Kim, Byeon-Gi;Park, Jae-Beom;You, Kyeong-Sang;Rho, Dae-Seok
The Transactions of The Korean Institute of Electrical Engineers
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v.60
no.8
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pp.1485-1491
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2011
This paper deals with the technical problems for the protection devices, by simulating test facilities of protection coordination for Photovoltaic systems. In order to analyze the operation characteristics for the protection devices in the case that the Photovoltaic systems with bi-directional power supply are located in the feeder, this paper proposes the test facilities composed of model distribution system, protection device and model Photovoltaic systems. By performing the simulation for operation characteristics for the protection devices based on the test facilities, this paper presents the malfunction mechanism for the protection devices. The test results show that this paper is practical and effective for the technical guideline for the Photovoltaic systems.
Numerous motivational methodologies were analyzed with respect to improvement of the use of personal protective equipment (PPE) in the industrial field. Common industrial protective devices under consideration included hearing protection devices, respiratory protection devices, eye and face protection devices, etc. It was found that several of such methods could readily be implemented in the real world to protect workers from hazardous industrial sterssors, such as intense noises, toxic air contaminants, and other dangerous industrial objects (e,g., chemicals). Current research issues and recommendations for future research are addressed.
International Journal of Internet, Broadcasting and Communication
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v.5
no.1
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pp.18-22
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2013
We introduce, in this paper, a novel approach of protection mechanism for data which are transmitted not only between the networked devices but also between the digital media devices. As the devices are getting more powerful and more storage capacity, they can process the encoded/encrypted data autonomously. However, all devices must know the secret key that used to encrypt data, and also use secure method to distribute that key. Moreover, there are no protection mechanisms supporting end-to-end copy protection which result in the fact that the data passed through various devices can be manipulated or captured. Therefore, we propose a RFID-based key distribution and protection mechanism to resolve these problems.
New 42-volt automotive electrical systems can provide significant improvements in vehicle performance and fuel economy. It is crucial to provide protection against load dump and other overvoltage transients in 42-volt systems. While advanced active control techniques are generally considered capable of providing such protection, the use of passive transient voltage suppression (TVS) devices as a secondary or supplementary protection means can significantly improve design flexibility and reduce system costs. This paper examines the needs and options for passive TVS devices for 42-volt applications. The limitations of the commonly available automotive TVS devices, such as Zener diodes and metal oxide varistors (MOV), are analyzed and reviewed. A new TVS device concept, based on power MOSFET and thin-film polycrystalline silicon back-to-back diode technology, is proposed to provide a better control on the clamp voltage and meet the new 42-volt specification. Both experimental and modeling results are presented. Issues related to the temperature dependence and energy absorbing capability of the new TVS device are discussed in detail. It is concluded that the proposed TVS device provides a cost-effective solution for load dump protection in 42-volt systems.
Journal of the Korean Institute of Illuminating and Electrical Installation Engineers
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v.25
no.3
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pp.33-39
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2011
In this paper, the protection coordination of the protection devices such as the over-current relay (OCR) and recloser (R/C) with superconducting fault current limiter (SFCL) was investigated in a KEPCO grid. The operation time and protection coordination of the protection devices were changed by the SFCL. Through the analysis for protection coordination between the SFCL and the protection devices in the KEPCO grid, the operation time was observed to depend on the impedance of the SFCL.
Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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v.47
no.4
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pp.75-87
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2010
For two input-protection schemes suitable for RF ICs utilizing the thyristor and diode protection devices, which can be fabricated in standard CMOS processes, we attempt an in-depth comparison on HBM ESD robustness in terms of lattice heating inside protection devices and peak voltages developed across gate oxides in input buffers, based on DC, mixed-mode transient, and AC analyses utilizing a 2-dimensional device simulator. For this purpose, we construct an equivalent circuit for an input HBM test environment of a CMOS chip equipped with the input ESD protection circuits, which allows mixed-mode transient simulations for various HBM test modes. By executing mixed-mode simulations including up to six active protection devices in a circuit, we attempt a detailed analysis on the problems, which can occur in real tests. In the procedure, we suggest to a recipe to ease the bipolar trigger in the protection devices and figure out that oxide failure in internal circuits is determined by the junction breakdown voltage of the NMOS structure residing in the protection devices. We explain the characteristic differences of two protection schemes as an input ESD protection circuit for RF ICs, and suggest valuable guidelines relating design of the protection devices and circuits.
For two input ESD protection schemes utilizing the NMOS protection device or the lvtr_thyristor protection device, which is suitable for high-frequency CMOS ICs, we attempt an in-depth comparison study on the HBM ESD protection level in terms of lattice heating inside the protection devices and the peak voltage applied to the gate oxides in the input buffer through DC, mixed-mode transient, and AC analyses utilizing the 2-dimensional device simulator. For this purpose, we suggest a method for the equivalent circuit modeling of the input HBM test environment for the CMOS chip equipped with the input ESD protection circuit. And by executing mixed-mode simulations including up to four protection devices and analyzing the results for five different test modes, we attempt a detailed analysis on the problems which can be occurred in a real HBM test. In this procedure, we explain about the strength and weakness of the two protection schemes as an input protection circuit for high-frequency ICs, and suggest guidelines relating to the design of the protection devices.
Journal of the Korea Institute of Information Security & Cryptology
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v.25
no.5
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pp.1257-1268
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2015
Multi-functional devices was originally an equipment performing image processing, but function transmitting image data digitized by combining fax function and function of network are added and it was rapidly developed. Also, functions of internet application, application expansion, remote sharing and image treatment were added to multi-functional devices. But, multi-functional devices can cause security vulnerability such as data exposure, eavesdropping, etc. because of the threatening by network connection. Therefore, common criteria of multi-functional devices are necessary, but there is no protection profile for multi-functional devices now. Therefore, concrete standards of evaluation are not applied to evaluate secure for products, so it was difficult to maintain uniformity of evaluation quality. Therefore, this paper developed protection profile for multi-functional devices based on common criteria of evaluation so as to analyze threats of multi-functional devices and use secure multi-functional devices.
Journal of the Korean Institute of Illuminating and Electrical Installation Engineers
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v.26
no.4
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pp.28-34
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2012
Installing surge protection devices for a low-voltage system is important to ensure the survival of electric or electronic devices and systems. If surge protection devices (SPD) are installed without consideration of the concept of lightning protection zones, the equipment to be protected might be damaged despite the correct energy coordination of SPDs. This damage is induced by the reflection phenomena on the cable connecting an external SPD and the load protected. These reflection phenomena depend on the characteristics of the output of the external SPD, the input of the loads, and the cables between the load and the external SPD. Therefore, the SPD has an effective protection distance under the condition of the specific load and the specific voltage protection level of SPD. In this paper, PSCAD/EMTDC software is used to simulate the residual voltage characteristics of SPD Entering the low-voltage device. And by applying a certain voltage level, the effective protection distances of SPD were analyzed according to the each load and length of connecting cable, and the effectiveness of SPD were verified.
The Transactions of The Korean Institute of Electrical Engineers
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v.61
no.7
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pp.966-973
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2012
In microgrid demonstration site, distributed generations can make bidirectional power flows on the system. If an accident occurs, the fault current from the inverter based distributed generation is small. However, the conventional protection scheme in distribution network is designed to operate at high fault current. This means that the traditional protection of distribution network is no longer applicable and new protection methods must be developed. In this paper, for two cases, algorithms for protection coordination of demonstration site is proposed and verified through PSCAD/EMTDC simulation. In first case, protection devices are assumed to have the abilities of directional relaying and communication. In second case, protection devices do not have those abilities. Proposed protection coordination algorithms detect the fault locations and protect the microgrid fairly well.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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