가 어렵다. 이에 본 논문에서 제안한 하드웨어 및 소프트웨어 모듈간의 동적 협업 플랫폼은 시스템의 기능을 태스크 단위로 모듈화하여 조립형 형태의 세분화된 소프트웨어 및 하드웨어 모듈로 설계 및 구현이 가능하다. 또한 동적 협업이 요구되는 하드웨어 및 소프트웨어 모듈 간의 통신 및 동기화 기법도 제안하였다. 제안한 하드웨어 및 소프트웨어 모듈간의 동적 협업을 지원하는 SoC 플랫폼의 성능을 분석한 결과, 메모리 접근과 계산 복잡도가 높을수록 소프트웨어 태스크로만 구성된 플랫폼보다 우수한 성능을 보여주었다.

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정진폭 다중 부호 이진 직교 변복조기의 FPGA 설계 및 SoC 구현 (FPGA Design and SoC Implementation of Constant-Amplitude Multicode Bi-Orthogonal Modulation)

  • 홍대기;김용성;김선희;조진웅;강성진
    • 한국통신학회논문지
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    • 제32권11C호
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    • pp.1102-1110
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    • 2007
  • 본 논문에서는 기존의 정진폭 다중 부호 이진 직교 (CAMB: Constant-Amplitude Multi-code Biorthogonal) 변조 이론을 적용한 변복조기를 프로그래밍 가능한 게이트 배열 (FPGA: Field-Programmable Gate Array)을 사용하여 설계하고 시스템 온 칩 (SoC: System on Chip)으로 구현하였다. 이 변복조기는 FPGA을 이용하여 타겟팅 한 후 보드실험을 통해 설계에 대한 충분한 검증을 거쳐 주문형 반도체 (ASIC: Application Specific Integrated Circuit) 칩으로 제작되었다. 이러한 12Mbps급 모뎀의 SoC를 위하여 ARM (Advanced RISC Machine)7TDMI를 사용하였으며 64K바이트 정적 램 (SRAM: Static Random Access Memory)을 내장하였다. 16-비트 PCMCIA (Personal Computer Memory Card International Association), USB (Universal Serial Bus) 1.1, 16C550 Compatible UART (Universal Asynchronous Receiver/Transmitter) 등 다양한 통신 인터페이스를 지원할 뿐 아니라 ADC (Analog to Digital Converter)/DAC (Digital to Analog Converter)를 포함하고 있어 실제 현장에서 쉽게 활용될 수 있을 것으로 기대된다.

Full HD TV를 위한 효율적인 VDP SoC 구조 (Effective SoC Architecture of a VDP for full HD TVs)

  • 김지훈;김영철
    • 스마트미디어저널
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    • 제1권1호
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    • pp.1-9
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    • 2012
  • 본 논문에서는 Full HD TV를 위한 화질 개선 VDP( Video Display Processor)의 SoC( System on a Chip) 구현을 위한 효율적인 하드웨어 구조를 제안한다. 제안한 구조는 SoC 설계의 한 방법으로써 효율적인 버스 구조와 유연성 있는 인터페이스를 지원하여 실시간 비디오 처리를 가능하게 한다. VDP를 구성 하고 있는 비디오 IP 들은 고화질 영상 제공 및 화질 개선을 위한 목적으로 설계 되었고, 각각의 IP는 실시간성 보장 및 SoC의 하드웨어 통합을 위해서 Avalon 인터페이스가 사용되었다. 이는 설계시간을 단축하고, IP 검증과 특히 SoC를 구성하는데 있어서 IP 추가 삭제 및 변경 등이 용이함으로써 사용자의 편리성을 높여준다. 또한 SoC의 임베디드 소프트웨어는 실시간으로 비디오 세부 항목 설정 및 데이터 전송 방식 설정 등을 제어할 수 있음으로써 유연성 있는 실시간 처리 시스템을 구현할 수 있다. VDP의 SoC 구현은 CyclonIII SoPC(System on a Programmable Chip) 플랫폼 상에서 구현되었으며, 실험 결과 SD 해상도의 입력 영상을 Full HD 해상도로 변환시킴으로써 고화질 영상을 획득 할 수 있다.

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다중 채널과 동시 라우팅 기능을 갖는 고성능 SoC 온 칩 버스 구조 (High Performance SoC On-chip-bus Architecture with Multiple Channels and Simultaneous Routing)

  • 이상헌;이찬호
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제44권4호
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    • pp.24-31
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    • 2007
  • 현재까지 다수의 버스 프로토콜과 구조가 발표되었지만, 대부분 공유 버스 구조를 가져 시스템 성능 저하의 원인이 되었다. 기존의 공유버스가 갖는 문제점들을 해결하기 위해 고성능의 버스 프로토콜인 SNP (SoC Network Protocol)와 버스 구조인 SNA (SoC Network Architecture)가 제안되었는데, 이를 수정/개선한 버스 구조를 제안하고자 한다. 개선된 SNA는 다중 마스터의 다중 버스 요청에 대해 다중 라우팅을 지원함으로써 성능을 향상시켰으며, 내부 라우팅 로직의 최적화로 면적을 감소시켰다. 또한 성능감소 없이 AMBA AHB 프로토콜과 완벽히 호환 가능한 XSNP(Extended SNP)를 인터페이스 프로토콜로 사용한다. 현재 라우팅 로직을 최적화하여 개선된 SNA의 하드웨어 복잡도가 크게 증가하지 않았고, 기존 SNP를 사용하는 IP는 호환성 문제나 성능 감소 없이 개선된 SNA를 통해 통신할 수 있다. 더불어, SNA는 AMBA AHB와 인터커넥트 버스 매트릭스를 대체할 수 있으며, 다중 채널을 동시에 보장하고 다양한 토플로지를 지원가능 하도록 설계되어 사용하는 IP 수에 따라 설계자에 의해 다양한 토플로지를 선택할 수 있다. 한편, SNA는 적은 수의 인터페이스 와이어를 가지기 때문에 오프 칩 버스로도 사용될 수 있다. 제안된 버스 구조는 시뮬레이션과 어플리케이션 동작을 통해 검증이 완료되었다.

저비용 SoC 테스트를 위한 IEEE 1500 래퍼 및 테스트 제어 (IEEE 1500 Wrapper and Test Control for Low-Cost SoC Test)

  • 이현빈;김진규;정태진;박성주
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제44권11호
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    • pp.65-73
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    • 2007
  • 본 논문에서는 저비용 SoC 테스트를 위한 테스트 설계 기술에 대해서 다룬다. IEEE 1500 랩드 코어를 SoC TAP (Test Access Port) 을 통하여 스캔 테스트를 수행하는 방법을 제시하고, 지연고장 테스트를 위한 테스트 클럭 생성회로를 설계한다. TAP의 신호만을 이용하여 SoC 테스트를 수행함으로써 테스트 핀 수를 줄일 수 있고, SoC 내부의 회로를 사용하여 지연고장 테스트를 수행함으로써 저가의 테스트 장비를 사용할 수 있다. 실험을 통하여 제시한 방식의 효율성을 평가하고, 서로 다른 주파수의 클럭을 사용하는 여러 코어의 지연고장 테스트를 동시에 수행 할 수 있음을 확인한다.

확장 나무성장 그래프를 이용한 시스템 온 칩의 테스트 스케줄링 알고리듬 (Test Scheduling Algorithm of System-on-a-Chip Using Extended Tree Growing Graph)

  • 박진성;이재민
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제41권3호
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    • pp.93-100
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    • 2004
  • 시스템 온 칩의 테스트 스케줄링은 제한된 전력 사용량 내에서 테스트 시간을 최소화하기 위한 방법들 가운데 하나로서 매우 중요하다. 본 논문에서는 테스트 자원들을 선택하여 그룹화하고 코어 기반 시스템 온 칩 전체 전력소비량을 고려하면서 테스트 시간과 전력소모량의 곱의 크기에 기초하여 이들을 배열하여 스케줄링 하는 휴리스틱 알고리듬을 제안한다. 전력소모량은 최대이면서 제한된 전력 소모량을 초과하지 않는 테스트 자원 그룹을 먼저 선택하고 테스트 자원 그룹 내 요소들의 테스트 시작 위치를 테스트 공간의 초기 위치에 배치하여 테스트 자원들의 낭비시간을 최소화한다. ITC02 벤치마크 회로를 사용한 실험을 통해 알고리듬의 유효성을 보인다.

SoC 테스트를 위한 테스트 데이터 압축 (Test Data Compression for SoC Testing)

  • 김윤홍
    • 한국산학기술학회논문지
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    • 제5권6호
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    • pp.515-520
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    • 2004
  • 코아(core) 기반의 SoC(System-on-Chip) 설계는 테스트에 관련된 많은 어려운 문제를 일으키고 있다. 그 중에서 방대한 분량의 테스트 데이터와 긴 테스트 패턴 인가시간은 SoC 테스트에서의 2가지 주요 문제로 떠오르고 있다. 많은 양의 테스트 데이터에 대한 저장공간과 인가시간을 줄이기 위한 방안으로서 테스트 벡터들의 반복되는 성질을 이용하여 최대한 효율적으로 압축하는 다양한 방법들이 제시되었다. 본 논문에서는 SoC 테스트를 위한 효율적인 테스트 데이터 압축 방법을 제안한다. 제안된 방법은 테스트 벡터 집합을 분할하고 최대한 반복되는 공통부분을 제거함으로써 테스트 데이터를 압축한다. 이 압축방법은 O(n2)의 시간복잡도를 가지며, 간단한 디코딩 하드웨어를 사용한다. 여기서 n은 테스트 벡터 수이다. 제안된 압축방법은 빠르고 쉬운 디코딩을 함께 사용하여 기존의 복잡한 소프트웨어 방식의 압축방법에 견줄만한 수준의 효율성을 보여준다.

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직각좌표로봇 및 영상캡쳐를 위한 SoC IP 설계구현 (SoC IP design for Perpendicular Coordinate Robot & Image Capture)

  • 박종성;문철홍
    • 대한전자공학회:학술대회논문집
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    • 대한전자공학회 2004년도 하계종합학술대회 논문집(2)
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    • pp.403-406
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    • 2004
  • This paper describes an IP design and implementation of a complicated hardware to System on a Chip(SoC) to simplify the complicated system. As using SoC, hardware and software can be designed and verified both. This paper describes an image capturing IP and a perpendcular coordinate robot IP that can move on x, y coordinates. 240$\ast$320 TFT-LCD is used to display images.

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SOC(System-On-a-Chip)에 있어서 효율적인 테스트 데이터 압축 및 저전력 스캔 테스트 (Efficient Test Data Compression and Low Power Scan Testing for System-On-a-Chip(SOC))

  • 박병수;정준모
    • 한국콘텐츠학회논문지
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    • 제5권1호
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    • pp.229-236
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    • 2005
  • System-On-a-Chip(SOC)을 테스트하는 동안에 요구되는 테스트 시간과 전력소모는 SOC내의 IP 코어의 개수가 증가함에 따라서 매우 중요하게 되었다. 본 논문에서는 수정된 스캔 래치 재배열을 사용하여 scan-in 전력소모와 테스트 데이터의 양을 줄일 수 있는 새로운 알고리즘을 제안한다. 스캔 벡터 내의 해밍거리를 최소화하도록 스캔 래치 재배열을 적용하였으며 스캔 래치 재배열을 하는 동안에 스캔 벡터 내에 존재하는 don't care 입력을 할당하여 저전력 및 테스트 데이터 압축을 하였으며 ISCAS 89 벤치마크 외호에 적용하여 모든 경우에 있어서 테스트 데이터를 압축하고 저전력 스캔 테스팅을 구현하였다.

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IEEE 1500 래퍼를 이용한 효과적인 AMBA 기반 시스템-온-칩 코아 테스트 (Efficient AMBA Based System-on-a-chip Core Test With IEEE 1500 Wrapper)

  • 이현빈;한주희;김병진;박성주
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제45권2호
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    • pp.61-68
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    • 2008
  • 본 논문에서는 Advanced Microcontroller Bus Architecture(AMBA) 기반 System-on-Chip(SoC) 테스트를 위한 임베디드 코어 테스트 래퍼를 제시한다. IEEE 1500 과의 호환성을 유지하면서 ARM의 Test Interface Controller(TIC)로도 테스트가 가능한 테스트 래퍼를 설계한다. IEEE 1500 래퍼의 입출력 경계 레지스터를 테스트 패턴 입력과 테스트 결과 출력을 저장하는 임시 레지스터로 활용하고 변형된 테스트 절차를 적용함으로써 Scan In과 Scan Out 뿐만 아니라 PI 인가와 PO 관측도 병행하도록 하여 테스트 시간을 단축시킨다.