• 대한전자공학회논문지SD
• /
• 제43권1호
• /
• pp.71-78
• /
• 2006

NoC 테스트는 온칩네트워크를 TAM으로 재사용하기 때문에 SoC 구조 기반의 여러 테스트 기법을 그대로 사용할 수가 없다. 본 논문에서는 네트워크 기반 TAM의 문제점을 크게 감소시킨 새로운 형태의 NoC 테스트 플랫폼을 소개하며 이를 이용한 NoC 테스트 스케줄링 알고리즘을 제안한다. 제안한 알고리즘은 SoC 테스트 용도로 개발된 rectangle packing 방식을 기반으로 효율적이고 체계적인 테스트 스케줄링이 가능하게 한다. ITC'02 벤치회로를 이용한 실험 결과 제안한 방법이 기존 방법에 비해 최대 $55\%$까지 테스트 시간을 줄일 수 있음을 확인하였다.

• 대한전자공학회논문지SD
• /
• 제43권7호
• /
• pp.38-49
• /
• 2006

본 논문에서는 SoC를 검증 및 테스트하기 위한 새로운 개념의 칩을 제안하고 이를 SwToC(System with Test on a Chip)라 명명한다. SwToC는 SoC의 임베디드 프로세서에 재구성 가능한 로직을 추가하여 칩의 물리적인 결함을 테스트할 수 있을 뿐만 아니라 기존의 기법으로는 수행이 어려웠던 테스트 단계에서의 디자인 검증이 가능하도록 한 칩을 말한다. 제안한 개념의 칩은 고속 검증이 가능하며 테스트를 위해 많은 비용이 소모되는 ATE 가 불필요한 장점을 갖고 있다. 제안한 칩의 디자인 검증 및 테스트 기능을 평가하기 위하여 임베디드 프로세서가 내장된 상용 FPGA를 이용하여 SwToC를 구현하였으며, 구현 결과 제안한 칩의 실현 가능성을 확인하였고 적은 비용의 단말기를 통한 테스트가 가능함은 물론 기존의 검증기법에 비해 고속 검증이 가능함을 확인하였다.

• 대한전자공학회논문지SD
• /
• 제45권2호
• /
• pp.93-100
• /
• 2008

본 논문에서는 NoC 기반 SoC의 테스트 시간을 감소시키기 위하여 NoC를 TAM으로 재활용하는 구조를 바탕으로 하는 새로운 형태의 스케줄링 알고리즘을 제안한다. 제안한 방식에서는 기존 연구된 NoC 테스트 플랫폼을 사용하여 스케줄링 문제를 rectangle packing 문제로 변환하고 이를 simulated annealing(SA) 기법을 적용하여 향상된 스케줄링 결과를 유도한다. ITC'02 벤치회로를 이용한 실험 결과 제안한 방법이 기존 방법에 비해 최대 2.8%까지 테스트 시간을 줄일 수 있음을 확인하였다.

• ETRI Journal
• /
• 제30권1호
• /
• pp.129-140
• /
• 2008

In this paper, we propose a novel ant colony optimization (ACO)-based test scheduling method for testing network-on-chip (NoC)-based systems-on-chip (SoCs), on the assumption that the test platform, including specific methods and configurations such as test packet routing, generation, and absorption, is installed. The ACO metaheuristic model, inspired by the ant's foraging behavior, can autonomously find better results by exploring more solution space. The proposed method efficiently combines the rectangle packing method with ACO and improves the scheduling results by dynamically choosing the test-access-mechanism widths for cores and changing the testing orders. The power dissipation and variable test clock mode are also considered. Experimental results using ITC'02 benchmark circuits show that the proposed algorithm can efficiently reduce overall test time. Moreover, the computation time of the algorithm is less than a few seconds in most cases.

• 대한전기학회:학술대회논문집
• /
• 대한전기학회 2003년도 하계학술대회 논문집 D
• /
• pp.2313-2315
• /
• 2003

This paper presents the development methods which Samsung GPS baseband chip is called S3E4510X. Specification of S3E4510X and design methodology of baseband architecture is presented with a study of their effects. Also GPS core block and software are described in detail. We designed and implemented the test board with RF module for evaluating performance via static test dynamic test and each performance factors using live signal and CPS simulator. Test results show that our development GPS baseband chip have effectively performance for mobile handset Location Based Service (LBS) and its practical use for navigation.

• 대한전자공학회논문지SD
• /
• 제41권9호
• /
• pp.85-95
• /
• 2004

최근 반도체 칩의 집적도가 올라가고 System-on-Chip(Soc)환경이 보편화되면서 Automatic Test Equipment(ATE)를 이용한 테스트 수행시 테스트 패턴의 크기 문제와 스캔체인에서의 전력 소모문제가 크게 부각되고 있다. 또한, 테스트 패턴 크기문제를 해결하기 위해 테스트 패턴을 압축하게 되면 테스트 패턴의 소모하는 전력량이 커지게 되어 저전력 테스트를 수행하는데 어려움이 있어 두 가지 문제를 해결할 수 없었다 본 논문에서는 이러한 문제점들을 동시에 해결하기 위해서 Run-length code를 기반으로 하여 저전력 테스트가 가능하면서 테스트 패턴의 크기도 줄일 수 있는 알고리즘을 제안하였다. 본 논문에서는 기존에 제시되었던 알고리즘과 비교ㆍ분석하는 실험을 통하여 이 알고리즘의 효율성을 보여주고 있다.

• JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
• /
• 제15권1호
• /
• pp.85-95
• /
• 2015

Network-on-chip (NoC) has evolved to overcome the issues of traditional bus-based on-chip interconnect. In NoC-reuse as TAM, the test schedulers are constrained with the topological position of cores and test access points, which may negatively affect the test time. This paper presents a scalable hybrid test data transportation scheme that allows to simultaneously test multiple heterogeneous cores of NoC-based SoCs, while reusing NoC as TAM. In the proposed test scheme, single test stimuli set of multiple CUTs is embedded into each flit of the test stimuli packets and those packets are multicast to the targeted CUTs. However, the test response packets of each CUT are unicast towards the tester. To reduce network load, a flit is filled with maximum possible test response sets before unicasting towards the tester. With the aid of Verilog and analytical simulations, the proposed scheme is proved effective and the results are compared with some recent techniques.

• JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
• /
• 제14권3호
• /
• pp.345-355
• /
• 2014

Today's System-on-a-Chip (SoC) is designed with reusable IP cores to meet short time-to-market requirements. However, the increasing cost of testing becomes a big burden in manufacturing a highly integrated SoC. In this paper, an efficient parallel scan test technique is introduced to minimize the test application time. Multiple scan enable signals are adopted to implement scan architecture to achieve optimal test application time for the test patterns scheduled for concurrent scan test. Experimental results show that testing times are considerably reduced with little area overhead.

• 대한전자공학회논문지SD
• /
• 제41권8호
• /
• pp.9-16
• /
• 2004

여러 개의 IP 코아로 구성된 SoC(System-on-a-Chip)를 위해, 테스트 래퍼와 스캔 체인의 다양한 연결구성이 가능한 테스트 기술이 제안되고 있다. 본 논문에서는, 테스트 래퍼와 스캔 체인을 효과적으로 재구성하며 테스트 할 수 있는 새로운 SoC 테스트 접근 기법을 소개한다. IEEE 1149.1 및 P1500 기반의 테스트 래퍼를 위해 테스트 래퍼 제어기인 WCLM(Wrapped Core Linking Module)과, WCLM과 맞물려 코아 내부의 스캔 체인에 효과적으로 접근 가능한 TAM(Test Access Mechnism) 구조를 제안한다.

• 방송공학회논문지
• /
• 제21권5호
• /
• pp.792-802
• /
• 2016

최근 사용이 늘어나고 있는 멀티밴드 사운드바 설계 시, 설계검증은 시뮬레이션으로 확인이 되지 않거나 되기 힘든 검증요소들이 다수 존재한다. 따라서 본 논문에서는 프로세서 내장 사운드바 SoC를 위한 FPGA 검증시스템을 구현하였다. 이를 통해 설계단계의 시뮬레이션으로 검증할 수 없는 실시간 성능테스트와 청취테스트를 실시간 검증하였다. 즉, 구현된 FPGA 검증시스템을 이용해서 SNR, THD+N, 주파수응답과 같은 정량적 항목들의 측정 및 청취테스트를 시행하였고, 테스트 결과가 설계목표를 만족함을 확인하였다.