• Title/Summary/Keyword: Sn/3.0Ag/0.5Cu

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Studies on the Enzymatical Properties of Streptomyces sp. S-45 Isolated from Soil (토양(土壤)에서 분리(分離)한 Streptomyces sp. s-45의 효소학적(酵素學的) 성질(性質)에 관한 연구(硏究))

  • Kim, Yeong-Yil;Kim, Yong-Woong;Kim, Kwang-Sik
    • Korean Journal of Soil Science and Fertilizer
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    • v.21 no.2
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    • pp.129-134
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    • 1988
  • Enzymatical properties of Streptomyces sp. S-45 producing chitinase and ${\beta}$-1.3-glucanase isolated from soil were investigated. Chitinase activity was 3.01(U/ml) and ${\beta}$-1.3-glucanase activity was 2.49(U/ml). The optimum medium for mycolytic enzyme production of strain was composed of 0.7% colloidal chitin, 0.3% glucose, 0.5% asparagine, 0.2% peptone, 0.01% NaCl, 0.01% $K_2HPO_4$ and 0.01% $MgSO_4{\cdot}7H_2O$ in intial pH 7.0. The optimal condition for mycolytic enzyme activities were: pH 6.5-7.0, $45-50^{\circ}C$. Enzyme activities were activated by metal ion as $10^{-2}M\;Co^{{+}{+}}$, $Cu^{{+}{+}}$, $Mn^{{+}{+}}$, $Al^{{+}{+}{+}}$ and $10^{-3}M\;Sn^{{+}{+}}$ but $Ag^{{+}{+}}$, $Hg^{{+}{+}}$ inhibited.

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Reliability assessment of RPCB and FPCB Joints bonded using Thermo-compression (열 압착으로 접합된 RPCB와 FPCB 접합부의 신뢰성 평가)

  • Jang, Jin-Kyu;Lee, Jong-Gun;Lee, Jong-Bum;Ha, Sang-Su;Jung, Seung-Boo
    • Proceedings of the KWS Conference
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    • 2009.11a
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    • pp.81-81
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    • 2009
  • 최근 휴대폰, 노트북 등과 같은 소형 멀티미디어 기기의 사용이 증가함에 따라 전자 패키징 산업은 경박단소화를 요구하고 있습니다. 더불어 전기적 신호의 손실을 줄이기 위해 전기, 전자산업체에서는 가볍고 굴곡성이 우수한 연성인쇄회로기판(Flexible Printed Circuit Board, FPCB)과 가격이 싸고 신뢰성이 입증된 경성인쇄회로기판(Rigid Printed Circuit Board, RPCB)의 전극간 접합에 많은 관심을 보이고 있습니다. 기존에 연성인쇄회로기판과 경성인쇄회로기판을 접합하는 방식으로는 connector를 이용한 체결법이 사용되고 있지만 완성품의 부피가 커지고 자동화 공정이 힘들며 I/O 개수가 제한적이어서 신호전달에 취약한 단점이 있습니다. 또한, 최근 FPCB를 RPCB에 접합하는데 interconnection으로 이방성 도전 필름(Anisotropic conductive film, ACF) 또는 비전도성 필름(Non-conductive film)이 널리 사용되고 있습니다. 하지만 필름의 가격이 비싸고, 낮은 전기 전도도를 보이며, 신뢰성 특성이 낮다는 단점을 가지고 있습니다. 본 실험에서는 기존의 connector 방식과 접착 필름을 이용한 방식을 대체하기 위하여 솔더를 interlayer로 이용하여 열과 압력으로 접합하는 방법에 대하여 연구하였습니다. 실험에 사용된 솔더의 조성은 Sn-3.0Ag-0.5Cu (in wt%)이고, RPCB와 FPCB의 표면처리는 ENIG로 하였습니다. 접합 온도와 접합 시간에 따라 최적의 접합 조건을 도출하고자 하였고, 접합된 시편을 가지고 신뢰성 테스트를 진행하였습니다. $85^{\circ}C$/85% 고온고습 시험과 고온 방치 시험을 통하여 접합부의 신뢰성을 테스트 하였고, 90도 Peel test로 기계적 접합 강도를 측정하였고, 파괴 단면을 Scanning Electron Microscopy (SEM), Energy-dispersive spectroscopy (EDS), X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)로 분석하였습니다.

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A Study on the Electrochemical Deposition and p-Type Doping of ZnTe Films as a Back Contact Material for CdTe Photovoltaic Solar Cells (CdTe계 태양전지에 응용되는 ZnTe 박막의 전기화학적 제조 및 Cu 도핑 연구)

  • Kim, Dong-Hwan;Jeon, Yong-Seok;Kim, Gang-Jin
    • Korean Journal of Materials Research
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    • v.7 no.10
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    • pp.856-862
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    • 1997
  • 박막형 CdTe/CdS 태양전지의 배면전극(back contacts)물질로서 Cu도핑된 ZnTe 박막(ZnTe:Cu)을 전착법(electroplating)으로 제조하는 연구를 수행하였다. Sulfate계의 전해질 수용액에서 CdTe 기판과 투명전극으로 코팅된 유리(In$_{2}$O$_{3}$: Sn, ITO)기판 위에 ZnTe 박막을 코팅하는 방법으로써 potentiostat와 기판(cathode), Pt counter electrode, Ag/AgCI 표준전극으로 구성된 장치를 사용하여 pH=2.5-4, T=70-8$0^{\circ}C$, 0.02M $Zn^{2+}$ 1x$10^{-4}$M TeO$_{2}$, 0.2M $K_{2}$SO$_{4}$조건에서 -0.800 Vs~-0.975 V 범위의 전압(V$_{a}$ )에 걸쳐 실험하였다. ITO박막을 기판으로 사용하여 cyclic voltammogram을 작성한 결과 약 -0.50 V 에서 Te환원 peak이 나타났다. Auger electron spectroscopy (AES)로 조성분석한 결과 표면에서 Zn signal이 강하게 나왔고 시편의 두께에 따라 Zn의 signal감소하는 반면 Cd signal은 증가하는 것이 확인되었다. SEM 사진으로부터 ZnTe의 표면이 작은 입자 (0.2$\mu\textrm{m}$ 이하)로 구성되어 있으며 낮은 V$_{a}$ 에서는 입자가 작아지면서 조직이 치밀해짐이 관찰되었다. Optical transmission방법에 의하여 ITO기판위에 입혀진 박막의 밴드갭은 2.5 eV으로 측정되었다. 수용액중의 Cu$_{2+}$와 triethanolamine(TEA)은 산성용액에서 착물형성이 이루어지지 않았으며 1,10-phenanthroline과는 pH=2에서도 착물이 형성되었다.

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Effects of Flux Activator on Wettability and Slump of Sn-Ag-Cu Solder Paste (플럭스 활성제 종류에 따른 Sn-Ag-Cu 솔더 페이스트의 젖음성 및 슬럼프 특성 평가)

  • Kwon, Soonyong;Seo, Wonil;Ko, Yong-Ho;Lee, Hoo-Jeong;Yoo, Sehoon
    • Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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    • v.25 no.4
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    • pp.123-128
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    • 2018
  • Effect of activators in flux on the printability and wettability of a solder paste was evaluated in this study. The activators in this study were dicarboxylic acids, which were oxalic acid (n = 0), malonic acid (n = 1), succinic acid (n = 2), glutaric acid (n = 3), adipic acid (n = 4), and pimelic acid (n = 5). When the solder pastes were observed with a SMT scope, solder with glutaric acid showed clean and shiny surface when it was melted. Slump ratio of the solder pastes was low when the carbon numbers of the dicarboxylic acid were 1-3. Spreadability was high when the carbon number was over 2. Zero cross time of wetting balance test was under 1 sec when the carbon number was over 3. When activator was oxalic acid or malonic acid, zero cross time was over 1 sec and maximum wetting force was low. Fluxes with the oxalic acid and malonic acid showed decomposition at the temperature close to melting point. Among the dicarboxylic acids, glutaric acid provided excellent slump, spreadability, and wettability.

Effects of the Electroless Ni-P Thickness and Assembly Process on Solder Ball Joint Reliability (무전해 Ni-P 두께와 Assembly Process가 Solder Ball Joint의 신뢰성에 미치는 영향)

  • Lee, Ji-Hye;Huh, Seok-Hwan;Jung, Gi-Ho;Ham, Suk-Jin
    • Journal of Welding and Joining
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    • v.32 no.3
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    • pp.60-67
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    • 2014
  • The ability of electronic packages and assemblies to resist solder joint failure is becoming a growing concern. This paper reports on a study of high speed shear energy of Sn-4.0wt%Ag-0.5wt%Cu (SAC405) solder with different electroless Ni-P thickness, with $HNO_3$ vapor's status, and with various pre-conditions. A high speed shear testing of solder joints was conducted to find a relationship between the thickness of Ni-P deposit and the brittle fracture in electroless Ni-P deposit/SAC405 solder interconnection. A focused ion beam (FIB) was used to polish the cross sections to reveal details of the microstructure of the fractured pad surface with and without $HNO_3$ vapor treatment. A scanning electron microscopy (SEM) and an energy dispersive x-ray analysis (EDS) confirmed that there were three intermetallic compound (IMC) layers at the SAC405 solder joint interface: $(Ni,Cu)_3Sn_4$ layer, $(Ni,Cu)_2SnP$ layer, and $(Ni,Sn)_3P$ layer. The high speed shear energy of SAC405 solder joint with $3{\mu}m$ Ni-P deposit was found to be lower in pre-condition level#2, compared to that of $6{\mu}m$ Ni-P deposit. Results of focused ion beam and energy dispersive x-ray analysis of the fractured pad surfaces support the suggestion that the brittle fracture of $3{\mu}m$ Ni-P deposit is the result of Ni corrosion in the pre-condition level#2 and the $HNO_3$ vapor treatment.

Degradation Behavior of Eutectic and Pb-free Solder Plated Ribbon in Crystalline Silicon Photovoltaic Module (유무연 용융도금 리본에 따른 결정질 실리콘 태양전지 모듈 열화거동)

  • Kim, Ju-Hee;Kim, A Yong;Park, Nochang;Ha, Jeong Won;Lee, Sang Guon;Hong, Won Sik
    • Journal of Welding and Joining
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    • v.32 no.6
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    • pp.75-81
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    • 2014
  • Usage of heavy metal element (Pb, Hg and Cd etc.) in electronic devices have been restricted due to the environmental banning of the European Union, such as WEEE and RoHS. Therefore, it is needed to develop the Pb-free solder plated ribbon in photovoltaic (PV) module. This study described that degradation characteristics of PV module under damp heat (DH, $85^{\circ}C$ and 85% R.H.) condition test for 1,000 h. Solar cell ribbons were utilized to hot dipping plate with Pb-free solder alloys. Two types of Pb-free solder plated ribbons, Sn-3.0Ag-0.5Cu (SAC305) and Sn-48Bi-2Ag, and an electroless Sn-40Pb solder hot dipping plated ribbon as a reference sample were prepared to evaluate degradation characteristics. To detect the degradation of PV module with the eutectic and Pb-free solder plated ribbons, I-V curve, electro-luminescence (EL) and cross-sectional SEM analysis were carried out. DH test results show that the reason of maximum power (Pm) drop was mainly due to the decrease fill factor (FF). It was attributed to the crack or oxidation of interface between the cell and the ribbon. Among PV modules with the eutectic and Pb-free solder plated ribbon, the PV module with SAC305 ribbon relatively showed higher stability after DH test than the case of PV module with Sn-40Pb and Sn-48Bi-2Ag solder plated ribbons.

Influence of complex environment test on lead-free solder joint reliability (온도변화에 따른 진동의 무연솔더 접합부 신뢰성에 미치는 영향)

  • Sa, Yoon-Ki;Yoo, Se-Hoon;Kim, Yeong-K.;Lee, Chang-Woo
    • Proceedings of the KWS Conference
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    • 2009.11a
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    • pp.77-77
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    • 2009
  • ELV(; End of Life Vehicles)를 비롯한 최근 환경 동향은 자동차 전장 모듈에 대하여 다양한 무연 솔더 적용을 요구하고 있다. 특히 자동차 엔진룸과 트랜스미션은 가동 중 고온 및 진동의 지속적인 영향을 받기 때문에 이와 유사한 환경에서의 신뢰성 연구가 필요한 시점이다. 이에 본 연구에서는 Sn3.5Ag, Sn0.7Cu, Sn5.0Sb 솔더 조성에 대하여 복합환경 조건하에서 접합부 신뢰성을 평가하였다. 복합환경을 구현하기 위하여 $-40{\sim}150^{\circ}C$ 범위의 온도 사이클과 랜덤 진동을 동시에 인가하였으며, 진동 가속도 3G, 진동주파수는 10~1000Hz 로 설정하여 자동차 환경을 충족하였다. 복합시험의 1 cycle 은 20 시간이며, 총 120 시간의 시험 동안 진동의 영향 및 진동과 고온이 동시에 작용하였을 경우의 영향에 대해 비교하였다. 테스트 모듈 제작을 위해 450 um 의 솔더볼이 적용되었으며, 각 조성의 솔더볼을 이용하여 BGA test chip 제작하였고, 제작된 BGA test chip 은 다시 daisy chain PCB 위에 실장 및 리플로우 공정을 통해 접합되었다. 테스트 동안 In-situ 로 저항의 변화를 관찰하여 파단의 유무를 판단하였고 전자주사현미경을 통해 파괴 기전을 평가하였다. 복합시험 시간에 따른 전단강도를 측정하였으며, 각 조성에 대하여 상이한 전단강도 변화를 관찰하였다. 계면 IMC 형상은 전단강도 변화에 영향을 주었으며, 특히 높은 온도가 IMC 성장을 촉진시켜 전단강도 감소에 영향을 주었다. 본 복합환경 시험 조건에서는 Sn0.7Cu 가 가장 안정적이었으며, 파단면을 관찰한 결과 연성파괴 모드가 관찰되었다.

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The Effect of Abnormal Intermetallic Compounds Growth at Component on Board Level Mechanical Reliability (컴포넌트에서의 비정상적인 금속간화합물 성장이 보드 레벨 기계적 신뢰성에 미치는 영향)

  • Choi, Jae-Hoon;Ham, Hyon-Jeong;Hwang, Jae-Seon;Kim, Yong-Hyun;Lee, Dong-Chun;Moon, Jeom-Ju
    • Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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    • v.15 no.2
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    • pp.47-54
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    • 2008
  • In this paper, we studied how and why did abnormal IMC growth at component affect on board level mechanical reliability. First, interfacial reactions between Sn2.5Ag0.5Cu solder and electrolytic Ni/Au UBM of component side were investigated with reflow times and thermal aging time. Also, to compare mechanical reliability of component level, shear energy was evaluated using the ball shear test conducted with variation of shear tip speed. Finally, to evaluate mechanical reliability of board level, we surface-mounted component fabricated with each condition on PCB side. After conducting of 3 point bending test and impact test, we confirmed solder joint crack mode using cross-sectioning and dye & pry penetration method.

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Reliability Estimation of Lead and Lead-free Solder Used in BGA Packages (BGA 패키지에 사용된 유/무연 솔더의 신뢰성 평가)

  • Lee Ouk Sub;Hur Man Jae;Myoung No Hoon;Kim Dong Hyeok
    • Journal of Applied Reliability
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    • v.5 no.3
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    • pp.327-342
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    • 2005
  • 전자 패키지가 열을 받을 때 회로기판과 칩의 열팽창계수 차이에 의해 발생되는 응력은 솔더 조인트의 파손에 영향을 미친다. 본 연구에서는 이 영향을 정량적으로 규명하기 위하여 열충격시험기를 이용해 얻어진 솔더 조인트의 전기저항 변화와 수명과의 상관관계를 규명하였고, BGA솔더 조인트의 수명을 정량적으로 도출하였다. 또한 Sn-3.5Ag-0.5Cu 무연 솔더와 63Sn-37Pb 유연 솔더를 위의 실험에 동시에 적용시켜 건전성을 FORM(first-order reliability method)과 Weibull Function Model을 이용해 비교하였다.

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Disassembly of the Package/PCB on Wasted LED Light and their Characterizations (LED 조명 모듈에 장착된 패키지/PCB의 분리 및 특성)

  • Seunghyun Kim;Ha Bich Trinh;Taehun Son;Jaeryeong Lee
    • Resources Recycling
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    • v.32 no.6
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    • pp.3-9
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    • 2023
  • Separation of LED packages from PCBs and analysis of the adhesive components was conducted to enhance the recycling potential of LED modules. LED package was separated from PCBs using heat treatment under optimal conditions: temperature of above 250 ℃ and time of 20 minutes. The separation equipment can be established using a hot air injector with controlling the rotational speed of the internal screw. The separation efficiency of each type of substrate (aluminum and glass fiber) was investigated with the thickness range of the adhesive materials (0.25-0.30 and 0.30-0.35 mm). Under the optimal conditions, the efficiency can reach to 97.5% for both types of substrates with adhesive materials of thickness 0.25~0.30mm. Characterization of the residual adhesive substances from the separated LED package and PCB using microwave digestion and ICP analysis showed that the residue contained of 95% of Sn, less than 5% of Cu and Ag.