We describe the DuPont Displays full color OLED printing and materials technologies. The process is more cost-effective and scalable than thermal evaporation through shadow masks. The materials lifetime is sufficient for most portable applications and is nearing that required for stationary displays. Recently, 4.3" WQVGA displays were demonstrated.
Journal of the Korean Society for Precision Engineering
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v.23
no.3
s.180
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pp.56-60
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2006
A high-resolution shadow mask, or called a nanostencil was fabricated for high resolution lithography. This high-resolution shadowmask was fabricated by a combination or MEMS processes and focused ion beam (FIB) milling. 500 nm thick and $2{\times}2mm$ large membranes wore made on a silicon wafer by micro-fabrication processes of LPCVD, photolithography, ICP etching and bulk silicon etching. A subsequent FIB milling enabled local membrane thinning and aperture making into the thinned silicon nitride membrane. Due to the high resolution of the FIB milling process, nanoscale apertures down to 70 nm could be made into the membrane. By local deposition through the apertures of nanostencil, nanoscale patterns down to 70 nm could be achieved.
Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference
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2004.10a
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pp.871-874
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2004
Fabrication of a high-resolution shadow mask, or called nanostencil, is presented. This high-resolution shadowmask is fabricated by a combination of MEMS processes and focused ion beam (FIB) milling. 500 nm thick and 2x2 mm large membranes are made on a silicon wafer by micro-fabrication processes of LPCVD, photolithography, ICP etching and bulk silicon etching. Subsequent FIB milling enabled local membrane thinning and aperture making into the thinned silicon nitride membrane. Due to high resolution of FIB milling process, nanoscale apertures down to 70 nm could be made into the membrane.
Journal of the Korean Society for Precision Engineering
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v.28
no.2
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pp.245-250
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2011
A high-resolution shadow mask, a nanostencil, is widely used for high resolution lithography. This high-resolution shadowmask is often fabricated by a combination of MEMS processes and focused ion beam (FIB) milling. In this study, FIB milling on 500-nm-thin SiN membrane was tested and characterized. 500 nm thick and $2{\times}2$ mm large membranes were made on a silicon wafer by micro-fabrication processes of LPCVD, photolithography, ICP etching and bulk silicon etching. A subsequent FIB milling enabled local membrane thinning and aperture making into the thinned silicon nitride membrane. Due to the high resolution of the FIB milling process, nanoscale apertures down to 60 nm could be made into the membrane. The nanostencil could be used for nanoscale patterning by local deposition through the apertures.
A $50{\times}50{\mu}m^2$ aluminum micromirror array is fabricated using surface micromachining technology. $50{\times}50$ micromirrors are arrayed two dimensionally. The micromirror plate is supported by a vertical spring structure that is placed underneath the mirror plate. When the mirror plates reflect a light, the micromirror array un have large effective reflecting area. Fabrication of vertical spring uses only one mask and shadow evaporation process.
Journal of Advanced Marine Engineering and Technology
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v.19
no.3
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pp.9-23
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1995
To analyze the spray and flame in D.I. diesel engine, the visualizing methods by schlieren photograph and diffused background illumination photograph with high speed camera are applied to optically accessible D.I.diesel engine. Wcaporating spray, spray droplets and brightness flame are taken with high speed camera by visuallizing method in accordance with various suction air temperature and injection time. The spray and flame image on the film was analyzed by image analyzer. The optically accessible D.I. diesel engine had the similar pressure characteristic to the real D.I. diesel engine. Experimental results showed that shadow areas of the evaporating spray were extended at higher suction air temperature, spray droplets had a max. Penetration length and their penetrating patterns were dependent on the surrounding gas temperature, and flame size after ignition was largely governed by the evaporated fuel quantity at ignition point and by the surrounding gas condition due to piston motion.
Journal of Electrical Engineering and information Science
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v.3
no.2
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pp.245-250
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1998
Novel fabrication process of vertical spring for micro mirror array is proposed. The proposed fabrication process adopts a shadow evaporation process using shielding screen structure on top of the sacrificial layer. The 50${\times}$50 micro mirror arrays are fabricated using the proposed process and ceramic packaged. The static and dynamic characteristics of mirror are measured. The mirror plate touches substrate at 16V and the response time of about 16.8 ${\mu}\textrm{s}$. The resonant frequency of mirror is 16kHz. The spring thickness is calculated from static characteristic to be 1075${\AA}$.
Journal of the Korean Society of Manufacturing Process Engineers
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v.5
no.3
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pp.11-16
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2006
A new method to fabricate metal electrodes on side wall of the microchannel is presented. Electrical signal can be measured by the metal electrodes on channel side wall when microparticles pass through a polymer microchannel. 3 dimensional metal electrodes on channel side wall could be fabricated by local deposition of metal through a shadowmask and inclined evaporation. The polymer microchannel with side wall electrodes could be precisely aligned onto metal contact patterns on pyrex glass. The impedance measurement test showed possibility of electrical signal measurement using the fabricated device.
Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
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v.9
no.2
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pp.212-216
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1999
SiC(3C) photodiodes (PDs) were fabricated on p-type Si(111) substrates using chemical vapor deposition (CVD) technique by pyrolyzing tetramethylsilane (TMS) with $H_{2}$ carrier gas. Electrical properties of SiC(3C) were investigated by Hall measurement and current-voltage (I-V) characteristics. SiC(3C) layers exhibited n-type conductivity. Ohmic contact was formed by thermal evaporation Al metal through a shadow-mask. The optical gain $(G_{op})$ of the SiC(3C)/Si PD was measured as a function of the incident wavelength. For the analysis of the photovoltaic detection of the Sic(3C) n/p PD, the spectral response (SR) has calculated by using the electrical parameters of the SiC(3C) layer and the geometric structure of the PD. The peak response calculated for properly chosen parameters was about 0.75 near 550 nm. We expect a good photoresponse in the SiC(3C) heterostructure for the wavelength range of 400~600 nm. The SiC(3C) photodiode can detect blue and near ultraviolet (UV) radiation.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2016.02a
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pp.257-257
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2016
최근에 메모리의 초고속화, 고집적화 및 초절전화가 요구되면서 resistive random access memory (ReRAM), ferroelectric RAM (FeRAM), phase change RAM (PRAM)등과 같은 차세대 메모리 기술이 활발히 연구되고 있다. 다양한 메모리 중에서 특히 resistive random access memory (ReRAM)는 빠른 동작 속도, 낮은 동작 전압, 대용량화와 비휘발성 등의 장점을 가진다. ReRAM 소자는 절연막의 저항 스위칭(resistance switching) 현상을 이용하여 동작하기 때문에 SiOx, AlOx, TaOx, ZrOx, NiOx, TiOx, 그리고 HfOx 등과 같은 금속 산화물에 대한 연구들이 활발하게 이루어지고 있다. 이와 같이 다양한 산화물 중에서 AlOx는 ReRAM의 절연막으로 적용되었을 때, 우수한 저항변화특성과 안정성을 가진다. 하지만, AlOx 박막을 형성하기 위하여 기존에 많이 사용되어지던 PVD (physical vapour deposition) 또는 CVD (chemical vapour deposition) 방법에서는 두께가 균일하고 막질이 우수한 박막을 얻을 수 있지만 고가의 진공장비 사용 및 대면적 공정이 곤란하다는 문제점이 있다. 한편, 용액 공정 방법은 공정과정이 간단하여 경제적이고 대면적화가 가능하며 저온에서 공정이 이루어지는 장점으로 많은 관심을 받고 있다. 본 연구에서는 sputtering 방법과 용액 공정 방법으로 형성한 AlOx 기반의 ReRAM에서 메모리 특성을 비교 및 평가하였다. 먼저, p-type Si 기판 위에 습식산화를 통하여 SiO2 300 nm를 성장시킨 후, electron beam evaporation으로 하부 전극을 형성하기 위하여 Ti와 Pt를 각각 10 nm와 100 nm의 두께로 증착하였다. 이후, 제작된 AlOx 용액을 spin coating 방법으로 1000 rpm 10 초, 6000 rpm 30 초의 조건으로 증착하였다. Solvent 및 불순물 제거를 위하여 $180^{\circ}C$의 온도에서 10 분 동안 열처리를 진행하였고, 상부 전극을 형성하기 위해 shadow mask를 이용하여 각각 50 nm, 100 nm 두께의 Ti와 Al을 electron beam evaporation 방법으로 증착하였다. 측정 결과, 용액 공정 방법으로 형성한 AlOx 기반의 ReRAM에서는 기존의 sputtering 방법으로 제작된 ReRAM에 비해서 저항 분포가 균일하지는 않았지만, 103 cycle 이상의 우수한 endurance 특성을 나타냈다. 또한, 1 V 내외로 동작 전압이 낮았으며 104 초 동안의 retention 측정에서도 메모리 특성이 일정하게 유지되었다. 결론적으로, 간단한 용액 공정 방법은 ReRAM 소자 제작에 많이 이용될 것으로 기대된다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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