Sputter deposition followed by surface treatment was studied using reactive RF plasma as a method for preparing titanium oxide $(TiO_2)$ films on the FTO $(SnO_2: F)$ substrate for dye-sensitized solar cells (DSCs). Anatase structure $TiO_2$ films deposited by reactive RF magnetron sputtering under the conditions of $Ar/O_2(5%)$ mixtures, RF power of 600W and substrate temperature of $400^{\circ}C$ were surface-treated by inductive coupled plasma (ICP) with $Ar/O_2$ mixtures at substrate temperature of $400^{\circ}C$, and thus the films were applied to the DSCs. We have chosen a solar cell width as a variable of a large-scaled DSCs and confirmed electric characteristics of an individual cell. As a result, the higher the internal resistance of DSC becomes, the wider the width gets. Internal resistance makes it difficult to collect photoelectron generated from dye. Ultimately up sizing DSC causes the increase of internal resistance and then has a bad effect on the cell characteristics.
Zirconium oxide thin films deposited on the p-type Si(100) substrates by radio-frequency (RF) reactive magnetron sputtering with different plasma gas ratios have been studied by using spectroscopic ellipsometry (SE), atomic force microscopy (AFM), X-ray diffraction (XRD), and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). The deposition of the films was monitored by the oxygen gas ratio which has been increased from 0 to 80%. We found that the thickness and roughness of the zirconium oxide thin films are relatively constant. The XRD revealed that the deposited thin films have polycrystalline phases, Zr(101) and monoclinic $ZrO_2$ ($\bar{1}31$). The XPS result showed that the oxidation states of zirconium suboxides were changed to zirconia form with increasing $O_2$ gas ratio.
Sin, Myeong-Seon;Lee, Gyu-Hang;Choe, Seon-Yong;Jo, Gwang-Seop;Kim, Seong-In
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2016.02a
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pp.233.2-233.2
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2016
Graphite의 순도, 결함, 결정층, 전기저항이 개선을 위하여, 10,000K 이상의 초고온 RF 열플라즈마 처리에 관한 연구를 수행하였다. 방전가스는 Ar을 사용하고, 특성 개선을 위하여 첨가가스로 $H_2$, $CH_4$을 첨가하여 흑연의 열플라즈마 처리에 의한 특성을 고찰하였다. Energy Dispersion Spectroscopy을 이용한 탄소 함량 분석 결과, 75wt% 저급 흑연에 함유된 유무기 불순물은 고온의 플라즈마에 의해 제거되어 99wt% 이상으로 순도가 개선되었고, XRD 및 Raman 분석으로부터 고온 열처리를 통한 탄소원자의 재배열로 흑연의 $sp^2$결함이 감소되고, 결정성이 향상됨을 확인하였다. 또한 열플라즈마로 처리된 흑연입자에 대한 분체저항 측정 결과, $10^{-3}{\Omega}{\cdot}cm$에서 $10{-4}{\Omega}{\cdot}cm$로 감소되었다.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2016.02a
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pp.233.1-233.1
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2016
화학적 방법에 의한 NTE graphite의 박리 또는 전도도 개선을 위한 도핑공정을 수행할 경우, 결함 및 불순물 생성에 의해 재결정화 공정 및 순도 개선을 위한 별도의 공정을 필요로한다. 본 연구에서는 건식 방법으로써 10,000K 이상의 초고온 RF 열플라즈마를 이용하여 in-situ 방법으로 흑연의 박리, 결함 제거, 결정성 향상 및 도핑 공정을 수행하고, 도핑특성을 평가하였다. 질소 도핑을 위하여 암모니아 가스를 첨가하여 NTE graphite를 도핑 처리하였으며, 시뮬레이션을 통하여 반응기 내부의 온도분포를 파악하고, 도핑을 위한 암모니아가스가 분해되어 도핑공정이 수행될 수 있는 투입위치를 결정하였다. 질소 도핑율은 암모니아 가스의 주입위치에서의 온도 및 가스 주입 유량 등의 공정조건에 따라 변화됨을 확인하였고, XPS 분석결과 최대 14.87 atomic%의 도핑율의 결과를 얻었다.
음극에 DLC 필름이 놓여져 있는 용량결합형의 RF 플라즈마 장치에서 Ar가스에 의한 방전에서 발생된 입자의 분포를 레이져 산란에 의하여 관측하였다. 발생된 입자들은 플라즈마와 sheath의 경계면 에서 높은 밀도의 구름을 이루었으며 시간에 따라 주기적인 분포의 변화가 반복되었다, 입자 구름의 발 생은 플라즈마 물성의 변화를 야기하였으며 그 결과로 심한 self-bias 전위의 감소현상이 관측되었다. 입자 구름분포의 시간에 따른 변화와 같은 주기의 self-bias 플라즈마전위의 진동현상이 가열된 fast-scanning langmuir 탐침에 의하여 관측되었다. 이결과는 입자 표면에로의 음전하 누적에 따른 전체 음전하의 이동도 감소에 의한 것으로 해석된다. 또한 방출 분광법에 의하여 입자오염상태의 Ar 플라즈 마와 정상상태의 Ar 플라즈마의 방출 선세기의 변화를 관측하였는데 입자구름 오염시의 2차전자 차폐 현상에 의해 높은 문턱 에너지를 가진 Ar II 선의 세기 감소현상이 나타났다.
Hydrogenated amorphous carbon nitride [a-C:H(N)] films were deposited on pretreated silicon(100) substrate in activated gas phase using. RF plasma-assisted CVD. We measured the FT-IR spectrum to investigate $C{\equiv}N$ stretching mode(nitrile), C-H stretching mode, C-H bending mode, C=C stretching mode C=N(imino) mode, and the EDX to investigate the ratio of N to C(0.25). By the results of FT-IR and EDX spectrum, We confirmed that hydrogenated amorphous carbon nitride films successfully were synthesized by RF-PACVD
Well-aligned multiwall carbon nanotubes (MWCNTs) were prepared at low temperature of 400 $^{\circ}C$ by utilizing a radio frequency plasma-enhanced chemical vapor deposition (rf-PECVD) system. The MWCNTs were treated by an external rf plasma source and an ultra-violet laser in order to modify structural defect of carbon nanotube and to ablate possible contamination on carbon nanotube surface. Structural properties of carbon nanotubes were investigated by using a scanning electron microscopy (SEM), Raman spectroscopy, Fourier transformer Infrared spectroscopy (FTIR) and transmission electron microscope (TEM). In addition, the emission properties of the MWNTs were measured for the application of field emission display (FED) in near future. Various post treatments were found to improve the field emission property of carbon nanotubes.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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1992.11a
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pp.102-105
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1992
Using RF plasma CVD the diamond particles and films were deposited on Si and quartz substrate from $CH_4$-$H_2$ mixed gas. The temperature of substrate was uniformly maintained by inserting matal plate between substrate and substrate holder. As a result, the deposited diamond particles were mainly twins. The deposited diamond films were identified by SEM, XRD and Raman spectroscopy.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.19
no.11
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pp.1010-1013
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2006
Hydrogenated Diamond-like carbon (DLC) films were Prepared by the radio frequency plasma enhanced chemical vapor deposition (RF PECVD) method on silicon substrates using methane $(CH_4)$ and hydrogen $(H_2)$ gas for the application to solid lubricant of MEMS devices. We have checked the influence of varying RF power on tribological properties of DLC film. We have checked their performance as two kinds of method such as FFM (Friction Force Microscope) and BOD (Ball-on Disk) measurement. The friction coefficients and the contact number of cycles to steady state decreased as the increase of RF power with FFM and BOD measurement, respectively.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.11
no.7
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pp.552-556
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1998
Diamond thin films were deposited on Si substrate using $CH_4 and H_2$mixed gas by RF plasma CVD. Prior to deposition, the substrate surface was mechanically scratched with the diamond paste of $3{\mu}m$ to improve the density of nucleation sites. The microstructure of diamond films deposited with methane(0.5%~2%) at the reaction pressure ranging from 20 torr to 50torrr were studied by a scanning electron microscope. It was observed in the deposited diamond films that the nucleation density decreased and crystallinity increased with decreasing the methane concentration. However, the nucleation density and crystallinity were decreased with decreasing the process pressure.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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