A study on behavioral analysis and efficient test algorithm for memory with resistive short and open defects (저항성 단락과 개방 결함을 갖는 메모리에 대한 동작분석과 효율적인 테스트 알고리즘에 관한 연구)
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- Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics B
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- v.33B no.7
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- pp.70-79
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- 1996