Kim, Dong-Lim;Kim, Gun-Hee;Chang, Hyun-Woo;Ahn, Byung-Du;Lee, Sang-Yeol
Proceedings of the KIEE Conference
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2006.10a
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pp.53-54
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2006
Arsenic doped p-type ZnO thin films have been realized on intrinsic (100) GaAs substrate by RF magnetron sputtering and thermal annealing treatment. p-Type ZnO exhibits the hole concentration of $9.684{\times}10^{19}cm^3$, resistivity of $2.54{\times}10^{-3}{\Omega}cm$, and mobility of $25.37\;cm^2/Vs$. Photoluminescence (PL) spectra of As doped p-type ZnO thin films reveal neutral acceptor bound exciton ($A^{0}X$) of 3.3437 eV and a transition between free electrons and acceptor levels (FA) of 3.2924 eV. Calculated acceptor binding energy ($E_A$) is about 0.1455 eV. Thermal activation and doping mechanism of this film have been suggested by using X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). p-Type formation mechanism of As doped ZnO thin film is more related to the complex model, namely, $As_{Zn}-2V_{Zn}$, in which the As substitutes on the Zn site, rather than simple model, Aso, in which the As substitutes on the O site. ZnO-based p-n junction was fabricated by the deposition of an undoped n-type ZnO layer on an As doped p-type ZnO layer.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2011.02a
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pp.91-91
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2011
박막태양전지의 높은 효율개선을 위해 TCO층과 p-layer 사이에 buffer layer를 넣어 Voc와 FF를 개선하는 연구가 진행되고 있다. 이에 buffer layer의 활성화 정도를 높이기 위해 p-layer을 최적화 시키고자한다. 이 실험에서 a-Si:B에 N2O를 도핑시켜 Bandgap Energy 2.0 eV, Activation Energy 0.4 eV인 a-SiOx:B 막을 제작하여 buffer layer로 사용하였고 이 buffer layer에 의한 cell의 효율 향상을 최적화 하기위해 ASA simulation을 이용해 p-layer의 Bandgap Energy와 Activation Energy를 가변 하여 보았다. 실험결과 p-layer의 Bandgap Energy 1.95 eV에서 buffer layer와 p-layer사이에서의 barrier가 최소가 됨을 확인 할 수 있었고 Actication Energy 0.5 eV에서 가장 높은 Voc를 가짐을 알 수 있었다. 본 연구를 통해 p-layer의 Bandgap Energy 1.95 eV, Activation Energy 0.5 eV에서 buffer layer를 활성화시키기 위한 p-layer의 최적화 조건을 구현해 볼 수 있었다.
$SrBi_{22.4}Ta_2O_9$ (SBT) thin films of 70~150 nm thickness were prepared on platinized silicon substrates by Liquid Source Misted Chemical Deposition (LSMCD) process, and their microstructure, feroelectric and leakage current characteristics were investigated. By annealing at $800^{\circ}C$ for 1 hour in oxygen ambient, SBT films were fully crystallized to the Bi layered perovskite structure without preferred orientation. The grain size of the LSMCD- derived SBT films was about 100nm, and was not varied with the film thickness. $2P_r$ and $E_c$ of the SBT films increased with decreasing the film thickness, and the 70nm-thick SBT film exhibited $2P_r$ of 17.8 $\mu$C/$\textrm{cm}^2$ and $E_c$ of 74kV/cm at applied voltage of 5V. Within the film thickness range of 70~150nm, the relative dielectric permittivity of the LSMCD-derived SBT film decreased with decreasing the film thickness. Leakage current densities lower than $10^{-7}\textrm{A/cm}^2$ at 5V were observed in the SBT films thicker than 125nm.
To examine the effects of P.E. film and rice straw mulching on fall grown potato(Shimabara cultivar) in the middle region of Korea, sprouted seed tuber pieces were transplanted with six kinds of mulching treatments on 24th July and harvested on 25th October. P.E. film mulching from transplanting resulted the perfect rot of transplanted seed pieces due to the excessive high soil temperature (noon soil temperature of about 4$0^{\circ}C$ continued until the middle of August). P.E. film mulching from 15th September to harvest increased the marketable tuber yields by 35% due to the raising of soil temperature by 1-3$^{\circ}C$ and maintaining of available soil moisture in dry season. Rice straw (whole or cut in 10cm length) mulching lowered the soil temperature in hot season and raised it in cool season and maintained available soil moisture in dry season. Therefore better emergence, growth and yields were induced. Effects of whole straw, whole growing season and thicker mulching were greater than cut straw, half growing season and thinner mulching. 6cm mulching of whole or cut straw during whole growing season resulted the increasing of marketable tuber yields by 56 or 48%.
In the red pepper field under polythylene film mulching(P.E.-mulching) culture, the weed emergence was completely inhibited by black P.E.-mulching. The emergence in clear P.E.-mulching decreased 90% compared to that in non-mulching. Weeding effect was high in the order of pendimethalin, diphenamid, alachlor and napropamide. The effect of herbicides was higher in clear P.E.-mulching than in non-mulching. Plant height and number of branches increased in the order of clear P.E.-, black P.E.-mulching, while the yield between black P.E.- and clear P.E.-mulching was not different. The herbicides had no effect on the growth and yield. In the peanut field, weed emergence was 80% lower in clear P.E.-mulching than in non-mulching. Weeding effect was excellent in the plot applied with alachlor, napropamide and diphenamid. The total number of branches, main stem height and shoot weight were 2.0, 1.7 and 2.4 times greater in clear P.E.-mulching than in non-mulching, respectively. Peanut yield was about 38% higher under clear P.E.-mulching than under non-mulching. The herbicides had no effect on the growth and yield. In the sesame field, rate of weed emergence was 10 times lower in clear P.E.-mulching than in non-mulching. Weeding effect of alachlor, napropamide and diphenamid was higher under clear P.E.-mulching than under non-mulching. Germination percentage of sesame greatly decreased in non-mulching compared with in clear P.E.-mulching. The germination was inhibited by the treatment of herbicides. The inhibition effect was increased in the order of alachlor, napropamide, and diphenamid. The initial crop injury in treatment of herbicides was greater in non-mulching than in clear P.E.-mulching. The crop recovered from the injury and exhibited regrowth in clear P.E.-mulching except the alachlor treatment, but there was no recovery in non-mulching. There was no significant difference yield between herbicide treatment and hand weeding in non-mulching. Also, no significant difference was obseorbed between napropamide and diphenamid treatment and hand weeding in clear P.E.-mulching.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2009.06a
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pp.319-320
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2009
In this study, high-quality Al-N doped p-type ZnO thin films were deposited on n-type Si (100) wafer or Si coated with buffer layer by DC magnetron sputtering in the mixture of $N_2$ and $O_2$ gas. The target was ceramic ZnO mixed with $Al_2O_3$ (2 wt%). The p-type ZnO thin film showed higher carrier concentration $2.93\times10^{17}cm^{-3}$, lower resistivity of $5.349\;{\Omega}cm$ and mobility of $3.99\;cm^2V^{-1}S^{-1}$, respectively. According to PL spectrum, the Al donor energy level depth ($E_d$) of Al-N codoped p-type ZnO film was reduced to about 51 meV, and the N acceptor energy level depth ($E_a$) was reduced to 63 meV, respectively.
Park, Jin-Joo;Kim, Young-Kuk;Lee, Sun-Wha;Lee, Youn-Jung;Yi, Jun-Sin;Hussain, Shahzada Qamar;Balaji, Nagarajan
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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v.13
no.4
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pp.192-195
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2012
We reported diborane ($B_2H_6$) doped wide bandgap hydrogenated amorphous silicon oxide (p-type a-SiOx:H) films prepared by using silane ($SiH_4$) hydrogen ($H_2$) and nitrous oxide ($N_2O$) in a radio frequency (RF) plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD) system. We improved the $E_{opt}$ and conductivity of p-type a-SiOx:H films with various $N_2O$ and $B_2H_6$ ratios and applied those films in regards to the a-Si thin film solar cells. For the single layer p-type a-SiOx:H films, we achieved an optical band gap energy ($E_{opt}$) of 1.91 and 1.99 eV, electrical conductivity of approximately $10^{-7}$ S/cm and activation energy ($E_a$) of 0.57 to 0.52 eV with various $N_2O$ and $B_2H_6$ ratios. We applied those films for the a-Si thin film solar cell and the current-voltage characteristics are as given as: $V_{oc}$ = 853 and 842 mV, $J_{sc}$ = 13.87 and 15.13 $mA/cm^2$. FF = 0.645 and 0.656 and ${\eta}$ = 7.54 and 8.36% with $B_2H_6$ ratios of 0.5 and 1% respectively.
A simulation model of plastic greenhouse was developed to evaluate the insulation effect of thermal curtain. Change in thermal environment with and without thermal curtain was verified through experiments, which agreed with the predicted values satisfactorily. About 18 to 20% of energy was saved in the plastic greenhouse by employing the P.E. film thermal curtain. Employing P.E. film thermal curtain also raised the temperature of the covering film and inner air by $1^{\circ}C$ and $1.5{\sim}1.8^{\circ}C$, respectively.
A simple method to measure the elastic modulus E and Poisson's ratio v of diamod-like carbon (DLC) films deposited on Si wafer was suggested. Using the anisotropic etching technique of Si we could make the edge of DLC overhang free from constraint of Si substrate. DLC film is chemically so inert that we could not on-serve any surface damage after the etching process. The edge of DLC overhang free from constraint of Si substrate exhibited periodic sinusoidal shape. By measuring the amplitude and the wavelength of the sinu-soidal edge we could determine the stain of the film required to adhere to the substrate. Since the residual stress of film can be determine independently by measurement of the curvature of film-substrate com-posite we could calculated the biaxial elastic modulus E/(1-v) using stress-strain relation of thin films. By comparing the biaxial elastic modulus with the plane-strain modulus E/(1-{{{{ { v}^{2 } }}) measured by nano-in-dentation we could further determine the elastic modulus and Poisson's ratio independently. This method was employed to measure the mechanical properties of DLC films deposited by {{{{ { {C }_{6 }H }_{6 } }} rf glow discharge. The was elastic modulus E increased from 94 to 169 GPa as the {{{{ { V}_{ b} / SQRT { P} }} increased from 127 to 221 V/{{{{ {mTorr }^{1/2 } }} Poisson's ratio was estimated to be abou 0.16∼0.22 in this {{{{ { V}_{ b} / SQRT { P} }} range. For the {{{{ { V}_{ b} / SQRT { P} }} less than 127V/{{{{ {mTorr }^{1/2 } }} where the plastic deformation can occur by the substrate etching process however the present method could not be applied.
Kim, Heejung;Jang, Juyeon;Baek, Seungsin;Yi, Junsin
한국신재생에너지학회:학술대회논문집
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2011.11a
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pp.64.2-64.2
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2011
a-Si 박막 태양전지는 a-Si:H을 유리 기판 사이에 주입해 만드는 태양전지로, 뛰어난 적용성과 경제성을 지녔으나 c-Si 태양전지에 비해 낮은 변환 효율을 보이는 단점이 있다. 변환 효율을 높이기 위한 연구 방법으로는 a-Si 박막 태양전지 단일cell 제작 시 high Bandgap을 가지는 p-layer를 사용함으로 높은 Voc와 Jsc의 향상에 기여할 수 있는데, 이 때 p-layer의 defect 증가와 activation energy 증가도 동시에 일어나 변환 효율의 증가폭을 감소시킨다. 이를 보완하기 위해 본 실험에서는 p-layer에 기존의 p-a-Si:H를 사용함과 동시에 high Bandgap의 buffer layer를 p-layer와 i-layer 사이에 삽입함으로써 그 장점을 유지하고 높은 defect과 낮은 activation energy의 영향을 최소화하였다. ASA 시뮬레이션을 통해 a-Si:H보다 high Bandgap을 가지는 a-SiOx 박막을 사용하여 p-type buffer layer의 두께를 2nm, Bandgap 2.0eV, activation energy를 0.55eV로 설정하고, i-type buffer layer의 두께를 2nm, Bandgap 1.8eV로 설정하여 삽입하였을 때 박막 태양전지의 변환 효율 10.74%를 달성할 수 있었다. (Voc=904mV, Jsc=$17.48mA/cm^2$, FF=67.97).
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[게시일 2004년 10월 1일]
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